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公开(公告)号:CN111366811B
公开(公告)日:2022-06-21
申请号:CN202010195055.8
申请日:2020-03-19
Applicant: 北京广利核系统工程有限公司
Abstract: 本发明涉及一种电子元器件的集成式自动检验装置及方法,属于元器件检测技术领域;装置包括SMD器件备检单元和插装器件备检单元,控制器和自动检验仪器;控制器用于识别SMD器件备检单元和插装器件备检单元是否安装备检器件;控制备检单元上安装的备检器件与自动检验仪器连接进行检验;SMD器件备检单元用于安装备检的SMD盘件,在控制器的控制下,依次使SMD盘件中的每个SMD器件连接自动检验仪器;插装器件备检单元用于安装多个备检的插装器件,在控制器的控制下,将多个插装器件并行连接到自动检验仪器。本发明可自动检验SMD电阻、电容,插装二极管、三极管器件等,缩短了检验时间,降低破坏整盘器件造成浪费资源的风险。
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公开(公告)号:CN104200061A
公开(公告)日:2014-12-10
申请号:CN201410373737.8
申请日:2014-07-31
Applicant: 北京广利核系统工程有限公司 , 中国广核集团有限公司
IPC: G06F19/00
Abstract: 本发明提供了一种第三代核电站压水堆堆芯功率计算方法,根据现场测量的信号,计算出蒸汽发生器热功率WSG、其他热源输入的热功率WΔPr以及测量仪表、采集板卡、计算公式等的相对不确定度uWR后,再根据公式WR=WSG-WΔPr+uWR计算出压水堆堆芯的功率WR。本发明提供的第三代压水堆堆芯的功率的计算方法可用于核电站的保护系统的高功率水平保护功能和反应堆热功率的校核,并且在简化计算公式的基础上,进一步提高了计算精度。
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公开(公告)号:CN111366811A
公开(公告)日:2020-07-03
申请号:CN202010195055.8
申请日:2020-03-19
Applicant: 北京广利核系统工程有限公司
Abstract: 本发明涉及一种电子元器件的集成式自动检验装置及方法,属于元器件检测技术领域;装置包括SMD器件备检单元和插装器件备检单元,控制器和自动检验仪器;控制器用于识别SMD器件备检单元和插装器件备检单元是否安装备检器件;控制备检单元上安装的备检器件与自动检验仪器连接进行检验;SMD器件备检单元用于安装备检的SMD盘件,在控制器的控制下,依次使SMD盘件中的每个SMD器件连接自动检验仪器;插装器件备检单元用于安装多个备检的插装器件,在控制器的控制下,将多个插装器件并行连接到自动检验仪器。本发明可自动检验SMD电阻、电容,插装二极管、三极管器件等,缩短了检验时间,降低破坏整盘器件造成浪费资源的风险。
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