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公开(公告)号：CN110160624B
公开(公告)日：2021-01-12
申请号：CN201910394749.1
申请日：2019-05-13
Applicant: 中国计量大学
IPC: G01H9/00
Abstract: 本发明公开了一种用于三维振动测量的光纤点衍射装置及测量方法，包括：光路模块，产生初始光并分成若干束偏振光至出射端；被测物体，连接光路模块出射端；高速CCD探测器，采集由出射端光信号产生的干涉信息；计算机，连接高速CCD探测器，处理采集的信息。方法包括S01：高速CCD探测器采集由光路模块出射产生的干涉图；S02：对干涉图进行傅里叶变换得到频谱图；S03：将频谱图处理后得到被测物体的相位信息图及被测物体实时三维坐标值；S04：多次采样并处理计算，得到被测物体的振动情况。本发明不仅实现了三维方向上的连续动态测量，而且测量精度高，外界因素对其干扰小。
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公开(公告)号：CN108507495B
公开(公告)日：2019-12-31
申请号：CN201810225433.5
申请日：2018-03-19
Applicant: 中国计量大学
Abstract: 本发明提供一种基于逆向哈特曼检测的自由曲面检测方法，涉及测量技术领域。标定光路系统结构位置参数；建立被测物置为理想面的理想光路系统模型；依据理想光路系统模型，实验测得包含表面误差与结构误差的波前像差；调整理想光路系统模型参数，对测得数数据进行基于低、高阶像差分离优化的两步结构误差校正，得到标准光路系统模型；对标准光路系统模型进行光线追迹，测得只有由被测物表面误差造成的波前像差，计算得到被测物表面误差。本发明解决了现有技术中高精度检测自由曲面不具有通用性的技术问题。本发明有益效果为：对结构误差进行基于泽尼克拟合的两步优化，有效消除系统的结构位置误差，提升了系统检测精度，检测通用化。
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公开(公告)号：CN110146154A
公开(公告)日：2019-08-20
申请号：CN201910367953.4
申请日：2019-05-05
Applicant: 中国计量大学
IPC: G01H9/00
Abstract: 本发明公开了一种用于物体振动测量的点衍射干涉装置及方法，包括：光源，发射初始光至光路处理模块；光路处理模块，将初始光转换为若干束出射光并入射至测量模块；测量模块，连接被测物体，采集入射光产生的干涉图并处理。单纵模激光器发出的激光经光路处理模块后射入测量模块；入射光经偏振数字相机前置的偏振片阵列后发生干涉；记录四步移相干涉图及各瞬态位置的干涉图；根据干涉图对不同瞬态位置空间三维坐标值进行分析，测量出物体振动过程。本发明通过将被测物体与测量探头固定，并利用偏振数字相机来采集振动过程中各个瞬态位置的干涉图，通过对各个瞬态位置的空间三维坐标进行分析，实现了对物体振动的测量，提高了装置的抗干扰能力。
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公开(公告)号：CN109883993A
公开(公告)日：2019-06-14
申请号：CN201910163794.6
申请日：2019-03-05
Applicant: 中国计量大学
IPC: G01N21/41
Abstract: 本发明公开了一种基于哈特曼光线追迹的非均匀介质场的测量方法，包括采用彩色三步移相法对影像进行计算并得到相位信息，采用反积分曲线三维重建算法计算得到测量空间内部存在的液液混合介质的折射率的变化数据；本发明采用彩色三步移相法，结合三维非均匀介质场的反积分曲线三维重建算法，通过投影屏和远心光学系统的组合设置，实现了对非均匀介质场的测量光线的准确追迹及对三维空间折射率的瞬态折射特性测量，大大提高了测量精确度和效率；并且基于哈特曼光线追迹的非均匀介质场的测量系统整体设计精密，测量精度高，成本较低，应用范围广，具有重要的理论意义和工程应用价值，适合推广应用。
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公开(公告)号：CN119722607A
公开(公告)日：2025-03-28
申请号：CN202411781164.2
申请日：2024-12-05
Applicant: 中国计量大学
IPC: G06T7/00 , G06V10/52 , G06V10/764 , G06V10/77 , G06V10/80 , G06V10/82 , G06N3/045 , G06N3/0464 , G06N3/08
