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公开(公告)号：CN101526464B
公开(公告)日：2011-05-11
申请号：CN200810101353.5
申请日：2008-03-05
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
CPC classification number: G01N21/3581
Abstract: 公开了一种通过衍射光栅获得物体在连续波太赫兹辐射照射下相衬图像的方法和设备。该方法包括步骤：用相干太赫兹辐射照射物体以与物体相互作用；使得与物体作用后的太赫兹辐射照射衍射光栅；沿衍射光栅波矢方向平移衍射光栅，以便针对不同的光栅位置，在衍射场内测量与物体和光栅作用之后的太赫兹辐射的光强分布；以及根据光强分布恢复出物体的相衬图像。同现有技术相比，本发明的方法具有增强弱吸收物质太赫兹成像质量的本领，本发明的设备具有结构紧凑、操作简单的优点。
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公开(公告)号：CN101071110B
公开(公告)日：2011-05-11
申请号：CN200610076572.3
申请日：2006-05-08
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/04
CPC classification number: G01N23/046 , A61B6/027 , G01N2223/419 , G06T7/0008 , G06T7/97 , G06T2207/10081 , G06T2207/20016 , G06T2207/30112 , Y10S378/901
Abstract: 本发明涉及辐射检测技术领域，尤其涉及一种基于螺旋扫描立体成像的货物安全检查方法，应用于包括双能量射线源、转台、数据采集单元和主控及数据处理计算机的货物安全检查系统，该方法包括：A、对检查对象进行快速螺旋扫描，重建检查对象的物理参数分布图像；B、判断重建的图像中是否存在嫌疑区域，如果存在，则执行步骤C；否则，结束本流程；C、对存在的嫌疑区域进行计算机断层扫描，重建嫌疑区域的断层图像，根据重建的断层图像对检查对象进行安全检查。利用本发明，缩短了对检查对象的扫描时间，进而节约了对货物安全检查的时间，实现对货物的快速准确检查。另外，本发明实现成本低，非常有利于本发明的推广和应用。
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公开(公告)号：CN100594516C
公开(公告)日：2010-03-17
申请号：CN200710062928.2
申请日：2007-01-22
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本发明涉及图像处理技术领域，尤其涉及工业或医学X射线图像检查系统的图像增强处理方法。该方法包括如下步骤：S1：输入采集到的X射线图像；S2：采用可调节强度的Laplacian边缘增强算法对图像进行边缘增强处理；S3：采用快速局部直方图均衡化LHE处理增强图像中的每一处细节；S4：对经过步骤S3处理的图像数据进行灰度范围拉伸；S5：输出增强的图像。同现有各种检查设备上的透视图像增强算法相比，本发明增强效果好，自适应能力强、自动化程度高、使用简单，并且执行速度快。
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公开(公告)号：CN101526464A
公开(公告)日：2009-09-09
申请号：CN200810101353.5
申请日：2008-03-05
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
CPC classification number: G01N21/3581
Abstract: 公开了一种通过衍射光栅获得物体在连续波太赫兹辐射照射下相衬图像的方法和设备。该方法包括步骤：用相干太赫兹辐射照射物体以与物体相互作用；使得与物体作用后的太赫兹辐射照射衍射光栅；沿衍射光栅波矢方向平移衍射光栅，以便针对不同的光栅位置，在衍射场内测量与物体和光栅作用之后的太赫兹辐射的光强分布；以及根据光强分布恢复出物体的相衬图像。同现有技术相比，本发明的方法具有增强弱吸收物质太赫兹成像质量的本领，本发明的设备具有结构紧凑、操作简单的优点。
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公开(公告)号：CN100405400C
公开(公告)日：2008-07-23
申请号：CN200510077797.6
申请日：2005-06-27
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G06T5/00
CPC classification number: G06T5/40 , G06T5/009 , G06T2207/10116 , G06T2207/30004
Abstract: 一种辐射成像中图像信息增强的方法，涉及辐射成像中的图像信息处理技术。本发明方法的主要步骤为：在获取的被测物体的辐射图像A(x，y)中查找像素灰度最大值Amax；将图像A(x，y)归一化处理后的图像B(x，y)进行均值滤波处理得到图像C(x，y)；将图像B(x，y)减去图像C(x，y)得到的差值与像素点的边缘域值比较得到图像D(x，y)，并对其进行非线性对比度增强变换得到图像E(x，y)；将确定的增强比例系数α(x，y)和E(x，y)、C(x，y)相乘得到边缘增强图像F(x，y)；最终增强图像G(x，y)＝(F(x，y)+C(x，y))*Amax。同现有技术相比，本发明方法对图像信息增强处理速度快、算法简单、成像清晰，消除了图像的噪声，满足扫描图像对于暗区域的对比度需要增强更多的要求。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101071110A
