检查光源模块的缺陷的方法和制造光源模块的方法

    公开(公告)号:CN105280510B

    公开(公告)日:2019-05-28

    申请号:CN201510133011.1

    申请日:2015-03-25

    CPC classification number: G01M11/0278 G01J1/42 G01J2001/4252 G01M11/0257

    Abstract: 一种用于检查光源模块的缺陷的方法和制造光源模块的方法,所述用于检查光源模块的缺陷的方法包括制备其上安装有发光器件和覆盖发光器件的透镜的板。将电流施加至发光器件以接通发光器件。在发光器件接通的情况下对透镜成像。基于获得的图像计算表示发光分布相对于透镜的中心的对称性的中心对称性,并且将计算的中心对称性与参考值进行比较以确定是否发生了不对称的发光分布。还提供了用于检查光源模块的各种其它方法和设备。

    检查光源模块的缺陷的方法和制造光源模块的方法

    公开(公告)号:CN105280510A

    公开(公告)日:2016-01-27

    申请号:CN201510133011.1

    申请日:2015-03-25

    CPC classification number: G01M11/0278 G01J1/42 G01J2001/4252 G01M11/0257

    Abstract: 一种用于检查光源模块的缺陷的方法和制造光源模块的方法,所述用于检查光源模块的缺陷的方法包括制备其上安装有发光器件和覆盖发光器件的透镜的板。将电流施加至发光器件以接通发光器件。在发光器件接通的情况下对透镜成像。基于获得的图像计算表示发光分布相对于透镜的中心的对称性的中心对称性,并且将计算的中心对称性与参考值进行比较以确定是否发生了不对称的发光分布。还提供了用于检查光源模块的各种其它方法和设备。

    对非易失性存储器器件编程的方法

    公开(公告)号:CN101859601B

    公开(公告)日:2014-11-05

    申请号:CN201010158548.0

    申请日:2010-04-07

    Inventor: 权五锡 崔奇焕

    CPC classification number: G11C11/5628

    Abstract: 本发明提供一种对非易失性存储器器件编程的方法。该方法将存储器单元从一个或一个以上第一逻辑状态编程为两个或两个以上第二逻辑状态。在所述方法中,向选定字线提供编程电压的数目,并且与第二逻辑状态相对应的验证电压被提供到所述选定字线。提供到所述选定字线的编程电压的数目根据第一逻辑状态中的每个与第二逻辑状态中的每个之间的阈值电压差而变化。

    快闪存储器件及其字线电压生成方法

    公开(公告)号:CN102446553B

    公开(公告)日:2016-12-14

    申请号:CN201110293638.5

    申请日:2011-09-29

    Abstract: 一种快闪存储器的字线电压生成方法包括:使用正电压生成器生成编程电压;使用负电压生成器生成与多个负数据状态相对应的多个负编程验证电压;以及使用所述正电压生成器生成与至少一个或多个状态相对应的至少一个或多个编程验证电压。生成多个负编程验证电压包括:生成第一负验证电压;放电负电压生成器的输出,使其变得高于所述第一负验证电压;以及执行负电荷泵浦操作,直到负电压生成器的输出达到第二负验证电压电平。

Patent Agency Ranking