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公开(公告)号:CN1983570A
公开(公告)日:2007-06-20
申请号:CN200610166981.2
申请日:2006-12-13
Applicant: 三星SDI株式会社
IPC: H01L23/00 , H01L29/786 , H01L27/32 , H01L21/20 , H01L21/336 , H01L21/84 , C30B29/06
CPC classification number: H01L21/02672 , H01L21/02532 , H01L27/1277
Abstract: 提供了一种多晶硅层、采用所述多晶硅层的平板显示器和制造所述多晶硅层的方法。在基板上形成非晶硅层。在非晶硅层上形成第一图案层、第二图案层和金属催化剂层。形成第一图案层和第二图案层以界定一个至少400μm2的区域,金属催化剂层的金属催化剂在所述区域内扩散到非晶硅层内。通过扩散的金属催化剂使晶种区结晶。在结晶区从晶种区生长之后,在结晶区上形成半导体层,从而制造具有良好特性的薄膜晶体管。采用其制造平板显示器。
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公开(公告)号:CN1738011A
公开(公告)日:2006-02-22
申请号:CN200410075870.1
申请日:2004-12-31
Applicant: 三星SDI株式会社
IPC: H01L21/336 , H01L29/786
CPC classification number: H01L21/02672 , H01L21/02532 , H01L21/02678 , H01L21/2026 , H01L27/1277 , H01L27/1296 , H01L29/66757
Abstract: 本发明提供一种制造薄膜晶体管的方法,包括在衬底上形成非晶硅层的步骤,在非晶硅层上形成帽盖层的步骤,在帽盖层上形成金属催化剂层的步骤,在金属催化剂层上经选择性辐照激光束扩散金属催化剂的步骤,晶化非晶硅层的步骤。本发明具有如下优点:提供了一种制造薄膜晶体管的方法,其中该薄膜晶体管的制造方法通过利用选择性辐照激光束均匀控制低浓度催化剂的扩散以及利用超晶粒硅(super grain silicon)方法在非晶硅层晶化过程中控制晶粒尺寸和晶体生长位置和方向,从而改进了器件的性能并获得了器件的均匀性。
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公开(公告)号:CN1725512A
公开(公告)日:2006-01-25
申请号:CN200510082116.5
申请日:2005-06-29
Applicant: 三星SDI株式会社
IPC: H01L29/786 , H01L27/02 , H01L21/00 , H01L21/336 , G02F1/136 , G09G3/38
CPC classification number: H01L21/02672 , H01L21/02422 , H01L21/02532 , H01L21/2022 , H01L27/1255 , H01L27/1277
Abstract: 一种半导体器件中的薄膜晶体管的半导体层和电容器的第一电极是由非晶硅形成的,而且半导体层的源/漏极区的整个部分或一部分和电容器的第一电极是通过金属诱导晶化方法晶化的,半导体层的沟道区是通过金属诱导横向晶化方法晶化的。
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公开(公告)号:CN100448029C
公开(公告)日:2008-12-31
申请号:CN200410075887.7
申请日:2004-12-31
Applicant: 三星SDI株式会社
IPC: H01L29/786 , H01L21/336
CPC classification number: H01L27/1296 , H01L21/02422 , H01L21/02532 , H01L21/02672 , H01L27/1277 , H01L29/66757 , H01L29/78675
Abstract: 提供一种薄膜晶体管及其制造方法。在薄膜晶体管中,在半导体层图案而不是在结区中存在晶种或晶粒边界。该法包括形成半导体层图案。该形成的半导体层图案,包括:在非晶硅层上形成和图案化第一覆盖层;在第一覆盖层图案上形成第二覆盖层;在第二覆盖层上形成金属催化剂层;扩散金属催化剂;以及结晶非晶硅层以形成多晶硅层。因此,可以阻止在结区中产生阱,从而获得改善的和均匀特性的器件。
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公开(公告)号:CN101315883A
公开(公告)日:2008-12-03
申请号:CN200810108798.6
申请日:2008-06-02
Applicant: 三星SDI株式会社
IPC: H01L21/20 , H01L21/336 , H01L21/77 , H01L21/84 , H01L29/786 , H01L27/32
CPC classification number: H01L21/3221 , H01L21/02488 , H01L21/02532 , H01L21/02672 , H01L27/1277 , H01L29/66757 , H01L29/66765 , H01L29/78618
Abstract: 本发明提供制作多晶硅层的方法,包括:在衬底上形成非晶硅层;利用结晶诱导金属使非晶硅层结晶为多晶硅层;形成与多晶硅层中沟道区之外的区域相对应的多晶硅层的上方和下方接触的金属层图案或者金属硅化物层图案;以及退火该衬底以将存在于多晶硅层沟道区中的结晶诱导金属吸到具有金属层图案或者金属硅化物层图案的多晶硅层区域。此外,存在于多晶硅沟道区中的结晶诱导金属可以有效地去除,并且从而可以制作具有改良泄露电流特性的薄膜晶体管和包括该薄膜晶体管的OLED显示装置。