Abstract: 本发明涉及深度学习领域，提供一种带钢表面缺陷检测方法及系统、电子设备，方法包括：获取待检测的带钢的状态信息，状态信息至少包括待检测的带钢的表面图像；将状态信息输入预先构建的检测模型中进行缺陷检测，检测模型为在Yolov8模型的基础上融合改进空间金字塔模块以及极化自注意力机制构建得到；改进空间金字塔模块包括SPPCSPC层和可变性卷积层，极化自注意力机制包括通道分支和空间分支；基于缺陷检测模型输出的检测信息，确定待检测的带钢的表面缺陷。用以解决相关技术中在对带钢表面进行缺陷检测时，存在检测精度不佳的缺陷，本申请的方案相较于现有的Yolov8模型，进行带钢表面缺陷检测时检测的精确度明显提高。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117654457A
公开(公告)日：2024-03-08
申请号：CN202311355019.3
申请日：2023-10-19
Abstract: 本发明公开了一种铁源吸附掺杂材料的制备方法，能够将工业铁废液中的铁离子转化为纳米氧化铁颗粒固定于多孔碳材料结构中，实现废弃金属的高效利用，通过利用超声和多热源等方法，能够减少能量消耗、提高加热效率和实现均匀加热，能够减少因活化生物炭产生的化合物，能够解决工业废水污染问题、解决废金属回收利用问题和实现固化后材料的储能应用。
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公开(公告)号：CN111781607B
公开(公告)日：2023-03-03
申请号：CN202010788052.5
申请日：2020-08-07
Applicant: 中国计量大学
Abstract: 本发明涉及一种基于激光调频连续波正反向调谐色散对消方法及装置；通过外腔可调谐激光器进行正反向调谐，得到正向调谐的测量信号以及反向调谐的测量信号；分别提取正反向测量信号的相位，并进行相位展开；通过将两个信号的相位相加求平均，实现色散相位的抵消,得到降低色散影响后的测量信号；对测量信号进行ChirpZ变换，即可得到降低色散影响的目标距离。本方法可以不需要预先标定装置的色散系数，也不需要循环迭代补偿，单次测量即可完成系统色散补偿，得到降低色散影响的目标距离，提高了FMCW激光测距装置的稳定性及测量精度。
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公开(公告)号：CN109883996B
公开(公告)日：2021-06-29
申请号：CN201910164089.8
申请日：2019-03-05
Applicant: 中国计量大学
IPC: G01N21/41
Abstract: 本发明公开了一种基于哈特曼光线追迹的非均匀介质场的测量方法，包括采用彩色三步移相法对影像进行计算并得到相位信息，采用反积分曲线三维重建算法计算得到测量空间内部存在的气液混合介质的折射率的变化数据；本发明采用彩色三步移相法，结合三维非均匀介质场的反积分曲线三维重建算法，通过投影屏和远心光学系统的组合设置，实现了对非均匀介质场的测量光线的准确追迹及对三维空间折射率的瞬态折射特性测量，大大提高了测量精确度和效率；并且基于哈特曼光线追迹的非均匀介质场的测量系统整体设计精密，测量精度高，成本较低，应用范围广，具有重要的理论意义和工程应用价值，适合推广应用。
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公开(公告)号：CN113029034A
公开(公告)日：2021-06-25
申请号：CN202110337099.4
申请日：2021-03-26
Applicant: 中国计量大学
Abstract: 本发明提供一种用于激光扫频干涉测量的非线性校正与量程扩展装置及方法。装置中的分束器将可调谐激光器发出的激光分为两束进入主光路和辅助光路，由于可调谐激光器发出频率可被线性调制的信号，并且主光路中的延迟单模光纤和辅助光路中的延迟单模光纤的由于长度不同，导致双光路中的信号形成光程差，从而构成基本的迈克尔逊干涉仪，产生干涉现象。数据采集卡将采集到的信息数据输送至计算机，再结合扩相频率采样法对信号做处理，即通过对辅助干涉仪拍相位的扩展，使系统满足奈奎斯特采样定律，完成对测量信号拍频非线性校正。有益效果：利用扩相频率采样法对信号做处理，可实现测量信号的拍频非线性校正，提高测量精度，并解决量程受限的问题。
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公开(公告)号：CN110793440B
公开(公告)日：2021-05-18
申请号：CN201911062078.5
申请日：2019-11-01
Applicant: 中国计量大学
Abstract: 本发明提供一种基于光学偏折的瞬态测量方法，涉及测量技术领域。本方法利用正交方向的频率载波条纹对x和y方向的四步移相条纹图(一共八幅移相图案)分别进行单独调制，将不同方向的四幅移相条纹的组合图案耦合到不同的颜色通道，最终得到一幅彩色图，即投影屏投影的图案。利用相机采集经过待测元件偏折后的变形图案，采用颜色分离，分离出x、y方向的复合图案，再通过解调操作得到八幅移相图案，即x、y两个方向各四幅移相条纹图，从中经过相位解调相关算法得到相位信息，经过计算得出被测波面的斜率，最后通过积分算法得到重构的波面。本方法解决了传统光学偏折检测中需要在待测元件上连续投影移相条纹而无法进行瞬态测量的技术问题。
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