一种显微镜系统及显微镜
    171.
    实用新型

    公开(公告)号:CN222561853U

    公开(公告)日:2025-03-04

    申请号:CN202420648400.2

    申请日:2024-03-29

    Inventor: 江丽 毛慧 浦世亮

    Abstract: 本申请实施例提供了一种显微镜系统及显微镜,涉及到显微镜技术领域,显微镜系统包括:主机控制子系统及显微镜、显微镜包括机头成像子系统及机身运控子系统,机身运控子系统包括Z轴模块、载物台、辅助图像采集模块,机头成像子系统包括物镜、图像采集模块、物镜转换模块及物镜识别模块,主机控制子系统包括图像处理模块及显示控制模块;主机控制子系统与机头成像子系统通信连接,主机控制子系统与机身运控子系统通信连接;机头成像子系统安装在机身运控子系统上;载物台用于放置待测样品,在Z轴模块的驱动下,机头成像子系统的物镜与载物台的距离沿Z轴变化。本申请实施例降低了传统光学显微镜组景深浅对成像质量带来的不良影响。

    光学成像系统及电子设备
    172.
    实用新型

    公开(公告)号:CN222545568U

    公开(公告)日:2025-02-28

    申请号:CN202421281113.9

    申请日:2024-06-05

    Abstract: 本申请公开了一种光学成像系统及电子设备,属于光学成像技术领域。所公开的电子设备包括光学成像系统,所公开的光学成像系统包括:正透镜、负透镜和超构透镜,在光学成像系统的光轴所在方向且自物侧至成像面的方向上,负透镜、正透镜以及超构透镜依次设置,负透镜用于扩散光线,正透镜用于聚焦光线,超构透镜的物侧面或像侧面中的至少一者为超表面,且超表面包括至少两个间隔设置的微结构。相较于传统由折射透镜构成的光学成像系统,本申请所公开的光学成像系统体积更小。

    光谱采集装置及检测设备
    173.
    实用新型

    公开(公告)号:CN220438143U

    公开(公告)日:2024-02-02

    申请号:CN202321709346.X

    申请日:2023-06-30

    Abstract: 本申请公开一种光谱采集装置及检测设备,涉及检测技术领域。光谱采集装置包括防护罩、光收集器件和气流驱动组件,防护罩包括透光板和具有开口的容纳腔,透光板遮盖开口;光收集器件包括进光部,进光部设置在容纳腔内,进光部用于收集穿过透光板并进入容纳腔的光线;气流驱动组件用于形成与透光板相对设置的气流。通过将进光部设置在防护罩的容纳腔内,能够降低外界粉尘堆积到进光部的可能性;气流驱动组件形成与透光板相对设置的气流后,该气流能够降低外界粉尘堆积到透光板上的几率;在样品反射的光线穿过透光板、进入容纳腔并被进光部采集的光路中,光谱采集装置能够降低粉尘堆积的风险,降低了粉尘堆积对光线的干扰,有利于提升检测准确性。

    物品取放检测系统
    174.
    实用新型

    公开(公告)号:CN210028839U

    公开(公告)日:2020-02-07

    申请号:CN201920857393.6

    申请日:2019-06-06

    Abstract: 本实用新型公开了一种物品取放检测系统。物品取放检测系统,包括:取放检测单元、物品取放柜本体及图像采集单元;物品取放柜本体的出入口边缘具有标志物,物品取放柜本体包括一层或多层物品架;图像采集单元用于采集物品取放柜本体的出入口的图像,取放检测单元与图像采集单元连接,用于基于图像采集单元采集到的图像中的标志物信息进行物品取放检测。通过检测出入口图像中的标志物信息,基于检测结果进行物品取放检测,降低了场景和目标物品的要求,可应对频繁变化的场景和任意速度取放,检测鲁棒性高,提高了检测取放操作的真实性和准确性。

    矿物在线检测设备
    175.
    实用新型

    公开(公告)号:CN222545240U

    公开(公告)日:2025-02-28

    申请号:CN202520033479.2

    申请日:2025-01-07

    Abstract: 本申请公开一种矿物在线检测设备,属于矿物检测技术领域。矿物在线检测设备包括用于输送矿物样本的输送装置以及检测装置,检测装置与输送装置相邻,检测装置包括近红外光检测模块、X射线荧光检测模块以及激光检测模块,近红外光检测模块用于利用近红外光照射矿物样本并生成近红外光谱,X射线荧光检测模块用于利用X射线照射矿物样本产生荧光并生成X射线能谱,激光检测模块用于利用激光照射矿物样本并生成激光诱导击穿光谱,近红外光谱、X射线能谱以及激光诱导击穿光谱相结合用于检测分析矿物样本中的多种成分。如此设置,激光诱导击穿技术对原子序数较小的元素的检测能力更强,激光诱导击穿光谱和X射线能谱结合,准确检测矿物样本的成分。

