物体检测装置
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN106922175B

    公开(公告)日:2019-10-01

    申请号:CN201580056606.X

    申请日:2015-10-21

    Abstract: 一种物体检测装置,其安装于规定高度,并具备:波形取得部,其取得反射波的接收时刻和振幅值;基准值计算部,其至少计算由存在于规定高度的基准障碍物(41、41a、41b、41c、41d)反射出的反射波的振幅值作为基准值;检测值计算部,其计算由检测物体(42、42a、42b)做过反射的反射波的振幅值作为检测值;基准距离计算部,其计算基准障碍物与测距传感器间的距离作为基准距离;检测距离计算部,其计算检测物体与测距传感器间的距离作为检测距离;修正部,其根据取决于基准距离与检测距离间的距离比的衰减量的变化对于基准值和检测值进行修正;以及高度计算部,其基于修正后的基准值与检测值进行相对比较的结果,计算检测物体的相对于规定高度的相对高度。

    物体检测装置
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN106922175A

    公开(公告)日:2017-07-04

    申请号:CN201580056606.X

    申请日:2015-10-21

    Abstract: 一种物体检测装置,其安装于规定高度,并具备:波形取得部,其取得反射波的接收时刻和振幅值;基准值计算部,其至少计算由存在于规定高度的基准障碍物(41、41a、41b、41c、41d)反射出的反射波的振幅值作为基准值;检测值计算部,其计算由检测物体(42、42a、42b)做过反射的反射波的振幅值作为检测值;基准距离计算部,其计算基准障碍物与测距传感器间的距离作为基准距离;检测距离计算部,其计算检测物体与测距传感器间的距离作为检测距离;修正部,其根据取决于基准距离与检测距离间的距离比的衰减量的变化对于基准值和检测值进行修正;以及高度计算部,其基于修正后的基准值与检测值进行相对比较的结果,计算检测物体的相对于规定高度的相对高度。

    物体检测装置及物体检测方法
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118946821A

    公开(公告)日:2024-11-12

    申请号:CN202380028990.7

    申请日:2023-03-08

    Inventor: 秋山启子

    Abstract: 为了在受光信号的强度处于受光部的饱和区域的情况下也容易检测物体是什么,物体检测装置(10)具备:发光部(70),其发出照射光;受光部(80),其接收与照射光对应的反射光;距离计算部(24),其计算到反射照射光的物体为止的距离;饱和判定部(26),其判定从受光部输出的与反射光对应的受光信号是否饱和;脉冲宽度检测部(28),其检测预先设定的阈值下的受光信号的脉冲宽度;下降斜率检测部(30),其检测受光信号的下降的斜率;反射特性获取部(32),其获取包含物体的反射强度和反射率中的至少一方的反射特性。反射特性获取部在受光信号饱和的情况下,使用脉冲宽度和下降的斜率中的至少一方获取所述反射特性。

    物体检测装置
    4.
    发明授权

    公开(公告)号:CN115176175B

    公开(公告)日:2024-11-22

    申请号:CN202180015257.2

    申请日:2021-02-16

    Inventor: 秋山启子

    Abstract: 本发明的物体检测装置具备照射部(2)、受光部(3)、以及检测部(51~54、61)。受光部构成为接收由照射部照射出的光被反射而成的光亦即反射光、和环境光。检测部构成为基于点群、和至少一个图像来检测规定的物体,上述点群为基于反射光的信息。点群是在测距区域整体检测到的反射点的群。至少一个图像包含基于环境光的图像亦即环境光图像、基于离基于反射光检测到的物体的距离的图像亦即距离图像以及/或者基于反射光的反射强度的图像亦即反射强度图像。

    物体检测装置及检测物体检测装置的故障的方法

    公开(公告)号:CN116134335A

    公开(公告)日:2023-05-16

    申请号:CN202180060458.4

    申请日:2021-07-01

    Abstract: 检测物体的物体检测装置(10、10a、10b、10c)具备:受光部(20),具有能够受光入射光(RL)的多个受光元件(220)以面状排列而成的受光面,上述入射光包含射出的照射光(IL)的反射光,将受光面的可使用区域(Ar1、Ar2)中的预先设定的使用区域作为第1区域(U1),输出与第1区域内的受光元件的受光状态对应的第1受光信号;图像取得部(115),使用第1受光信号,取得表示环境光的受光强度的环境光图像(Img1);以及故障检测部(113),使用环境光图像,检测第1区域内的受光元件的故障。

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