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公开(公告)号:CN114758700A
公开(公告)日:2022-07-15
申请号:CN202210257495.0
申请日:2022-03-16
Applicant: 安徽大学
IPC: G11C11/416
Abstract: 本发明公开了一种读写分离的12T TFET SRAM单元电路,包括八个NTFET晶体管和四个PTFET晶体管,其中PTFET晶体管P3和NTFET晶体管N3组成反相器,PTFET晶体管P4和NTFET晶体管N4组成另一个反相器;且PTFET晶体管P1和P2作为写操作时的上拉电路结构;NTFET晶体管N1、N2、N5、N6构成写电路部分,能消除TFET作为SRAM传输管时出现的正偏电压所造成的正偏漏电流问题;NTFET晶体管N7和N8构成读电路部分。上述电路不仅提高了SRAM单元的写能力,而且还消除了当TFET用作SRAM单元的传输晶体管时出现正向偏置漏电流泄漏的问题。
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公开(公告)号:CN114758700B
公开(公告)日:2025-01-10
申请号:CN202210257495.0
申请日:2022-03-16
Applicant: 安徽大学
IPC: G11C11/416
Abstract: 本发明公开了一种读写分离的12T TFET SRAM单元电路,包括八个NTFET晶体管和四个PTFET晶体管,其中PTFET晶体管P3和NTFET晶体管N3组成反相器,PTFET晶体管P4和NTFET晶体管N4组成另一个反相器;且PTFET晶体管P1和P2作为写操作时的上拉电路结构;NTFET晶体管N1、N2、N5、N6构成写电路部分,能消除TFET作为SRAM传输管时出现的正偏电压所造成的正偏漏电流问题;NTFET晶体管N7和N8构成读电路部分。上述电路不仅提高了SRAM单元的写能力,而且还消除了当TFET用作SRAM单元的传输晶体管时出现正向偏置漏电流泄漏的问题。
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