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公开(公告)号:CN105066937A
公开(公告)日:2015-11-18
申请号:CN201510500532.6
申请日:2015-08-14
Applicant: 北京林业大学
Abstract: 本发明是一种小班动态生长量的精准计测方法。以小班为基本单位,通过在小班内设置永久性标志点,利用角度计数器测量各计数木参数,计算林分混交比、平均树高、平均胸径、密度等参数,对小班动态生长量进行精准计测,可简单、快速、定量精准计测小班动态生长量,操作方便,提高了小班动态生长量测定的效率与精度。
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公开(公告)号:CN104807448A
公开(公告)日:2015-07-29
申请号:CN201510200761.6
申请日:2015-04-24
Applicant: 北京林业大学
IPC: G01C11/00
CPC classification number: G01C11/00
Abstract: 本发明公开了一种线路纵横断面地面立体摄影的测算方法。该发明是根据摄影测量技术,采用地面立体摄影测量方法,通过在待测断面上设置特征点并提取特征同名点的方式,获取待测断面的左右立体像对,从而通过影像匹配法分别获得纵横断面左右像片的相似曲线;然后,通过建立物方空间坐标系O-XYZ,分别针对纵横断面各自的位置特点,利用最小二乘法分别求算纵横断面各自的高程值;最后,求得的高程值拟合的变化曲线就近似为待求纵横断面的变化曲线图。
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公开(公告)号:CN104792314A
公开(公告)日:2015-07-22
申请号:CN201510200762.0
申请日:2015-04-24
Applicant: 北京林业大学
IPC: G01C11/00
CPC classification number: G01C11/00 , G01C2011/36
Abstract: 一种测距摄影仪地面立体摄影外方位元素的测算方法,其特征在于:使用测距摄影仪对半径为300m范围内的样地进行测量;在S1、S2处分别对远处的P位置进行任意摄影获得立体像对,并测量两点之间的距离获得斜距D0;在摄站S1和S2上,分别测得到P点的竖直角β1、β2,解算出S1到S2的平距B、S1点和S2点之间垂直方向上的坐标增量Δz、S1P与S1S2之间的夹角以及S2P与S2S1之间的夹角可求得PS1和PS2之间的夹角γ,进而,可求解等偏角;再对两张像片进行纠正,得到纠正后的像方坐标m(u,v)和m’(u’,v’),计算出所求任意一像点M的坐标值。
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公开(公告)号:CN104634322A
公开(公告)日:2015-05-20
申请号:CN201510064808.0
申请日:2015-02-06
Applicant: 北京林业大学
IPC: G01C11/00
Abstract: 本发明公开了一种森林固定样地无人机倾斜摄影技术方法。该发明是利用无人机倾斜摄影技术,针对森林固定样地的三种不同地形(平地、上坡向地和下坡向地),建立无人机两次摄影点间的基线长B、无人机从起飞地点算起的飞行高度H、无人机倾斜摄影角度ω、无人机的相机拍摄视场角β以及森林固定样地的边长a之间的几何方案关系,由此分别设计不同地形情况的最优飞行方案。然后可以依此为基础,测量获取森林样地各种参数,最终求得森林中的生物量和蓄积量。
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公开(公告)号:CN104613940A
公开(公告)日:2015-05-13
申请号:CN201510060554.5
申请日:2015-02-05
Applicant: 北京林业大学
IPC: G01C11/00
Abstract: 本发明涉及一种森林固定样地摄影测量方案,利用定焦数码相机,在摄影视场内树立竖直花杆,在样地对角线上的两个固定观测点对森林固定样地任意摄影,通过对获得的样地数码相片进行解析,根据相关数学模型及摄影测量解析公式解算出样地内每株样木的坐标、胸径、树高、材积及样地林分蓄积量,简单、快速、定量计算森林的特征参数,工具简单,操作方便,提高了测算效率与精度,快捷、方便地实现森林固定样地调查。
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公开(公告)号:CN103808355A
公开(公告)日:2014-05-21
申请号:CN201410076551.6
申请日:2014-03-04
Applicant: 北京林业大学
IPC: G01D21/00
Abstract: 本发明公开了一种测树角度器及其使用方法。该发明设计了一种测树角度器,该角度器由透明条尺及准绳构成,观测时一手着绳端置于眼前,一手着尺身,按照通过条尺两侧的视线与目标树冠幅的相切、相割、相余的关系进行计数,实现两大功能:①通过测定每株计数木的地径、冠幅、灌木高度和生物量等确定数学建模,利用数学模型计算样地的总生物量;②通过测量球状植被冠幅处,按上述规则进行计数,通过数学模型实现球状植被郁闭度的测定,该方法大大提高了灌木生物量、郁闭度的计测效率和精度,克服了以往破坏性测定方法精度高则破坏性大、非破坏性方法无损却精度低的缺陷。
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