一种超短基线顺变柱体结构光纤位移传感器及光纤应变仪

    公开(公告)号:CN102927914B

    公开(公告)日:2015-08-12

    申请号:CN201210381978.8

    申请日:2012-10-10

    Abstract: 本发明提供的是一种超短基线顺变柱体结构光纤位移传感器及光纤应变仪。光纤应变仪包括光纤位移传感器(1)、测量基线(4)、基线固定装置(5)、悬吊系统(3)、测量控制和信号记录与处理系统(6)、测量标定装置(7),光纤位移传感器(1)固定在第1基岩(21)上并与测量基线(4)的首端(41)连接,测量基线(4)的末端(42)安装测量标定装置(7)、并通过基线固定装置(5)固定在第2基岩(22)上,测量基线(4)的中间安装悬挂系统(3),位移传感器(1)和测量标定装置(7)通过信号连接线与测量控制和信号记录与处理系统(6)连接。本发明用于地球物理学研究,观测地壳应变和固体潮汐、获取地震前兆信息等。

    一种光学偏振器件分布式串扰测量灵敏度增强的装置

    公开(公告)号:CN104792503A

    公开(公告)日:2015-07-22

    申请号:CN201510223974.0

    申请日:2015-05-05

    Abstract: 本发明的目的在于提供一种增强测量信号的信噪比,提高偏振串扰测量的灵敏度和动态范围,用于光学器件偏振性能的高精度测量与分析的光学偏振器件分布式串扰测量灵敏度增强的装置。一种光学偏振器件分布式串扰测量灵敏度增强的装置,包括宽谱光源、起偏器、待测偏振器件、第一光纤旋转连接器、第二光纤旋转连接器、光程解调与信号探测器、信号检测与处理装置。本发明在单一相关器测量极限的基础上,采用光程相关器两支路同步测量的结构,使用偏振分束器将传输在两偏振主轴上的信号光分离,两路干涉信号同步扫描后线性叠加,在将测量信噪比提升倍的同时,又能测量分布式串扰的绝对强度,大幅提高测量系统灵敏度和准确性。

    一种超短基线差分盘式光纤位移传感器及光纤应变仪

    公开(公告)号:CN102927913B

    公开(公告)日:2015-04-08

    申请号:CN201210381977.3

    申请日:2012-10-10

    Abstract: 本发明提供的是一种超短基线差分盘式光纤位移传感器及光纤应变仪。包括外框架,带外螺纹的压圈将位移转换装置外圈压紧在外框架上,中心压垫的螺纹柱穿过移转换装置中心孔,第1法拉第旋镜与第2法拉第旋镜固化在中心压垫上,光纤耦合器和相位调制器固化在外框架内壁表面,外框架与固定座固定,第1测量光纤和第2测量光纤分别缠绕为中空盘式层状结构的多层光纤环,第1测量光纤和第2测量光纤分别固化在位移转换装置的上下表面上,耦合器连接第1测量光纤、相位调制器和探测器,第1测量光纤连接第1法拉第旋镜,相位调制器连接第2测量光纤,第2测量光纤连接第2法拉第旋镜。本发明主要用于地壳应变和固体潮汐观测,以及地震前兆信息获取。

    一种光学相干域偏振测量装置

    公开(公告)号:CN103743487A

    公开(公告)日:2014-04-23

    申请号:CN201310739314.9

    申请日:2013-12-30

    Abstract: 本发明设计属于光纤测量技术领域,具体涉及到差分对称光程扫描的一种光学相干域偏振测量装置。本发明的宽谱光源、起偏器、待测偏振器件、检偏器、光程相关器、差分探测装置、光电信号转换与信号记录装置按照上述顺序连接在一起。本发明利用光学相干域偏振测量装置信号输出幅度与光程扫描延迟器透射光强的乘积成正比的特点,使处于光程相关器两干涉臂中的差分对称光程扫描装置实现光强自动补偿,极大地抑制了单一扫描器强度浮动对测量的影响,提高偏振串音的测量精度,降低对扫描器强度浮动性能的要求。

