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公开(公告)号:CN115051698B
公开(公告)日:2025-02-18
申请号:CN202210695673.8
申请日:2022-06-20
Applicant: 安徽大学
IPC: H03K17/28 , H03K17/687
Abstract: 本发明涉及适用于低功耗芯片的延时电路、模块、芯片及延时方法。延时电路包括:缓冲器、级联的N个延时单元、N个漏电单元、N个负载电容。延时单元包括PMOS管PM1和NMOS管NM1,漏电单元包括PMOS管PM5。PM1的栅极和NM1的栅极连接并作为延时单元的输入端,PM1的源极和PM5的栅极连接,NM1的源极、负载电容的下极板和PM5的漏极连接,PM1的漏极、NM1的漏极、PM5的源极和负载电容的上极板连接作为延单元的输出端,缓冲器的输入端连接位于末级的延时单元的输出端。本发明在电压源上电或下电时,通过漏电单元自适应地及时将多余电荷泄放,从而保证正确的延时功能和延时大小。
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公开(公告)号:CN115967402A
公开(公告)日:2023-04-14
申请号:CN202211652658.1
申请日:2022-12-21
Applicant: 安徽大学
IPC: H03M1/12 , H03K5/24 , H03K17/687
Abstract: 本发明涉及一种ADC采样电路的开关连接方法及其电路与芯片。所述方法先采样后比较,采样阶段:DAC电路输出端通过采样控制信号控制的开关A1接参考电压VCM,并与比较器的正端相接,比较器的负端通过采样控制信号控制的开关A2连接DAC电路输出端,此时比较器正端电压值等于DAC电路输出端电压值、等于负端电压值,保证采样阶段输入到比较器正端和负端的电压值相等。比较阶段:比较器负端通过比较控制信号控制的开关B1连接参考电压VCM,与正端采集到的输入信号VIN进行比较。本发明保证了比较器的正端和负端的电压值在采样时始终相等,降低采样电路中的偏移误差且不会发生错误翻转现象,提高了采样电路的性能。
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公开(公告)号:CN115051698A
公开(公告)日:2022-09-13
申请号:CN202210695673.8
申请日:2022-06-20
Applicant: 安徽大学
IPC: H03K17/28 , H03K17/687
Abstract: 本发明涉及适用于低功耗芯片的延时电路、模块、芯片及延时方法。延时电路包括:缓冲器、级联的N个延时单元、N个漏电单元、N个负载电容。延时单元包括PMOS管PM1和NMOS管NM1,漏电单元包括PMOS管PM5。PM1的栅极和NM1的栅极连接并作为延时单元的输入端,PM1的源极和PM5的栅极连接,NM1的源极、负载电容的下极板和PM5的漏极连接,PM1的漏极、NM1的漏极、PM5的源极和负载电容的上极板连接作为延单元的输出端,缓冲器的输入端连接位于末级的延时单元的输出端。本发明在电压源上电或下电时,通过漏电单元自适应地及时将多余电荷泄放,从而保证正确的延时功能和延时大小。
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