一种带快速接口的排气装置

    公开(公告)号:CN107191648A

    公开(公告)日:2017-09-22

    申请号:CN201710388038.4

    申请日:2017-05-27

    CPC classification number: F16K24/04 F16K27/041 F16K41/04

    Abstract: 本发明公开了一种带快速接口的排气装置。排气快速接口与阀座焊接在一起,将三个密封圈与两个垫片以三夹二的方式交互层叠并放入阀座的上端沉孔内,定位螺栓通过螺纹连接在阀座上端,压紧密封圈。阀芯由下至上穿过阀座,阀芯上端由一螺钉与手柄相连。O型圈嵌套在O型座中,并一同放入六角螺母内的凹槽中,六角螺母通过螺纹与阀座的下端连接。使用时将此排气装置利用KF卡箍与排气波纹管相连即可。本发明的优点在于,排气快速接口能够非常简便地与排气设备上的排气波纹管相连接,与以往的橡皮管套的链接方式相比,金属的快速接口能够更加高效且密封牢固地与排气设备相连接,排气效率高。

    一种上端面开窗的液氮杜瓦

    公开(公告)号:CN106872050A

    公开(公告)日:2017-06-20

    申请号:CN201710037351.3

    申请日:2017-01-19

    CPC classification number: G01J5/02 G01J2005/0048

    Abstract: 本发明公开了一种上端面开窗的液氮杜瓦,由内、外圆柱形金属层组成真空密封腔,在内圆柱金属层顺序安装冷头,接线柱、液氮入口管和与支撑结构组成内部低温主体热传导单元,在外圆柱金属层侧面、顶面上顺序安装接插件,排气管以及窗口形成整体杜瓦结构。该结构特点在于窗口位于杜瓦上端面,内部低温主体热传导单元采用了锥形圆片状的导热结构,在保持良好的热传导性能情况下,极大地减小了冷头、杜瓦的重量,增加了所储存液氮体积;该结构优点在于振动小,重量轻,能与市场上绝大部分落射型光学测量设备组合,实现低温条件下制冷型焦平面探测器生产过程中材料,光敏元阵列芯片性能的稳定测量表征。

    一种低漏热的低温不锈钢漏斗

    公开(公告)号:CN105752918A

    公开(公告)日:2016-07-13

    申请号:CN201610236527.3

    申请日:2016-04-15

    Inventor: 陈安森 朱晓玄

    CPC classification number: B67C11/02

    Abstract: 本发明公开了一种低漏热的低温不锈钢漏斗,漏斗外壳与漏斗内胆焊接在一起形成整个漏斗杯体,握柄焊接在漏斗外壳上,用于排气与密封的无氧铜管焊接在漏斗外壳相对于握柄的一侧的靠下方位置,漏管的出液端为斜面形状,它依次穿过漏斗外壳以及漏斗内胆底部小孔,并分别与漏斗外壳以及漏斗内胆焊接密封连接在一起,漏斗内胆与漏斗外壳之间空隙通过无氧铜管抽成真空。本发明的优点在于:这种低温不锈钢漏斗能有效减少热传导,使冷量缓慢且少量地传至握柄,实现漏斗杯子的拿取;同时缓解漏管结冰现象,解决液氮无法顺利灌输的问题。

    一种光学材料光谱测试用低温杜瓦

    公开(公告)号:CN103852424A

    公开(公告)日:2014-06-11

    申请号:CN201410020844.2

    申请日:2014-01-17

    Abstract: 本发明公开了一种光学材料光谱测试用低温杜瓦,由内外金属圆筒组成的真空密封容器,在过渡冷头上依次安装杜瓦冷头、测试样品、力学缓冲环和磁性压环组成测试样品固定结构。该结构的优点在于充分利用磁性压环与杜瓦冷头之间的磁性力,将测试样品可靠地固定在杜瓦冷头上,同时力学缓冲环可以很好地缓冲杜瓦冷头和磁性压环之间的磁性力,使杜瓦冷头和测试样品形成良好的热学和力学接触,保持测试样品处于低温,该结构安装和拆卸测试样品简单方便,避免测试样品表面污染和损伤,特别适合于水平光路条件下光学材料的低温透射光谱测试。

    光学材料光谱测试用低温杜瓦

    公开(公告)号:CN203772724U

    公开(公告)日:2014-08-13

    申请号:CN201420028315.2

    申请日:2014-01-17

    Abstract: 本实用新型公开了一种光学材料光谱测试用低温杜瓦,由内外金属圆筒组成的真空密封容器,在过渡冷头上依次安装杜瓦冷头、测试样品、力学缓冲环和磁性压环组成测试样品固定结构。该结构的优点在于充分利用磁性压环与杜瓦冷头之间的磁性力,将测试样品可靠地固定在杜瓦冷头上,同时力学缓冲环可以很好地缓冲杜瓦冷头和磁性压环之间的磁性力,使杜瓦冷头和测试样品形成良好的热学和力学接触,保持测试样品处于低温,该结构安装和拆卸测试样品简单方便,避免测试样品表面污染和损伤,特别适合于水平光路条件下光学材料的低温透射光谱测试。