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公开(公告)号:CN101252150A
公开(公告)日:2008-08-27
申请号:CN200710307439.9
申请日:2007-12-27
Applicant: 三星SDI株式会社
IPC: H01L29/786 , H01L21/336 , H01L27/32
CPC classification number: H01L29/78675 , H01L27/1277 , H01L27/3244 , H01L29/04 , H01L29/66757
Abstract: 一种薄膜晶体管,包括:衬底;设置在衬底上的半导体层,包括源极区域、漏极区域和沟道区域,并且由多晶硅层构成;设置成与半导体层的沟道区域对应的栅极电极;设置在半导体层和栅极电极之间的栅极绝缘层;以及分别电连接到半导体层的源极区域和漏极区域的源极电极和漏极电极,其中,多晶硅层包括相互具有不同拉曼谱峰值的多个区域。
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公开(公告)号:CN101211963A
公开(公告)日:2008-07-02
申请号:CN200710300854.1
申请日:2007-12-29
Applicant: 三星SDI株式会社
IPC: H01L27/32 , H01L23/544 , H01L21/82
CPC classification number: H01L27/1285 , G09G3/3233 , G09G2300/0819 , G09G2300/0852 , G09G2300/0861 , H01L21/02488 , H01L21/02532 , H01L21/02672 , H01L27/1296 , H01L2251/566
Abstract: 本发明公开了一种有机发光显示器及其制造方法,在该有机发光显示器中,在非显示区中形成对准标记。该有机发光显示器包括:基底,具有显示区和非显示区;缓冲层,形成在整个基底上;有源层;栅极绝缘层;栅电极,对应于有源层形成在栅极绝缘层上;层间介电层,形成在栅极绝缘层上;源/漏电极,形成在层间介电层上,并电结合到有源层;绝缘层,形成在源/漏电极上;有机发光二极管,形成在绝缘层上,并电结合到源/漏电极。此外,该有机发光显示器包括形成在基底和缓冲层中的一个上的对准标记。
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公开(公告)号:CN1983571A
公开(公告)日:2007-06-20
申请号:CN200610166982.7
申请日:2006-12-13
Applicant: 三星SDI株式会社
IPC: H01L23/00 , H01L29/786 , H01L27/32 , H01L21/20 , H01L21/336 , H01L21/84 , C30B29/06
CPC classification number: H01L21/02672 , H01L21/02532 , H01L27/1277
Abstract: 本发明公开了一种多晶硅层,一种使用所述多晶硅层的平板显示器及其制造方法。所述多晶硅层通过使用超晶粒硅结晶(SGS)技术结晶非晶硅层的籽晶区而形成。所述籽晶区的结晶度扩散入籽晶区之外的结晶区。所述结晶区形成为可以被结合以制成驱动平板显示器的薄膜晶体管的半导体层。用本发明的方法制成的所述半导体层提供了一致的晶界的生长,并且改善了由所述半导体层制成的薄膜晶体管的特性。
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公开(公告)号:CN1734788A
公开(公告)日:2006-02-15
申请号:CN200410103377.6
申请日:2004-12-31
Applicant: 三星SDI株式会社
IPC: H01L29/786 , H01L21/336
CPC classification number: H01L21/02672 , H01L21/02532 , H01L21/02595 , H01L21/2022 , H01L21/2026 , H01L29/4908 , H01L29/66757 , H01L29/78675
Abstract: 本发明公开了一种薄膜晶体管及其制造方法。薄膜晶体管包括:绝缘衬底;和在衬底上形成的半导体层、栅绝缘层、栅电极、层间绝缘体以及源/漏电极,其中栅绝缘层由具有1到20埃厚度的过滤氧化物层形成。
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公开(公告)号:CN1734787A
公开(公告)日:2006-02-15
申请号:CN200410094226.9
申请日:2004-12-31
Applicant: 三星SDI株式会社
IPC: H01L29/786 , H01L21/336
CPC classification number: H01L21/02672 , H01L21/2022 , H01L29/04 , H01L29/66765 , H01L29/78609 , H01L29/78678 , H01L29/78696
Abstract: 本发明公开了一种底栅极薄膜晶体管及其制造方法,该薄膜晶体管具有通过特大晶粒硅(SGS)晶化方法晶化的沟道区,该方法包括:在绝缘基板上形成栅极电极和栅极绝缘层;在栅极绝缘层上形成非晶硅层,继而形成覆盖层和金属催化剂层;进行热处理使非晶硅层晶化成为多晶硅层;以及形成蚀刻停止层、源极和漏极区及源极和漏极电极。该薄膜晶体管包括:绝缘基板;栅极电极,其形成在所述绝缘基板上;栅极绝缘层,形成在所述栅极电极上;多晶硅层,其形成在所述栅极绝缘层上,并且通过特大晶粒硅(SGS)晶化法进行晶化;以及源极和漏极区、源极和漏极电极,它们形成在所述基板的预定区域中。
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