    一种光学器件偏振串扰测量的全光纤测试装置

    公开(公告)号:CN102928198A

    公开(公告)日:2013-02-13

    申请号:CN201210379406.6

    申请日:2012-10-09

    Abstract: 本发明提供的是一种光学器件偏振串扰测量的全光纤测试装置。包括宽谱光源(501)、起偏器(511)、待测偏振器件(522)、光程相关器(530)、差分探测装置(550)、光电信号转换与信号记录装置(560),宽谱光源(501)通过起偏器(511)、第1旋转连接器(521)与待测光纤器件(522)连接,再通过第2旋转连接器(523)与偏振分束Michelson结构光程相关器(530)连接;光程相关器(530)通过第3旋转连接器(541)连接偏振差分探测装置(550)后,与干涉信号检测与处理装置(560)再连接。本发明具有体积小、测量精度高、温度和振动稳定性好等优点,广泛用于光学器件偏振性能的高精度测量与分析。

    一种短基线差分式激光应变测量仪

    公开(公告)号:CN102927924A

    公开(公告)日:2013-02-13

    申请号:CN201210381976.9

    申请日:2012-10-10

    Abstract: 本发明提供的是一种短基线差分式激光应变测量仪。包括单频激光干涉传感器、悬吊系统、测量基线杆、基线固定装置、测量控制和信号记录与处理系统、测量标定装置以及测量反射镜限位系统,固定在第1基岩上的单频激光干涉传感器与测量反射镜构成一个完整的单频激光干涉仪;测量反射镜通过测量反射镜限位系统与测量基线的首端连接;测量基线的末端安装测量标定装置、并通过基线固定装置固定在第2基岩上;测量基线的中间安装悬挂系统;单频激光干涉传感器和测量标定装置通过信号连接线与测量控制和信号记录与处理系统连接。本发明性能价格比高,可广泛应用于前兆数字台网的改造和建设。

    一种Y波导的双通道光学性能双向多对轴角度自动测试装置

    公开(公告)号:CN204202850U

    公开(公告)日:2015-03-11

    申请号:CN201420587755.1

    申请日:2014-10-11

    Abstract: 本实用新型设计属于光学器件测量技术领域,具体涉及到一种Y波导的双通道光学性能双向多对轴角度自动测试装置。包括高偏振稳定度宽谱光源、光信号换轴机构、光信号通道方向切换机构、待测集成波导调制器即Y波导、光程解调装置、偏振串音检测与记录装置,光信号换轴机构具有第一输入端尾纤、第二输入端尾纤,第三输出端尾纤、第四输出端尾纤分别与高偏振稳定度宽谱光源、光程解调装置、光信号通道方向切换机构的第一输入端、第二输入端连接。使用计算机控制装置的换轴、换向、换通道功能,可以对待测波导器件实现多对轴角度、双向、双通道的测试。其测试结果更加详细、全面和精确。

    一种Y波导器件的双通道光学性能同时测试装置

    公开(公告)号:CN204405294U

    公开(公告)日:2015-06-17

    申请号:CN201420587770.6

    申请日:2014-10-11

    Abstract: 本实用新型设计属于光学器件测量技术领域,具体涉及到一种Y波导器件的双通道光学性能同时测试装置。Y波导器件的双通道光学性能同时测试装置,包括高偏振宽谱光源、待测集成波导调制器即Y波导、双通道光耦合装置、光程解调装置、偏振串音检测与记录装置,双通道光耦合装置第一输入端,第一输入端连接Y波导第一通道输出端、第二通道输出端,将两个通道的光信号合并为一路,由输出端输出送入光程解调装置。该测试装置使Y波导的测试更加简便易行,其装置将待测试器件的两个输出通道光信号耦合为一路,然后仅仅用一套解调干涉仪即可实现双通道性能同时测量。这很好保证了测试的一致性,提高了测试精度。

    一种Y波导双通道光学性能测量装置

    公开(公告)号:CN204202851U

    公开(公告)日:2015-03-11

    申请号:CN201420587780.X

    申请日:2014-10-11

    Abstract: 本实用新型设计属于光学器件测量技术领域,具体涉及到一种Y波导双通道光学性能测量装置。Y波导双通道光学性能测量装置,包括高偏振宽谱光源、待测Y波导器件、光学干涉扫描解调装置、偏振串音检测与记录装置:待测Y波导的第一输出保偏尾纤、第二通道输出保偏尾纤分别与光学干涉扫描解调装置的第一输入端、第二输入端连接,构成马赫-泽德干涉仪;光学干涉扫描解调装置依次由光程发生器、光程扫描装置和光电探测器连接构成。该测试装置使用Y波导作为白光干涉仪的一部分测试其两个输出通道光学性能,两个通道不会交叉干扰,这样使测试结果更加准确。

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