公开(公告)号：CN116312727A

公开(公告)日：2023-06-23

申请号：CN202310342742.1

申请日：2023-03-31

Applicant: 西安微电子技术研究所

Inventor： 杨西峰 ,  唐金锋 ,  潘昊 ,  张利坤 ,  李皓玥

IPC: G11C29/50 ,  G11C29/56

Abstract: 本发明公开了一种基于FPGA的集成式3D内存模块高温老炼测试系统和方法，包括高温箱、控制板和DDR2存储器工位板；高温箱内部分为老炼常温区和高温区；控制板设置在老炼常温区内，DDR2存储器工位板设置在高温箱高温区内；控制板和DDR2存储器工位板之间通过信号传输板进行数据连接；控制板控制DDR2存储器工位板进行DDR2存储器的高温老炼测试。用于解决现有技术中测试效率低，费用比高，测试时间长的问题。依据本发明所提方法研制了高温老炼测试系统，经过实际测试能够实现3D内存模块高温长时间、并行动态老炼测试，并在实际工程项目中获得应用。

公开(公告)号：CN119030371A

公开(公告)日：2024-11-26

申请号：CN202411202861.8

申请日：2024-08-29

Applicant: 西安微电子技术研究所

Inventor： 潘昊 ,  钟依林 ,  秦臻 ,  王晨 ,  卢斌 ,  王鸿鹏 ,  刘兴林 ,  许军

IPC: H02P5/46

Abstract: 本发明涉及电机控制技术领域，具体为一种多电机的实时控制方法及相关设备，该方法包括在FLASH中对电机关键控制参数进行AB双区备份，并对AB双区的电机关键控制参数进行校验，根据校验结果恢复AB双区的电机关键控制参数；将恢复后的AB双区的电机关键控制参数进行初始化，基于AB双区的电机关键控制参数配置至多电机的驱动模块内，基于电流‑速度双闭环方式对多电机进行实时控制，有效的实现了多个电机同时运转且互相无干扰。