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公开(公告)号：CN110441354B
公开(公告)日：2021-09-28
申请号：CN201910745164.X
申请日：2019-08-13
Applicant: 中国工程物理研究院化工材料研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于电容层析成像的高聚物粘结炸药密度分布检测方法，利用平行板电容法测得平行板间的电容值，计算得到不同密度下PBX材料的相对介电常数，建立PBX材料密度值与介电常数模型；搭建电容层析成像系统，依次测定待测PBX试件阵列电极对之间的电容值，根据测定的所有电极对之间的电容值以及灵敏度矩阵对PBX材料相对介电常数分布进行三维重构；根据PBX材料相对介电常数‑PBX材料密度模型得到PBX试件密度分布，实现PBX试件密度分布的检测；本发明方法能够对PBX试件的密度分布进行定量检测，具有无损、高效、检测范围大/便携的优点，可广泛应用于PBX试件密度分布测定与密度均匀性的检测中。
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公开(公告)号：CN106896154B
公开(公告)日：2021-01-26
申请号：CN201710097155.5
申请日：2017-02-22
Applicant: 中国工程物理研究院化工材料研究所
Abstract: 本发明公开了一种球面、柱面超声检测定位装置，包括外壳体、传感器主体，所述外壳体为锥体结构；所述外壳体内部过轴线设置有导向槽，所述传感器主体放置固定在所述导向槽内；所述传感器主体上方设置有弹性部件，所述弹性部件置于所述导向槽内，使所述传感器主体可在导向槽内沿锥形轴线上下活动；所述锥体结构的外壳体下部为空腔结构，且所述外壳体底部形成支脚结构，使所述传感器主体可扣合在球体或圆柱体上。利用本发明专利的传感器，可以实现检测时传感器工作平面与被测点法线垂直，可以有效提升检测精度，提高找正效率。
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公开(公告)号：CN109115873B
公开(公告)日：2020-11-03
申请号：CN201810841950.5
申请日：2018-07-27
Applicant: 中国工程物理研究院化工材料研究所
Abstract: 本发明公开了一种用于复杂构形回转体超声检测的环形多轴扫查装置，包括C轴、Y轴、Z轴、A轴，C轴为环形扫查轴，包括一个环形扫查轨道，环形扫查轨道相对的两端设置有第一滑块；Y轴为横轴，横轴的两端分别固定在所述第一滑块上，横轴可以沿环形扫查轴水平旋转；Y轴包括一个水平平移轨道，Y轴上设置有第二滑块，第二滑块可以沿着水平平移轨道平移；Z轴为竖轴，Z轴包含垂直平移轨道，Z轴上设置有第三滑块，第三滑块可以沿着垂直平移轨道平移，Z轴靠近待测工件的一端为O点，A轴的一端通过O点与Z轴进行铰接，A轴的另一端连接有超声探头，向待测工件发射超声波。该装置使回转体工件无需旋转、无需装卡，即可完成全覆盖扫查检测。
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公开(公告)号：CN108871638A
公开(公告)日：2018-11-23
申请号：CN201810379267.4
申请日：2018-04-25
Applicant: 中国工程物理研究院化工材料研究所 , 哈尔滨工程大学
Abstract: 本发明公开了一种材料残余应力的光纤测量装置及监测方法，该装置包括橡胶底座、橡胶底座凹槽、第一层光纤光栅传感器串、橡胶、第二层光纤光栅传感器串、石英护管、光纤光栅解调装置，本发明通过设计一种材料残余应力的光纤测量装置，研究高精度的材料残余应力无损测试方法，结构简单，精度高等特点；本发明提供了一种材料残余应力的监测方法，对材料外表面整体应释放测试是采用加载静态载荷或动态载荷的方法；对于材料内部应力释放测试研究，基于超声波和接触式光纤光栅传感阵列，根据不同传感器对超声信号的响应时间，定位材料内部应力不均匀处，结合有限元软件，分析材料内部残余应力的分布。
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公开(公告)号：CN106896154A
公开(公告)日：2017-06-27
申请号：CN201710097155.5
申请日：2017-02-22
Applicant: 中国工程物理研究院化工材料研究所
Abstract: 本发明公开了一种球面、柱面超声检测定位装置，包括外壳体、传感器主体，所述外壳体为锥体结构；所述外壳体内部过轴线设置有导向槽，所述传感器主体放置固定在所述导向槽内；所述传感器主体上方设置有弹性部件，所述弹性部件置于所述导向槽内，使所述传感器主体可在导向槽内沿锥形轴线上下活动；所述锥体结构的外壳体下部为空腔结构，且所述外壳体底部形成支脚结构，使所述传感器主体可扣合在球体或圆柱体上。利用本专利的传感器，可以实现检测时传感器工作平面与被测点法线垂直，可以有效提升检测精度，提高找正效率。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117169118A
