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公开(公告)号:CN107017293A
公开(公告)日:2017-08-04
申请号:CN201710242816.9
申请日:2017-04-14
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: H01L29/778 , H01L29/06 , H01L29/20 , H01L21/336
CPC classification number: H01L29/7786 , H01L29/0603 , H01L29/0684 , H01L29/2003 , H01L29/66431
Abstract: 本发明公开了一种具有双凹陷AlGaN势垒层的AlGaN/GaN异质结场效应晶体管,结构自下而上包括:半绝缘衬底、AlN成核层、GaN缓冲层和AlGaN势垒层,其中,所述AlGaN势垒层的上表面的两侧分别设有源电极和漏电极、源电极和漏电极之间且靠近源电极处设有栅电极,在栅电极的源侧区域一部分AlGaN势垒层向下凹陷形成凹陷栅源势垒层区域,在栅电极的漏侧区域一部分AlGaN势垒层向下凹陷形成凹陷栅漏势垒层区域。本发明的有益之处在于:(1)跨导饱和区扩展;(2)击穿电压提高;(3)频率特性改善;(4)微波输出特性增强。
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公开(公告)号:CN105118867B
公开(公告)日:2018-01-12
申请号:CN201510532352.6
申请日:2015-08-26
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: H01L29/812 , H01L29/06 , H01L29/10 , H01L29/24 , H01L21/338
Abstract: 本发明公开了一种具有部分下沉沟道的4H‑SiC金属半导体场效应晶体管,其自下而上包括4H‑SiC半绝缘衬底、P型缓冲层、N型沟道层,N型沟道层表面设有源极帽层和漏极帽层,源极帽层和漏极帽层表面分别设有源电极和漏电极,N型沟道层上方且靠近源级帽层一侧形成栅电极,靠近源级帽层侧的部分栅电极向下凹陷,形成凹栅结构,栅电极与漏极帽层之间形成凹陷栅漏漂移区,P缓冲层上端面靠近漏极帽层处与凹栅漏侧之间形成凹陷栅漏缓冲层,凹陷栅漏漂移区的凹陷深度与凹陷栅漏缓冲层的凹陷深度相同。本发明具有漏极输出电流大、击穿电压高、频率特性优良的优点。
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公开(公告)号:CN105118867A
公开(公告)日:2015-12-02
申请号:CN201510532352.6
申请日:2015-08-26
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: H01L29/812 , H01L29/06 , H01L29/10 , H01L29/24 , H01L21/338
CPC classification number: H01L29/8128 , H01L29/0684 , H01L29/1029 , H01L29/24 , H01L29/66848
Abstract: 本发明公开了一种具有部分下沉沟道的4H-SiC金属半导体场效应晶体管,其自下而上包括4H-SiC半绝缘衬底、P型缓冲层、N型沟道层,N型沟道层表面设有源极帽层和漏极帽层,源极帽层和漏极帽层表面分别设有源电极和漏电极,N型沟道层上方且靠近源级帽层一侧形成栅电极,靠近源级帽层侧的部分栅电极向下凹陷,形成凹栅结构,栅电极与漏极帽层之间形成凹陷栅漏漂移区,P缓冲层上端面靠近漏极帽层处与凹栅漏侧之间形成凹陷栅漏缓冲层,凹陷栅漏漂移区的凹陷深度与凹陷栅漏缓冲层的凹陷深度相同。本发明具有漏极输出电流大、击穿电压高、频率特性优良的优点。
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