    光谱采集组件、光谱分析装置、物质检测装置及其系统

    公开(公告)号:CN219084751U

    公开(公告)日:2023-05-26

    申请号:CN202223272647.9

    申请日:2022-12-06

    Abstract: 本申请提供一种光谱采集组件、光谱分析装置、物质检测装置及其系统。光谱采集组件包括壳体、近红外光源及多个检测探头。壳体包括束光腔体。近红外光源设于束光腔体的顶部,且用于向待测物质发射近红外光。多个检测探头,设于壳体;多个检测探头分别朝向待测物质且环绕束光腔体排布,多个检测探头对待测物质表面反射的近红外光进行采集并输出光信号。光谱分析装置包括光谱采集组件和分析仪,分析仪与多个检测探头连接。物质检测装置包括光谱分析装置和能谱分析装置。物质检测系统包括上述物质检测装置和数据处理器。数据处理器分别与光谱分析装置和能谱分析装置连接。对待测物质反射的近红外光采用多角度采集,有利于被检测,检测结果更准确。

    一种长波红外大口径折超混合光学成像系统及红外相机

    公开(公告)号:CN221668102U

    公开(公告)日:2024-09-06

    申请号:CN202420017592.7

    申请日:2024-01-04

    Abstract: 本实用新型公开了一种长波红外大口径折超混合光学成像系统及红外相机,属于红外光学成像领域,从物面到像面沿光轴方向包括:一片非球面透镜、一片双面超透镜及红外焦平面探测器,其中,所述非球面透镜的光焦度#imgabs0#与所述超透镜的光焦度#imgabs1#之间满足:#imgabs2#所述非球面透镜用于矫正初级像差,所述超透镜用于对红外入射光波前进行调控,并矫正高级像差;所述红外焦平面探测器用于对从所述超透镜出射的红外光进行波长选择及聚焦成像。本实用新型的成像系统解决了超表面色差过大无法承担过大光焦度并且难以加工、传统透镜数量过多引起光学系统结构笨重复杂、使用优良红外材料成本过高等问题;可实现高分辨率、高清晰度、高质量成像。

    防辐射装置以及射线检测设备

    公开(公告)号:CN219417282U

    公开(公告)日:2023-07-25

    申请号:CN202223272581.3

    申请日:2022-12-06

    Abstract: 本申请公开了一种防辐射装置以及射线检测设备。该防辐射装置包括防辐射箱、移动机构以及开关器件。防辐射箱设有检测腔以及与检测腔连通的开口。移动机构可相对于防辐射箱抽拉运动。移动机构包括第一防辐射板以及与第一防辐射板连接的支撑件。支撑件通过开口进出检测腔,并具有取放位置以及检测位置。支撑件包括承载部。其中,当支撑件处于取放位置时,承载部位于检测腔的外部。当支撑件处于检测位置时,第一防辐射板关闭开口,承载部位于检测腔的内部。该防辐射装置能够提高射线检测设备的安全性。

    衍射光栅及近眼显示设备
    179.
    实用新型

    公开(公告)号:CN217879707U

    公开(公告)日:2022-11-22

    申请号:CN202221737339.6

    申请日:2022-07-05

    Abstract: 本申请涉及一种衍射光栅及近眼显示设备。该衍射光栅包括衬底和多个光栅单元。多个光栅单元形成于所述衬底,且沿垂直于所述衬底的方向凸出于所述衬底,所述多个光栅单元在所述衬底上正投影形成的图形包含一个或多个封闭图形,所述一个或多个封闭图形在两垂直方向上至多有一个对称轴,所述多个光栅单元在所述衬底上对称设置,在所述多个光栅单元的对称轴的一侧,至少一个所述光栅单元在所述衬底上正投影形成的图形为非对称图形。近眼显示设备包括衍射光栅。该衍射光栅的衍射效率高且制备工艺简单。

    一种基于多波长的宽筛分颗粒粒度在线测量系统

    公开(公告)号:CN216247609U

    公开(公告)日:2022-04-08

    申请号:CN202120633724.5

    申请日:2021-03-29

    Abstract: 本实用新型公开一种基于多波长的宽筛分颗粒粒度在线测量系统:激光发生装置,包括三个不同波长的激光器、合束器和光纤准直器,三个不同波长的激光器发出的激光经合束器和光纤准直器后入射到输送带上形成光斑;散射光接收装置,包括透镜、散射光接收分束器和三条接收通道,三条接收通道均包括窄带滤波片和光电倍增管,颗粒经过光斑时发生散射信号,经透镜聚焦后,依次经散射光接收分束器、窄带滤波片和光电倍增管转换为电信号;处理装置,接收电信号并进行处理得到颗粒粒度。该装置基于光散射原理可以实现宽筛分布颗粒粒度的在线原位测量,测量过程无需人工操作,测量结果准确及时。

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