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公开(公告)号：CN105700029B
公开(公告)日：2018-11-16
申请号：CN201610046515.4
申请日：2016-01-22
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01V5/00
CPC classification number: G01V5/0075 , G01N2223/205 , G01T1/167 , G01T5/02 , G01V5/0091 , G06K9/6267
Abstract: 本申请涉及基于宇宙射线的检查对象的方法、装置及系统，属于辐射成像及安全检查技术领域。该方法包括：利用监控设备记录受检查对象的运动轨迹；利用位置灵敏探测器获取所述宇宙射线中的带电粒子信息，所述带电粒子信息包括带电粒子径迹信息；将所述运动轨迹和所述径迹信息进行位置符合，确定所述对象；根据所述带电粒子信息进行所述带电粒子的径迹重建；根据所述径迹重建，识别所述运动对象内部的材料。本公开通过宇宙射线，针对行走运动中的人的进行检查，可以检测人体携带的核材料、毒品及爆炸物等危险品。
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公开(公告)号：CN108169254A
公开(公告)日：2018-06-15
申请号：CN201611116487.5
申请日：2016-12-07
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
CPC classification number: G01N23/04 , G01N23/046 , G01N23/06 , G01N23/20008 , G01N2223/304 , G01N2223/33 , G01N2223/401 , G01N2223/419 , G01N2223/652 , G01V5/0016 , G01V5/0025 , G01V5/0091
Abstract: 公开了一种检查设备和检查方法。该检查方法包括步骤：对被检查物体进行X射线扫描以产生被检查物体的图像；对所述被检查物体的图像进行分割以确定至少一个感兴趣区域；探测宇宙射线与所述感兴趣区域的相互作用，得到探测值；基于所述感兴趣区域的尺寸信息和所述探测值计算宇宙射线在所述感兴趣区域的散射特性值和/或吸收特性值；以及利用所述散射特性值和/或吸收特性值分辨所述感兴趣区域的材料属性。利用上述方案，能够对提高检查的准确性和检查效率。
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公开(公告)号：CN106324649A
公开(公告)日：2017-01-11
申请号：CN201610797815.6
申请日：2016-08-31
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01T1/00
CPC classification number: H01L31/118 , G01T1/026 , G01T1/241 , H01L27/1446 , H01L31/022408 , H01L31/022416 , H01L31/028 , H01L31/0296 , H01L31/02966 , H01L31/0304 , H01L31/032
Abstract: 公开了一种半导体探测器。根据实施例，该半导体探测器可以包括：半导体探测材料，包括彼此相对的第一侧面和第二侧面，其中，第一侧面和第二侧面之一是接收入射射线的射线入射面；设置于第一侧面上的多个像素阴极；设置于第二侧面上的多个像素阳极，其中，像素阳极与像素阴极彼此一一对应；以及设置于射线入射面上各像素阴极或像素阳极外周的阻挡电极。根据本公开的实施例，可以有效避免像素之间的电荷共享，提高探测器的成像分辨率。
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公开(公告)号：CN105700029A
公开(公告)日：2016-06-22
申请号：CN201610046515.4
申请日：2016-01-22
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01V5/00
CPC classification number: G01V5/0075 , G01N2223/205 , G01T1/167 , G01T5/02 , G01V5/0091 , G06K9/6267 , G01V5/0025 , G01V5/005 , G01V5/0058 , G01V5/0066
Abstract: 本申请涉及基于宇宙射线的检查对象的方法、装置及系统，属于辐射成像及安全检查技术领域。该方法包括：利用监控设备记录受检查对象的运动轨迹；利用位置灵敏探测器获取所述宇宙射线中的带电粒子信息，所述带电粒子信息包括带电粒子径迹信息；将所述运动轨迹和所述径迹信息进行位置符合，确定所述对象；根据所述带电粒子信息进行所述带电粒子的径迹重建；根据所述径迹重建，识别所述运动对象内部的材料。本公开通过宇宙射线，针对行走运动中的人的进行检查，可以检测人体携带的核材料、毒品及爆炸物等危险品。
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公开(公告)号：CN105549103A
公开(公告)日：2016-05-04
申请号：CN201610045068.0
申请日：2016-01-22
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01V5/00
CPC classification number: G01V5/0075 , G01V5/0016 , G01V5/0091 , G01V5/0025 , G01V5/005 , G01V5/0058 , G01V5/0066