    可变光阑孔径反馈装置
    16.
    实用新型

    公开(公告)号:CN203455532U

    公开(公告)日:2014-02-26

    申请号:CN201320459556.8

    申请日:2013-07-30

    Abstract: 本实用新型公开了一种可变光阑孔径反馈装置,在可变光阑支架上依次安装环形变阻器、过渡环、可变光阑、超声电机定子、超声电机转子和固定环组成带孔径反馈功能的可变光阑。该结构采用超声电机驱动过渡环,过渡环改变可变光阑孔径,同时带动环形变阻器阻值改变,环形变阻器的阻值与可变光阑孔径对应,实时反馈可变光阑的孔径大小信息。该结构的优点在于利用环形变阻器阻值改变及时反馈可变光阑孔径大小变化信息,结构简单可靠,避免电机掐位不准带入的误差和传统复杂的光学定位结构,同时该结构可以应用于各种手动或电动的可变光阑的实时精确定位。

    上端面开窗液氮杜瓦
    17.
    实用新型

    公开(公告)号:CN206410789U

    公开(公告)日:2017-08-15

    申请号:CN201720061385.1

    申请日:2017-01-19

    Abstract: 本专利公开了一种上端面开窗的液氮杜瓦,由内、外圆柱形金属层组成真空密封腔,在内圆柱金属层顺序安装冷头,接线柱、液氮入口管和与支撑结构组成内部低温主体热传导单元,在外圆柱金属层侧面、顶面上顺序安装接插件,排气管以及窗口形成整体杜瓦结构。该结构特点在于窗口位于杜瓦上端面,内部低温主体热传导单元采用了锥形圆片状的导热结构,在保持良好的热传导性能情况下,极大地减小了冷头、杜瓦的重量,增加了所储存液氮体积;该结构优点在于振动小,重量轻,能与市场上绝大部分落射型光学测量设备组合,实现低温条件下制冷型焦平面探测器生产过程中材料,光敏元阵列芯片性能的稳定测量表征。

    一种保持光学测试样品处于低温状态的装置

    公开(公告)号:CN203455157U

    公开(公告)日:2014-02-26

    申请号:CN201320362307.7

    申请日:2013-06-21

    Abstract: 本实用新型公开了一种保持光学测试样品处于低温状态的装置,该装置包括箱体、上盖板、金属环、冷头、加热片、测温元件。箱体的上部通过螺纹与上盖板连接,在箱体的右侧安装气体输入管接头和气体输出管接头。金属环嵌在冷头上部的凹槽中。冷头锡焊在箱体圆柱形空腔底部的中央处,在冷头侧面安装液氮导进管和液氮导出管。加热片和测温元件用低温胶粘在冷头的侧面,其导线从箱体正面引出。测试时,样品由金属环固定在冷头上,通过液氮导进管输入液氮,使样品处于低温状态。加热片及测温元件控制样品处于某一恒定的温度。本装置的优点是通过向箱体侧面的气体输入管通入氮气使箱体内形成氮气保护的气氛,是一种保持光学测试样品处于低温状态的装置。

    低漏热的低温不锈钢漏斗
    19.
    实用新型

    公开(公告)号:CN205603202U

    公开(公告)日:2016-09-28

    申请号:CN201620319366.X

    申请日:2016-04-15

    Inventor: 陈安森 朱晓玄

    Abstract: 本专利公开了一种低漏热的低温不锈钢漏斗,漏斗外壳与漏斗内胆焊接在一起形成整个漏斗杯体,握柄焊接在漏斗外壳上,用于排气与密封的无氧铜管焊接在漏斗外壳相对于握柄的一侧的靠下方位置,漏管的出液端为斜面形状,它依次穿过漏斗外壳以及漏斗内胆底部小孔,并分别与漏斗外壳以及漏斗内胆焊接密封连接在一起,漏斗内胆与漏斗外壳之间空隙通过无氧铜管抽成真空。本专利的优点在于:这种低温不锈钢漏斗能有效减少热传导,使冷量缓慢且少量地传至握柄,实现漏斗杯子的拿取;同时缓解漏管结冰现象,解决液氮无法顺利灌输的问题。

    一种电控可变光阑杜瓦
    20.
    实用新型

    公开(公告)号:CN202886705U

    公开(公告)日:2013-04-17

    申请号:CN201220571691.7

    申请日:2012-11-01

    Inventor: 汪洋 陈安森

    Abstract: 本专利公开了一种电控可变光阑杜瓦,由内外金属圆柱筒组成的真空密封容器,在杜瓦窗口下面安装由步进电机、传动齿轮、手动可变光阑组成的电控可变光阑模块。该杜瓦以步进电机作为驱动单元,通过传动齿轮改变可变光阑的孔径,从而控制杜瓦的背景通光量。电动可控光阑杜瓦的优点在于通过控制步进电机的步长和步数可以精确控制杜瓦的孔径光阑,以适合不同红外探测器组件对于不同孔径光阑的要求和红外探测器组件测试对于可变背景通光量的具体要求。

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