公开(公告)日：2007-11-14
申请号：CN200610076572.3
申请日：2006-05-08
Applicant: 清华大学 , 清华同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/083 , G01N23/04
CPC classification number: G01N23/046 , A61B6/027 , G01N2223/419 , G06T7/0008 , G06T7/97 , G06T2207/10081 , G06T2207/20016 , G06T2207/30112 , Y10S378/901
Abstract: 本发明涉及辐射检测技术领域，尤其涉及一种基于螺旋扫描立体成像的货物安全检查方法，应用于包括双能量射线源、转台、数据采集单元和主控及数据处理计算机的货物安全检查系统，该方法包括：A.对检查对象进行快速螺旋扫描，重建检查对象的物理参数分布图像；B.判断重建的图像中是否存在嫌疑区域，如果存在，则执行步骤C；否则，结束本流程；C.对存在的嫌疑区域进行计算机断层扫描，重建嫌疑区域的断层图像，根据重建的断层图像对检查对象进行安全检查。利用本发明，缩短了对检查对象的扫描时间，进而节约了对货物安全检查的时间，实现对货物的快速准确检查。另外，本发明实现成本低，非常有利于本发明的推广和应用。
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公开(公告)号：CN1971620A
公开(公告)日：2007-05-30
申请号：CN200510123588.0
申请日：2005-11-21
Applicant: 清华大学 , 清华同方威视技术股份有限公司
IPC: G06T11/00
CPC classification number: G01N23/046 , A61B6/032 , G01N2223/3303 , G01N2223/419 , G06T11/006 , G06T2211/421
Abstract: 公开了一种采用直线轨迹扫描的图像重建系统和方法，以避免在数据重排中因为角度方向插值和探测器方向插值造成的图像分辨率下降。该系统包括：投影数据转换部分，用于将直线轨迹扫描下的投影数据转换成拟平行束扫描下的投影数据；滤波部分，通过用预定的卷积函数核与拟平行束扫描下的投影数据卷积，来获得滤波后的投影数据；以及反投影部分，通过对滤波后的投影数据进行加权反投影来重建图像。利用本发明的系统和方法，提高了图像重建分辨率，降低数据截断对重建图像的影响。本发明采用滤波反投影的形式，因而具有一般滤波反投影的优点，比如重建快速，利于并行，便于加速等。
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公开(公告)号：CN119741711A
公开(公告)日：2025-04-01
申请号：CN202411993318.4
申请日：2020-03-31
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G06V30/148 , G06V30/14
Abstract: 本申请提供了一种基于二叉树的字符排序方法、基于二叉树的字符排序装置、光学字符序列定位和识别方法、光学字符序列定位和识别装置、电子设备以及计算机可读存储介质。所述基于二叉树的字符排序方法包括：在包括目标字符序列的区域中进行图案采集，以获得图案集合；对图案集合中的每一个图案进行遍历，将处于相同行或列中的图案置于相同二叉树中；以及从二叉树中顺序识别各个节点处的图案，以获得目标字符序列。
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公开(公告)号：CN112528705B
公开(公告)日：2025-01-24
申请号：CN201910879533.4
申请日：2019-09-17
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G06F16/535 , G06T19/00
Abstract: 本申请提供了一种基于语义的图像识别系统，可以包括：透视图获取模块，被配置为获取针对封闭环境中的被检对象的透视图；语义要素提取模块，被配置为提取针对所述透视图中的每一个被检对象的目标语义区域；特征表示模块，被配置为获得针对所述语义区域中的每一个语义区域的特征表示；决策模块，被配置为基于过滤模型以及预定阈值，确定目标特征以识别被检对象；以及显示模块，被配置为显示被检对象的信息。
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公开(公告)号：CN117929423A
公开(公告)日：2024-04-26
申请号：CN202311865662.0
申请日：2023-12-29
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01N23/00
Abstract: 提供一种用于对扫描成像设备进行能谱标定的标定方法，包括：在能谱标定模体位于射线形成的扫描区域中的情况下，根据射线源、能谱标定模体和探测器之间的相对位置，获取射线源、能谱标定模体和探测器之间的几何关系；通过探测器采集经过扫描区域的射线，以获取实际投影数据；获取能谱标定模体的物理属性，其中，物理属性是根据能谱标定模体的组成材料预先确定的或根据图像重建方法计算得到的；基于能谱标定模体的物理属性和几何关系，使用预定的多个基础能谱计算理论投影数据；根据理论投影数据和实际投影数据，对能谱参数进行标定，以获取优化的能谱参数；以及将优化的能谱参数确定为能谱标定参数。
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