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公开(公告)号:CN117727531A
公开(公告)日:2024-03-19
申请号:CN202311716136.8
申请日:2018-06-04
Applicant: 德克萨斯仪器股份有限公司
Abstract: 本申请公开了一种形成集成磁性器件的磁芯的方法。集成磁性器件(100)具有磁芯(120),磁芯(120)包括定位于介电层(106)中的沟槽(108)中的磁性材料层。磁性材料层是平坦的并且平行于沟槽(108)的底部(112),并且不沿沟槽(108)的侧面(114)向上延伸。通过在介电层(106)上方形成磁性材料层并延伸到沟槽(108)中来形成集成磁性器件(100)。在磁性材料层上方形成保护层。从介电层(106)上方移除磁性材料层,在沟槽(108)中留下磁性材料层和一部分保护层。随后移除沿着沟槽(108)的侧面(114)的磁性材料层。沿着沟槽(108)的底部(112)的磁性材料层提供磁芯(120)。
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公开(公告)号:CN109036765A
公开(公告)日:2018-12-18
申请号:CN201810561056.2
申请日:2018-06-04
Applicant: 德克萨斯仪器股份有限公司
Abstract: 本申请公开了一种形成集成磁性器件的磁芯的方法。集成磁性器件(100)具有磁芯(120),磁芯(120)包括定位于介电层(106)中的沟槽(108)中的磁性材料层。磁性材料层是平坦的并且平行于沟槽(108)的底部(112),并且不沿沟槽(108)的侧面(114)向上延伸。通过在介电层(106)上方形成磁性材料层并延伸到沟槽(108)中来形成集成磁性器件(100)。在磁性材料层上方形成保护层。从介电层(106)上方移除磁性材料层,在沟槽(108)中留下磁性材料层和一部分保护层。随后移除沿着沟槽(108)的侧面(114)的磁性材料层。沿着沟槽(108)的底部(112)的磁性材料层提供磁芯(120)。
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公开(公告)号:CN107851554A
公开(公告)日:2018-03-27
申请号:CN201680045484.9
申请日:2016-08-04
Applicant: 德克萨斯仪器股份有限公司
IPC: H01L21/02
CPC classification number: H01L24/03 , B24B37/042 , C23F1/00 , H01L21/31053 , H01L21/31058 , H01L21/31116 , H01L21/31133 , H01L21/31138 , H01L21/3212 , H01L21/76865 , H01L24/05 , H01L2224/03466 , H01L2224/0382 , H01L2224/0391 , H01L2224/05547 , H01L2224/05571 , H01L2224/0603 , H01L2224/06102
Abstract: 在所描述的示例中,通过下列步骤来形成微电子器件(100):提供在顶表面(130)处具有凹部(124)的衬底,和形成在衬底的顶表面(130)上方并延伸到凹部(124)中的衬里层(132)。在衬里层(132)上方形成保护层(138),该保护层延伸到凹部(124)中。CMP工艺(142)从衬底的顶表面(130)上方去除保护层(138)和衬里层(132),将保护层(138)和衬里层(132)留在凹部(124)中。随后从凹部(124)去除保护层(138),将衬里层(132)留在凹部(124)中。衬底可以包括具有键合焊盘(116)的互连区域(104)和具有形成凹部(124)的开口的PO层(122);键合焊盘(116)暴露在凹部(124)中。凹部(124)中的衬里层(132)可以是适于随后形成的引线键合或凸块键合的金属衬里。
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