-
公开(公告)号：CN109079313A
公开(公告)日：2018-12-25
申请号：CN201811045140.5
申请日：2018-09-07
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: B23K26/00 , B23K26/352 , B23K26/70
Abstract: 本发明涉及激光抛光技术领域，具体涉及一种激光抛光设备及方法，设备包括：第一激光器，用于发出第一激光光束并通过扫描器投射至放置于加工平移台的待加工工件以形成加工区域；高温计，用于采集加工区域的温度数据；第二激光器，用于发出第二激光光束至探测焦点；探测器，用于探测探测焦点处在第二激光光束作用下产生的光信号；光谱仪，用于根据光信号获得光谱信息，控制装置用于根据光谱信息以及温度数据控制加工平移台的移动速度和扫描器在扫描方向的扫描速度。通过上述设置，以实现根据温度数据和光谱信号对扫描速度和平台的移动速度进行反馈控制，避免通过改变激光功率对激光光斑大小造成影响，进而造成加工稳定性差的问题。
-
公开(公告)号：CN108890449A
公开(公告)日：2018-11-27
申请号：CN201811048863.0
申请日：2018-09-07
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本发明实施例提供一种光学元件面形修正方法及装置，该装置包括多个团簇离子束产生装置，各所述团簇离子束产生装置的输入口与提供不同源气的源气供给单元连接。通过利用集成了多个团簇离子束产生装置的加工装置，在待加工光学元件的不同的面形精度的情况下，选择适宜的团簇离子束产生装置以产生对应的团簇离子束，并以不同的加工模式对待加工光学元件进行加工，在提高待加工光学元件面形精度的同时降低加工区域的表面粗糙度。
-
公开(公告)号：CN108838548A
公开(公告)日：2018-11-20
申请号：CN201811043552.5
申请日：2018-09-07
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: B23K26/36 , B23K26/067 , B23K26/402 , C03B25/00
Abstract: 本申请实施例提供一种激光抛光装置及抛光方法，涉及抛光技术领域。其中，所述装置通过分束器将激光器发出的初始光束分为第一光束、第二光束和第三光束，然后通过扫描器接收所述第一光束、第二光束和第三光束，并将所述第一光束、第二光束和第三光束投射到待加工元件，在待加工元件上形成第一光束对应的预热光斑、第二光束对应的抛光光斑以及第三光束对应的退火光斑，实现了在抛光处理的同时对待加工元件进行预热和退火，避免了在对玻璃等脆性材料进行抛光的过程中由于温度梯度较大产生热应力导致加工元件产生裂纹。
-
公开(公告)号：CN107806933A
公开(公告)日：2018-03-16
申请号：CN201711295075.7
申请日：2017-12-08
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01J11/00
CPC classification number: G01J11/00
Abstract: 本发明提供一种基于双束时间分辨泵浦探测技术的激光诱导光学材料体内冲击波波速的测量方法。光学材料激光诱导冲击波波速的测量方法，该方法包括以下步骤：1)双束探测成像系统获取泵浦激光脉冲激发待测样品内部冲击波某一时刻的相同位置、设定时间间隔的两幅图像；2)基于图像处理算法，比较两幅图像中冲击波波峰包络位置变化量，计算获取某一时刻的冲击波波速。本发明建立双束探测成像系统，一路泵浦激光脉冲作用于光学材料并激发诱导冲击波现象，双路探测激光脉冲以一定的时间间隔辐照至激发区域，携带冲击波位置信息的双路探测光分别由探测捕获，通过改变泵浦激光脉冲与探测激光脉冲之间的延时量，可精确测得任意时刻的激光诱导冲击波波速。
-
公开(公告)号：CN104324923A
公开(公告)日：2015-02-04
申请号：CN201410500521.3
申请日：2014-09-26
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: B08B11/02
CPC classification number: B08B11/02
Abstract: 本发明公开了一种清洗夹持装置，属于光学元件洁净工程领域，所述的装置适用于多种形状，各种口径的光学元件夹持。本发明装置包括吊装梁、承重梁、夹持梁，其中下夹持梁中心设置有调节V形槽，配合调节螺杆和螺母可以实现调节V形槽内外向控制，以适用于不同尺寸规格的光学元件，吊装梁、承重梁和夹持梁全部采用整体设计。本发明所有材料均采用聚四氟乙烯材料。本发明装置在清洗过程中不会残留任何清洗残渣，光学元件在提出液面液体可以顺着夹持装置和元件侧面引流，避免了对光学元件的污染，尤其适用于腐蚀性清洗环境，具有操作简单，使用灵活方便的优势。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107806933B
