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公开(公告)号：CN114283898B
公开(公告)日：2024-05-28
申请号：CN202111676315.4
申请日：2021-12-31
Applicant: 中北大学
Abstract: 本发明属于测距方法技术领域，具体涉及一种基于氧气A带的被动测距分辨率影响分析方法，包括下列步骤：建立光谱获取模块；建立基于HITRAN的氧分子吸收特性数据库；建立氧分子光谱区间Δω间隔内的带平均透过率计算模型；计算出氧分子吸收系数；通过带平均透过率计算模型和距离反演算法的到测距数据库，从而得出测量距离。本发明利用氧气A带动态范围大，谱线分布规则，受周围环境影响不大等特性进行测距系统搭建，并将氧气A带应用于被动测距技术，具有隐蔽性好，设备简单等突出优点。且本发明探讨仪器分辨率对被动测量透过率的影响，建立了透过率的计算模型，为不同领域研发者提供理论依据。
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公开(公告)号：CN112129983B
公开(公告)日：2024-05-10
申请号：CN202011021173.3
申请日：2020-09-25
Applicant: 中北大学
IPC: G01R13/02
Abstract: 本发明属于波形恢复数据处理技术领域，具体涉及一种基于等时间间隔等效取样的波形恢复数据处理方法，包括下列步骤：S1、采用等时间间隔脉冲信号对超高频信号进行等效取样；S2、在频域内逐次逼近超高频信号的幅值最大值所对应的频率值；S3、通过欠取样时域波形和频率值的确定，重建原始信号。所述S1中对超高频信号进行取样的方法为：采用三个相邻采样频率对被测超高频信号分别进行取样，得到采样值。本发明采用三个相邻采样频率对被测信号进行取样，可克服被测信号含有整倍频采样率成分时的漏频问题，同时也可以基于三个不同取样率的取样信号进行频谱信号的频率计算。本发明用于波形的恢复及数据处理。
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公开(公告)号：CN117949393A
公开(公告)日：2024-04-30
申请号：CN202311655465.6
申请日：2023-12-05
Applicant: 中北大学
IPC: G01N21/21
Abstract: 本发明属于旋光角检测技术领域，具体涉及一种基于双光弹自反馈调制的高精度旋光角检测装置及方法，所述0°起偏器设置在光源的光路方向上，所述待测旋光样品设置在0°起偏器的光路方向上，所述45°四分之一波片设置在待测旋光样品的光路方向上，所述0°PEM1调制器设置在45°四分之一波片的光路方向上，所述45°PEM2调制器设置在0°PEM1调制器的光路方向上，所述90°检偏器设置在45°PEM2调制器的光路方向上，所述探测器设置在90°检偏器的光路方向上。本发明采用两个光弹调制器调制，通过锁相两个光弹调制器不同和频、差频信号，通过不同频率信号幅值比值，实时获得两个光弹调制器的相位延迟幅值、消除光源光强波动影响。
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公开(公告)号：CN110350892B
公开(公告)日：2023-03-31
申请号：CN201910671269.5
申请日：2019-07-24
Applicant: 中北大学
IPC: H03K5/131
Abstract: 本发明属于取样示波器技术领域，具体涉及一种基于DDS时钟移相技术的延时装置及方法，包括触发输入模块、DDS模块、FPGA模块、延时脉冲同步模块和取样触发脉冲输出模块，触发输入模块与DDS模块的输入端连接；FPGA模块中的测频模块与DDS模块的输出端连接；FPGA模块中的控制通信模块与DDS模块的通信接口连接；DDS模块与延时脉冲同步模块的数据输入端连接；FPGA模块的脉冲信号产生模块与延时脉冲同步模块的时钟输入端连接；延时脉冲同步模块的输出端与取样触发脉冲输出模块连接。本方案应用于取样示波器中，可以解决顺序等效采样中延时精度低，范围小的问题。
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公开(公告)号：CN115855261A
公开(公告)日：2023-03-28
申请号：CN202211458821.0
申请日：2022-11-17
Applicant: 中北大学
IPC: G01J4/00
Abstract: 本发明属于椭偏测量装置技术领域，具体涉及一种基于弹光调制干涉具的高速傅里叶光谱椭偏测量装置，所述宽波段复色红外光源的光路方向上设置有第一偏振片，所述第一偏振片的光路方向上设置有样品，所述样品设置在载物台上，所述样品的反射光路上设置有第一可旋转补偿器，所述第一可旋转补偿器的光路方向上设置有第二偏振片，所述第二偏振片的光路方向上设置有高速弹光调制干涉具，所述高速弹光调制干涉具的光路方向上设置有第三偏振片，所述第三偏振片的光路方向上设置有高速宽波段探测器。本发明通过对高速弹光调制傅里叶光谱技术，结合对光谱椭偏技术，解决宽波段光谱椭偏测量速度慢的问题，实现了可见到红外宽波段，毫秒级光谱椭偏测量。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115684027A
