一种基于CCD电极直接控制的高速双幅脉冲图像曝光方法

    公开(公告)号:CN107071309B

    公开(公告)日:2020-04-07

    申请号:CN201710316120.6

    申请日:2017-05-08

    Abstract: 本发明公开了一种基于CCD电极直接控制的高速双幅脉冲图像曝光方法,发光脉冲图像经过成像镜头,然后成像在CCD相机上;针对CCD正常信号电荷包的产生、转移及传输,在两次曝光驱动脉冲中间极短的无效时间内设计一种转移、传输驱动时序,利用转移电极隔离信号电荷包的功能在曝光脉冲无效期间的后期进行信号电荷包的隔离,从而起到两次曝光产生的信号电荷包是可以分辨的效果,并满足在曝光脉冲无效期间实现信号电荷包的正常转移及传输,进而获得一种双幅脉冲图像的超高时间分辨的成像能力。本发明没有了图像增强器对信号的动态范围的压缩作用及附加的额外噪声的影响,最大限度地发挥了CCD本身的成像性能,满足较高的科学成像要求。

    一种天平加载头位姿检测装置

    公开(公告)号:CN107063082B

    公开(公告)日:2019-09-20

    申请号:CN201610910346.4

    申请日:2016-10-19

    Abstract: 本发明公开了一种天平加载头位姿检测装置,所述装置包括:指示光源、位置探测结构,所述指示光源安装在待检测天平加载头上表面,所述位置探测结构包括:指示光斑照射靶面、光学成像系统、位置探测器,所述指示光斑照射靶面开设有中心孔,所述位置探测器的端面设有开口,所述开口中心线与所述中心孔中心线重合,所述位置探测器固定在所述指示光斑照射靶面的背面,所述光学成像系统位于所述指示光斑照射靶面的正面前方,实现了利用本申请中的装置加载头位置姿态的大范围变化监测与复位位置姿态附近的高精密检测可以同时进行,并满足了加载头位置姿态检测的大范围、高精度测量要求。

    基于激光加热的LYSO晶体实验装置及实验方法

    公开(公告)号:CN113391340B

    公开(公告)日:2024-07-16

    申请号:CN202110826075.5

    申请日:2021-07-21

    Abstract: 本发明公开了一种基于激光加热的LYSO晶体实验装置,包括激光发射装置、激光控制组件、以及用于安放LYSO晶体的晶体安置机构,其中,激光发射装置用于发射激光,激光控制组件包括多个镜体组件,多个镜体组件配合将激光发射装置发射的激光分成若干束激光光束,并使若干激光光束其中一部分以正入射或者斜入射的方式均匀照射在LYSO晶体的正面,另一部分激光光束以正入射或者斜入射的方式照射在LYSO晶体的反面。本发明还公开了一种上述实验装置的实验方法。本发明通过对激光光束进行分束从而实现对LYSO晶体两侧同时进行加热,能缩短其闪烁衰减时间。

    一种基于CCD电极直接控制的高速双幅脉冲图像曝光方法

    公开(公告)号:CN107071309A

    公开(公告)日:2017-08-18

    申请号:CN201710316120.6

    申请日:2017-05-08

    Abstract: 本发明公开了一种基于CCD电极直接控制的高速双幅脉冲图像曝光方法,发光脉冲图像经过成像镜头,然后成像在CCD相机上;针对CCD正常信号电荷包的产生、转移及传输,在两次曝光驱动脉冲中间极短的无效时间内设计一种转移、传输驱动时序,利用转移电极隔离信号电荷包的功能在曝光脉冲无效期间的后期进行信号电荷包的隔离,从而起到两次曝光产生的信号电荷包是可以分辨的效果,并满足在曝光脉冲无效期间实现信号电荷包的正常转移及传输,进而获得一种双幅脉冲图像的超高时间分辨的成像能力。本发明没有了图像增强器对信号的动态范围的压缩作用及附加的额外噪声的影响,最大限度地发挥了CCD本身的成像性能,满足较高的科学成像要求。

