一种电子元器件的集成式自动检验装置及方法

    公开(公告)号:CN111366811B

    公开(公告)日:2022-06-21

    申请号:CN202010195055.8

    申请日:2020-03-19

    Abstract: 本发明涉及一种电子元器件的集成式自动检验装置及方法,属于元器件检测技术领域;装置包括SMD器件备检单元和插装器件备检单元,控制器和自动检验仪器;控制器用于识别SMD器件备检单元和插装器件备检单元是否安装备检器件;控制备检单元上安装的备检器件与自动检验仪器连接进行检验;SMD器件备检单元用于安装备检的SMD盘件,在控制器的控制下,依次使SMD盘件中的每个SMD器件连接自动检验仪器;插装器件备检单元用于安装多个备检的插装器件,在控制器的控制下,将多个插装器件并行连接到自动检验仪器。本发明可自动检验SMD电阻、电容,插装二极管、三极管器件等,缩短了检验时间,降低破坏整盘器件造成浪费资源的风险。

    一种电子元器件的集成式自动检验装置及方法

    公开(公告)号:CN111366811A

    公开(公告)日:2020-07-03

    申请号:CN202010195055.8

    申请日:2020-03-19

    Abstract: 本发明涉及一种电子元器件的集成式自动检验装置及方法,属于元器件检测技术领域;装置包括SMD器件备检单元和插装器件备检单元,控制器和自动检验仪器;控制器用于识别SMD器件备检单元和插装器件备检单元是否安装备检器件;控制备检单元上安装的备检器件与自动检验仪器连接进行检验;SMD器件备检单元用于安装备检的SMD盘件,在控制器的控制下,依次使SMD盘件中的每个SMD器件连接自动检验仪器;插装器件备检单元用于安装多个备检的插装器件,在控制器的控制下,将多个插装器件并行连接到自动检验仪器。本发明可自动检验SMD电阻、电容,插装二极管、三极管器件等,缩短了检验时间,降低破坏整盘器件造成浪费资源的风险。

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