公开(公告)日：2023-06-13
申请号：CN201711295075.7
申请日：2017-12-08
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01J11/00
Abstract: 本发明提供一种基于双束时间分辨泵浦探测技术的激光诱导光学材料体内冲击波波速的测量方法。光学材料激光诱导冲击波波速的测量方法，该方法包括以下步骤：1)双束探测成像系统获取泵浦激光脉冲激发待测样品内部冲击波某一时刻的相同位置、设定时间间隔的两幅图像；2)基于图像处理算法，比较两幅图像中冲击波波峰包络位置变化量，计算获取某一时刻的冲击波波速。本发明建立双束探测成像系统，一路泵浦激光脉冲作用于光学材料并激发诱导冲击波现象，双路探测激光脉冲以一定的时间间隔辐照至激发区域，携带冲击波位置信息的双路探测光分别由探测捕获，通过改变泵浦激光脉冲与探测激光脉冲之间的延时量，可精确测得任意时刻的激光诱导冲击波波速。
-
公开(公告)号：CN109262134B
公开(公告)日：2021-08-20
申请号：CN201811044678.4
申请日：2018-09-07
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本发明提供的光学元件制备方法和激光干燥处理系统，涉及激光技术领域。其中，所述光学元件制备方法包括：制备溶胶‑凝胶；提供一熔石英基底，并通过所述溶胶‑凝胶在所述熔石英基底的一表面制作形成一光学膜层；通过激光对所述光学膜层进行干燥处理，以得到包括熔石英基底和光学膜层的熔石英光学元件。通过上述方法，可以进一步提升现有的熔石英光学元件的透光率。
-
公开(公告)号：CN109079313B
公开(公告)日：2020-08-11
申请号：CN201811045140.5
申请日：2018-09-07
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: B23K26/00 , B23K26/352 , B23K26/70
Abstract: 本发明涉及激光抛光技术领域，具体涉及一种激光抛光设备及方法，设备包括：第一激光器，用于发出第一激光光束并通过扫描器投射至放置于加工平移台的待加工工件以形成加工区域；高温计，用于采集加工区域的温度数据；第二激光器，用于发出第二激光光束至探测焦点；探测器，用于探测探测焦点处在第二激光光束作用下产生的光信号；光谱仪，用于根据光信号获得光谱信息，控制装置用于根据光谱信息以及温度数据控制加工平移台的移动速度和扫描器在扫描方向的扫描速度。通过上述设置，以实现根据温度数据和光谱信号对扫描速度和平台的移动速度进行反馈控制，避免通过改变激光功率对激光光斑大小造成影响，进而造成加工稳定性差的问题。
-
公开(公告)号：CN105738374B
公开(公告)日：2019-08-23
申请号：CN201610255112.0
申请日：2016-04-21
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本发明提供了一种光学元件吸收缺陷损伤特性的测试系统及方法，属于光学元件吸收缺陷的损伤特性测试领域。所述光学元件吸收缺陷损伤特性的测试系统包括光热弱吸收测试装置、损伤测试光源以及损伤监测显微镜。所述光热弱吸收测试装置用于测试待测光学元件的吸收缺陷对泵浦光的吸收值。所述损伤测试光源用于发出损伤测试激光作用于所述待测光学元件的所述吸收缺陷处。所述损伤监测显微镜用于获取所述待测光学元件的所述吸收缺陷在所述损伤测试激光的作用下的损伤特性。因此，本发明可以有效地实现对待测光学元件吸收缺陷的损伤性能的表征，进而获得待测光学元件的吸收缺陷的吸收水平与损伤特性的定量关系。
-
公开(公告)号：CN109916902A
公开(公告)日：2019-06-21
申请号：CN201910186287.4
申请日：2019-03-12
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本发明实施例提供的成像设备和成像方法，涉及激光成像技术领域。该成像设备用于对待测试物品进行成像处理，该成像设备包括：飞秒激光器件，用于发出飞秒脉冲；脉冲时域展宽器件，用于将所述飞秒脉冲进行时域展宽处理，以生成啁啾脉冲，并将所述啁啾脉冲发送至所述待测试物品，其中，所述啁啾脉冲的时域与频域一一对应；滤光器件，用于将经过待测试物品的啁啾脉冲进行滤光处理，以生成多个携带待测试物品信息的子脉冲，其中，各所述子脉冲在时间和空间上隔离；成像器件，用于根据各所述携带待测试物品信息的子脉冲生成多幅不同时域的图像。通过上述设置，可以简化成像设备的复杂度，降低成像设备的设计和调节难度。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
60
records
(took 0.062 seconds)