公开(公告)日：2023-02-03
申请号：CN202211182428.3
申请日：2022-09-27
Applicant: 中北大学
IPC: G01N21/21
Abstract: 本发明属于椭偏精确测量装置及方法技术领域，具体涉及一种基于单弹光调制自反馈的超高速椭偏精确测量装置及方法，所述光源的光路方向上依次设置有起偏器、四分之一波片、被测样品，所述被测样品的反射光路上依次设置有弹光调制器、检偏器、探测器，所述弹光调制器电性连接有弹光调制器驱动控制及多路数字锁相放大电路。本发明通过对单个弹光调制调制后的光电信号进行多倍频信号锁相放大，以弹光调制器驱动频率为参考，获得一倍频、二倍频、三倍频、四倍频的信号幅值，结合理论计算实时获得两个弹光调制器自身长期工作温度影响及环境影响导致调制相位幅值，进而实现被测样品的椭偏参数Δ和Ψ的精确测量。
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公开(公告)号：CN115575329A
公开(公告)日：2023-01-06
申请号：CN202211180170.3
申请日：2022-09-27
Applicant: 中北大学
Abstract: 本发明属于全范围椭偏测量装置技术领域，具体涉及一种基于双弹光级联差频调制的全范围椭偏测量装置，包括检测光源、起偏器、第一弹光调制器、样品、第二弹光调制器、检偏器、光电探测器，所述检测光源的光路方向上依次设置有起偏器、第一弹光调制器、样品，所述样品的反射光路上依次设置有第二弹光调制器、检偏器、光电探测器。本发明利用弹光调制器的调制频率高、调制纯度大、通光光谱范围宽和视场角大等优势，选用两个调制频率不一致的弹光调制器联合使用，构建双弹光级联差频调制，基于该调制技术能够实现出射光全部4个Stokes矢量测量，进而能够实现椭偏参量全范围测量。
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公开(公告)号：CN112945864B
公开(公告)日：2022-11-08
申请号：CN202110138831.5
申请日：2021-02-01
Applicant: 中北大学
Abstract: 本发明属于本发明属于广义椭偏分析方法及仪器设备技术领域，具体涉及一种基于双快轴可调弹光调制的广义椭偏分析装置，所述准直光源的光路方向上依次设置有偏振发生器、样品夹具，所述样品夹具上固定有待测样品，所述样品夹具的底部与仪器旋转台转动连接，所述待测样品的光路方向上依次设置有偏折分析器、光谱测量系统，所述光谱测量系统通过导线连接有控制电脑PC，所述控制电脑PC连接有弹光调制系统控制模块，所述弹光调制系统控制模块分别与偏振发生器、偏折分析器连接。本发明无需机械调节，并且本发明快速、准确，能够为偏振测量相关领域提供新装置和新方法。本发明用于广义椭偏分析。
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公开(公告)号：CN115016020A
公开(公告)日：2022-09-06
申请号：CN202210492145.2
申请日：2022-05-07
Applicant: 中北大学
Abstract: 本发明属于激光告警装置技术领域，具体涉及一种基于棱镜的大视场激光告警装置，包括视场压缩系统、梯形棱镜、透镜、面阵探测器，所述视场压缩系统的光路方向上设置有梯形棱镜，所述梯形棱镜的光路方向上设置有透镜，所述透镜的光路方向上设置有面阵探测器。本发明可根据光斑中心坐标来算出此时棱镜的折射率，因此对应不同的折射率可以算出来袭激光的波长，从而判断出激光的功能，便于我们做出正确的应对措施。并且本发明采用棱镜作为分光系统，大大提高的光利用率，解决了由传统光栅衍射光斑重级带来的误警率等问题，从而大大提高探测精度。
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公开(公告)号：CN111257740B
公开(公告)日：2022-08-02
申请号：CN202010263660.4
申请日：2020-04-07
Applicant: 中北大学
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明属于测试夹具技术领域，具体涉及一种用于射频开关芯片测试的PCB夹具，包括弹片、PCB夹具底座和PCB夹具盖，所述PCB夹具盖设置在PCB夹具底座上，所述PCB夹具底座包括上层、下层，所述上层为弹片限位块，所述弹片设置在弹片限位块内，所述下层为PCB夹具底板，所述弹片限位块固定在PCB夹具底板上，所述弹片限位块四面分别置有大小相同的矩形槽口，所述弹片限位块中心处的PCB夹具底板上固定有支撑衬底，所述支撑衬底上设置有芯片支撑块，所述芯片支撑块的四周设置有四个大小相同的弹簧固定槽。本发明具有结构简单、灵敏度高、寿命长、制作成本低的特点，本发明可以根据不同PCB测试板做改变，有效降低设计成本。本发明用于射频开关芯片的测试。
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