Abstract: 本申请涉及基于宇宙射线的检查运动对象的方法、装置及系统，属于辐射成像及安全检查技术领域。该方法包括：检测受检查运动对象的速度在预设范围内；利用监控设备记录所述运动对象的运动轨迹；利用位置灵敏探测器获取所述宇宙射线中的带电粒子信息，所述带电粒子信息包括所述带电粒子径迹信息；将所述运动轨迹和所述径迹信息进行位置符合，确定所述运动对象；根据所述带电粒子信息进行所述带电粒子的径迹重建；根据所述径迹重建，识别所述运动对象内部的材料。本公开通过宇宙射线，针对运动中的运动车辆的进行检查，可以检测车辆携带的核材料、毒品及爆炸物等危险品。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119575496A
公开(公告)日：2025-03-07
申请号：CN202411975500.7
申请日：2024-12-30
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司
IPC: G01V5/22 , G01N23/203 , G01N23/20008 , G01N23/04
Abstract: 本申请提供一种辐射检查系统，其包括多个扫描装置，这多个扫描装置环绕检查通道设置，以从不同角度对位于检查通道中的被检对象进行扫描，各扫描装置均包括射线源、飞轮和背散探测器，射线源、飞轮和背散探测器配合，对被检对象进行飞点背散扫描，各扫描装置的射线源按照各自的预设出束频率进行脉冲出束，且各扫描装置的射线源的出束时机错开，使得各扫描装置的射线源不同时出束。这样，可方便多个扫描装置不同时对被检对象进行飞点背散扫描。
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公开(公告)号：CN119259504A
公开(公告)日：2025-01-07
申请号：CN202411629953.4
申请日：2024-11-14
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
Inventor： 陈志强 , 李元景 , 张丽 , 宗春光 , 周合军 , 张植俊 , 刘必成 , 党永乐 , 张俊斌 , 徐晓莹 , 刘家良 , 王振严 , 韩文学 , 卞振华 , 徐斌 , 朱道瑶 , 韩凯锋 , 黄新闯
Abstract: 提供了一种物料分选方法，具体包括：获取待分选物料的X射线图像以及三维图像；基于所述X射线图像以及所述三维图像中的至少一个，识别各物料的物料状态，其中，所述物料状态包括非粘连状态和粘连状态，所述粘连状态包括与其余至少一个物料相接触的状态；对于所述X射线图像以及所述三维图像，若已执行物料状态识别则基于所述各物料的物料状态进行图像分割，若未执行物料状态识别则直接对所述各物料进行图像分割；基于所述各物料的物料状态，将经图像分割的所述X射线图像中的各物料分别与经图像分割的所述三维图像中的对应物料相匹配；根据所述X射线图像以及所述三维图像之间的物料匹配结果进行物料分选。还提供了一种物料分选装置。
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公开(公告)号：CN118758980A
公开(公告)日：2024-10-11
申请号：CN202410785279.2
申请日：2021-07-12
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01N23/04
Abstract: 本公开提出一种辐射成像系统和方法，涉及辐射探测技术领域。本公开的一种辐射成像系统包括：光电二极管探测器，被配置为接收来自射线源的射线，并生成第一探测信号；第一成像设备，与光电二极管探测器连接，被配置为根据第一探测信号生成第一成像数据；计数探测器，位于光电二极管探测器的远离射线接收面的一侧，被配置为接收穿过光电二极管探测器的射线，生成第二探测信号；计数成像设备，与计数探测器连接，被配置为根据第二探测信号生成计数成像数据；和图像融合装置，被配置为根据第一成像数据和计数成像数据，获取第一融合图像，提高辐射探测质量。
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公开(公告)号：CN118483260A
公开(公告)日：2024-08-13
申请号：CN202410911913.2
申请日：2024-07-09
Applicant: 同方威视科技江苏有限公司 , 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/222 , G01N23/04 , G01N23/083
Abstract: 本发明涉及基于放射性的元素分析领域，尤其是，涉及一种元素分析系统、方法和装置、以及程序产品，所述元素分析系统包括：X射线扫描设备，包括X射线源和探测器阵列，对物料进行双能的X射线扫描；瞬发伽玛中子活化分析设备，在所述物料传输方向上，安装在所述X射线扫描设备的下游；以及控制装置，基于所述X射线扫描获得的各位置上的物料的尺寸、质量衰减系数和密度，计算自吸收修正系数，对伽马能谱进行修正。通过本申请的元素分析系统、方法和装置、以及程序产品，能够提高修正系数的计算准确度，从而提高元素分析检测精度。
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公开(公告)号：CN109142404B
公开(公告)日：2024-06-11
申请号：CN201811291946.2
申请日：2018-11-01
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技江苏有限公司
IPC: G01N23/203
Abstract: 本发明公开了一种背散射成像系统、扫描检查系统和背散射图像成像方法。背散射成像系统包括：背散射线源，背散射线源被设置为执行扫描时具有无扫描光束发出的第一扫描状态和发出扫描光束的第二扫描状态；背散探测器，背散探测器在背散射成像系统的背散射线源处于第一扫描状态下探测第一背散射信号，在背散射线源处于第二扫描状态下探测第二背散射信号；控制装置，与背散探测器信号连接，被设置为用根据第一背散射信号形成的修正信号修正第二背散射信号以得到修正背散射信号，并根据修正背散射信号形成图形信息；和成像装置，与控制装置信号连接，根据图形信息生成第二扫描状态下的背散射图像。本发明获得的背散射图像更加清晰。
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