    一种天平加载头位姿检测装置

    公开(公告)号:CN107063082A

    公开(公告)日:2017-08-18

    申请号:CN201610910346.4

    申请日:2016-10-19

    Abstract: 本发明公开了一种天平加载头位姿检测装置,所述装置包括:指示光源、位置探测结构,所述指示光源安装在待检测天平加载头上表面,所述位置探测结构包括:指示光斑照射靶面、光学成像系统、位置探测器,所述指示光斑照射靶面开设有中心孔,所述位置探测器的端面设有开口,所述开口中心线与所述中心孔中心线重合,所述位置探测器固定在所述指示光斑照射靶面的背面,所述光学成像系统位于所述指示光斑照射靶面的正面前方,实现了利用本申请中的装置加载头位置姿态的大范围变化监测与复位位置姿态附近的高精密检测可以同时进行,并满足了加载头位置姿态检测的大范围、高精度测量要求。

    一种匹配束流为平行束的带电粒子照相装置

    公开(公告)号:CN104914119A

    公开(公告)日:2015-09-16

    申请号:CN201510331159.6

    申请日:2015-06-15

    Abstract: 本发明公开了一种匹配束流为平行束的带电粒子照相装置,包括束流传输线和光学成像结构,所述束流传输线包括呈中心对称的前段四极磁铁组和后段四极磁铁组,光学成像结构位于束流传输线的末端,其中前段四极磁铁组和后段四极磁铁组形状完全相同且均包括四块完全相同的四极磁铁,在前段四极磁铁组和后段四极磁铁组的中心对称点上还安装角度准直器,前段四极磁铁组的传输矩阵采用四阶矩阵M:四阶矩阵M为满足平行束入射条件为:M11=0、M22=0、M33=0、M44=0的四阶传输矩阵,以上矩阵元素的前、后下标分别表示该元素所在的行和列。本发明采用上述结构,采用点对点成像,且匹配束流为平行束,能够克服点光源照相图像模糊的缺陷,提高照相的分辨率。

    一种缩短LYSO晶体闪烁衰减时间的实验装置

    公开(公告)号:CN210803733U

    公开(公告)日:2020-06-19

    申请号:CN201921853630.8

    申请日:2019-10-31

    Abstract: 本实用新型公开了一种缩短LYSO晶体闪烁衰减时间的实验装置,包括竖直设置的保温套筒,所述保温套筒包括竖直设置的样品放置筒,所述样品放置筒的内部区域为加热腔,所述样品放置筒采用导热绝缘材料制成,所述样品放置筒内表面中部设有晶体固定机构,所述样品放置筒外表面均匀布置有加热丝,形成加热层。本实用新型通过在样品放置筒的正上方设置光电探测器对加热后的样品晶体的闪烁衰减时间进行检测,发现其闪烁衰减时间从原来的36-42ns变成了8-12ns;克服了本领域技术人员认为LYSO晶体闪烁不能用于高重频实验的技术偏见。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

    一种天平加载头位姿检测设备

    公开(公告)号:CN206160939U

    公开(公告)日:2017-05-10

    申请号:CN201621137058.1

    申请日:2016-10-19

    Abstract: 本实用新型公开了一种天平加载头位姿检测设备,所述设备包括:指示光源、位置探测结构,所述指示光源安装在待检测天平加载头上表面,所述位置探测结构包括:指示光斑照射靶面、光学成像系统、位置探测器,所述指示光斑照射靶面开设有中心孔,所述位置探测器的端面设有开口,所述开口中心线与所述中心孔中心线重合,所述位置探测器固定在所述指示光斑照射靶面的背面,所述光学成像系统位于所述指示光斑照射靶面的正面前方,实现了利用本申请中的设备加载头位置姿态的大范围变化监测与复位位置姿态附近的高精密检测可以同时进行,并满足了加载头位置姿态检测的大范围、高精度测量要求。

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