公开(公告)日：2023-12-05
申请号：CN202210587700.X
申请日：2022-05-27
Applicant: 中国工程物理研究院化工材料研究所
Abstract: 本发明公开了一种非接触式孔内表面外观检测装置及方法，所述装置按功能分类可分为运动控制部分和图像采集部分,运动控制部分包括单轴位移台，单轴旋转台，二维对位台，运动控制器等，图像采集部分包括工业显微镜头、工业相机、视像管、LED照明光源等部分，实现测量包括如下步骤：1)利用高精度光学分辨率板实现测量装置标定；2)结合圆形标记点实现二维对位台标定；3)结合激光器实现旋转中心位置标定；4)根据标定结果完成待测孔与测头对中；5)开始自动图像采集与拼接；6)计算缺陷实际尺寸和在孔内的位置。本发明能够实现4mm‑8mm直径，深度
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公开(公告)号：CN116894767A
公开(公告)日：2023-10-17
申请号：CN202310751019.9
申请日：2023-06-25
Applicant: 中国工程物理研究院化工材料研究所
Abstract: 本发明公开了一种2D图像转换为3D图像的方法、缺陷检测方法及系统，2D图像转换为3D图像的方法包括：将工件置于旋转工作台上，将线阵相机架设于机械臂上，所述工件为回转体；获取所述工件的CAD图像，根据所述工件的CAD图像得到工件轮廓的函数；通过线阵相机镜头姿态与位置计算线阵相机所拍摄的图像对应工件中的位置；匀速旋转工件一周，通过线阵相机对工件进行拍摄，得到若干帧一维线阵图像；将拍摄的若干帧一维线阵图像上像素点与真实工件进行匹配，实现2D图像到3D图像的转换。本发明通过在几何层面建立2D图像和真实工件的匹配关系，通过这种对应关系可以实现2D图像到3D图像的转换，该方法简单，得到3D图像后能在真实工件中快速的找到缺陷处。
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公开(公告)号：CN116482231A
公开(公告)日：2023-07-25
申请号：CN202310387624.2
申请日：2023-04-12
Applicant: 中国工程物理研究院化工材料研究所
Abstract: 本发明公开了一种材料内部缺陷高信噪比超声成像方法，通过利用全矩阵数据中各通道接收信号的空间相干性，结合PBX曲面构形特征对算法的延时法则进行修正，实现了曲面构形PBX不同取向裂纹缺陷的高信噪比成像，并对重构图像质量进行了对比评价。结果表明，相比于传统的线性合成聚焦成像，本发明提出的算法对颗粒填充复合材料PBX裂纹缺陷的超声重构图像信噪比提升10dB以上，显著改善裂纹缺陷的检出能力，同时兼顾成像效率。
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公开(公告)号：CN111521312A
公开(公告)日：2020-08-11
申请号：CN202010381063.1
申请日：2020-05-08
Applicant: 中国工程物理研究院化工材料研究所 , 哈尔滨工程大学
Abstract: 本发明提出一种基于盲孔法标定光纤测量材料残余应力的方法。属于光纤测量技术领域。本发明的方法基于盲孔法测试原理，通过预先在周围布置的应变传感器来计算该位置附近的残余应力大小。再将待测材料放入测量材料表面形貌的橡胶底座中，得到材料表面的应变分布情况，结合盲孔法测试数据，得到残余应力与光纤测量材料表面形貌装置信号的对应关系。用以辅助基于光纤测量材料表面形貌装置测试残余应力进行残余应力定量测试及分析。
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公开(公告)号：CN108871638B
公开(公告)日：2020-04-28
申请号：CN201810379267.4
申请日：2018-04-25
Applicant: 中国工程物理研究院化工材料研究所 , 哈尔滨工程大学
Abstract: 本发明公开了一种材料残余应力的光纤测量装置及监测方法，该装置包括橡胶底座、橡胶底座凹槽、第一层光纤光栅传感器串、橡胶、第二层光纤光栅传感器串、石英护管、光纤光栅解调装置，本发明通过设计一种材料残余应力的光纤测量装置，研究高精度的材料残余应力无损测试方法，结构简单，精度高等特点；本发明提供了一种材料残余应力的监测方法，对材料外表面整体应释放测试是采用加载静态载荷或动态载荷的方法；对于材料内部应力释放测试研究，基于超声波和接触式光纤光栅传感阵列，根据不同传感器对超声信号的响应时间，定位材料内部应力不均匀处，结合有限元软件，分析材料内部残余应力的分布。
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