公开(公告)号：CN110793440B

公开(公告)日：2021-05-18

申请号：CN201911062078.5

申请日：2019-11-01

Applicant: 中国计量大学

Inventor： 王道档 ,  卢毅伟 ,  孔明 ,  相超 ,  许新科 ,  赵军 ,  刘维 ,  郭天太

IPC: G01B11/00 ,  G01N21/41

Abstract: 本发明提供一种基于光学偏折的瞬态测量方法，涉及测量技术领域。本方法利用正交方向的频率载波条纹对x和y方向的四步移相条纹图(一共八幅移相图案)分别进行单独调制，将不同方向的四幅移相条纹的组合图案耦合到不同的颜色通道，最终得到一幅彩色图，即投影屏投影的图案。利用相机采集经过待测元件偏折后的变形图案，采用颜色分离，分离出x、y方向的复合图案，再通过解调操作得到八幅移相图案，即x、y两个方向各四幅移相条纹图，从中经过相位解调相关算法得到相位信息，经过计算得出被测波面的斜率，最后通过积分算法得到重构的波面。本方法解决了传统光学偏折检测中需要在待测元件上连续投影移相条纹而无法进行瞬态测量的技术问题。

公开(公告)号：CN110793440A

公开(公告)日：2020-02-14

申请号：CN201911062078.5

申请日：2019-11-01

Applicant: 中国计量大学

Inventor： 王道档 ,  卢毅伟 ,  孔明 ,  相超 ,  许新科 ,  赵军 ,  刘维 ,  郭天太

IPC: G01B11/00 ,  G01N21/41

Abstract: 本发明提供一种基于光学偏折的瞬态测量方法，涉及测量技术领域。本方法利用正交方向的频率载波条纹对x和y方向的四步移相条纹图(一共八幅移相图案)分别进行单独调制，将不同方向的四幅移相条纹的组合图案耦合到不同的颜色通道，最终得到一幅彩色图，即投影屏投影的图案。利用相机采集经过待测元件偏折后的变形图案，采用颜色分离，分离出x、y方向的复合图案，再通过解调操作得到八幅移相图案，即x、y两个方向各四幅移相条纹图，从中经过相位解调相关算法得到相位信息，经过计算得出被测波面的斜率，最后通过积分算法得到重构的波面。本方法解决了传统光学偏折检测中需要在待测元件上连续投影移相条纹而无法进行瞬态测量的技术问题。