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公开(公告)号：CN106936366B
公开(公告)日：2023-03-21
申请号：CN201710334609.6
申请日：2017-05-12
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明主要涉及一种基于超级电容的变频洗衣机的能量回收控制系统，在直流母线两端接入超级电容组模块，电机制动时回收能量，在电机启动时候释放能量，加速电机的旋转，以达到能量的循环利用，实现辅助节能。基于超级电容的变频洗衣机的能量回收控制系统的外部电网的输出端连接着变频洗衣机的整流器的输入端，变频洗衣机中的直流母线的输出端连接着单片机控制模块、双向DC/DC变换器模块、电压检测模块的输入端，电压检测模块、电流检测模块的输出端连接着单片机控制模块的输入端，单片机控制模块的输出端连接着驱动保护模块的输入端，双向DC/DC变换器模块连接着超级电容组模块、驱动保护模块。
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公开(公告)号：CN114864731A
公开(公告)日：2022-08-05
申请号：CN202210339448.0
申请日：2022-04-01
Applicant: 哈尔滨工业大学(深圳)
IPC: H01L31/105 , H01L31/0216 , H01L31/024
Abstract: 本发明提供了一种用于2微米波段的片上加热式锗光电探测器，其包括两个电极、两个TiN加热电极、TiN加热层、N重掺杂硅层、P重掺杂硅层、锗吸收层、硅本征层、硅倍增层、P轻掺杂硅电荷层；所述N重掺杂硅层、P重掺杂硅层位于两侧且分别与两个电极连接，所述硅倍增层、P轻掺杂硅电荷层、硅本征层依次位于N重掺杂硅层、P重掺杂硅层之间，所述锗吸收层设于硅本征层的上方并相连，所述TiN加热层位于锗吸收层的上方，所述锗吸收层与TiN加热层、TiN加热电极之间通过填充物隔离。本发明的技术方案的器件，结构紧凑，响应度高，能与硅基CMOS工艺相兼容。
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公开(公告)号：CN112304213B
公开(公告)日：2022-06-14
申请号：CN201910712531.6
申请日：2019-08-02
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01B9/02015 , G01B11/02 , G01D5/353 , G01D5/38
Abstract: 本发明提出单自由度位移测量的法布里珀罗光栅干涉仪及其测量方法，所述干涉仪包括激光光源、光栅、位移发生装置、用于形成F‑P腔部分具有透射表面的光学器件、光电探测模块和信号处理模块；激光光源与光栅按Littrow角放置，光栅固定在所述位移发生装置上且与位移发生装置的运动方向平行设置，所述光栅在所述位移发生装置的驱动下在垂直于光栅刻线的方向上运动，所述光栅表面和部分透射表面之间形成F‑P腔，光电探测模块用于接收部分透射表面透过的多光束干涉光，所述信号处理模块对所述光电探测模块得到的干涉信号进行处理和解算。本发明提出的法布里珀罗光栅干涉仪，融合了光栅干涉和法布里珀罗干涉技术，可以实现光栅面内的位移测量。
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公开(公告)号：CN119687779A
公开(公告)日：2025-03-25
申请号：CN202311240405.8
申请日：2023-09-25
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01B9/02056 , G01B9/02055 , G01J3/45
Abstract: 基于声光移频器的外差激光干涉仪信号处理环节动态性能校准装置及其校准方法，涉及外差激光干涉仪动态测量性能校准技术领域，解决现有外差激光干涉仪的校准方法，其校准结果耦合了机械安装等带来的阿贝误差、余弦误以及由于非同步测量带来的数据周期误差，带来的难以评定干涉仪信号处理环节的动态测量性能的问题。校准装置包括激光器组件、第一测量光路、第二测量光路、AOFS驱动及电机控制器光路和相位计；激光器组件发射激光射入分光棱镜组件中，分光棱镜组件将入射光分成两束激光分别射入第一测量光路、第二测量光路中，最后发送到相位计中解算出相位差。本发明适针对外差激光干涉仪的信号处理环节在目标高速运动下动态测量性能的等效校准装置。
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公开(公告)号：CN118111491A
公开(公告)日：2024-05-31
申请号：CN202410235291.6
申请日：2024-03-01
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 外差激光干涉仪信号处理环节分辨力的通用测试装置及其测试方法，涉及外差干涉仪高精度位移测量以及干涉信号处理领域。解决现有仅在中心频率处测试分辨力的方法，存在的测试结果不完整的问题。装置采用光束调制系统产生频率可控的强度调制光，并射入消偏振分光棱镜中，消偏振分光棱镜用于将入射光分成测量光和参考光，测量光射入耦合器1中，经过耦合后射入信号处理板卡中，参考光射入耦合器2中，经过耦合后射入信号处理板卡中，信号处理板卡用于根据接收的测量光和参考光解算相位差；耦合器2用于在导轨上的作用下，实现在参考光与测量光之间引入等间隔相移。本发明适用于商用外差干涉仪信号处理环节的分辨力测试。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114864731B
公开(公告)日：2024-04-19
申请号：CN202210339448.0
申请日：2022-04-01
Applicant: 哈尔滨工业大学(深圳)
IPC: H01L31/105 , H01L31/0216 , H01L31/024
Abstract: 本发明提供了一种用于2微米波段的片上加热式锗光电探测器，其包括两个电极、两个TiN加热电极、TiN加热层、N重掺杂硅层、P重掺杂硅层、锗吸收层、硅本征层、硅倍增层、P轻掺杂硅电荷层；所述N重掺杂硅层、P重掺杂硅层位于两侧且分别与两个电极连接，所述硅倍增层、P轻掺杂硅电荷层、硅本征层依次位于N重掺杂硅层、P重掺杂硅层之间，所述锗吸收层设于硅本征层的上方并相连，所述TiN加热层位于锗吸收层的上方，所述锗吸收层与TiN加热层、TiN加热电极之间通过填充物隔离。本发明的技术方案的器件，结构紧凑，响应度高，能与硅基CMOS工艺相兼容。
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公开(公告)号：CN115325932A
公开(公告)日：2022-11-11
申请号：CN202211025556.7
申请日：2022-08-25
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明是一种外差激光干涉仪光功率与对比度变化引起探测误差的等效测试装置。本发明涉及外差激光干涉仪探测误差测量技术领域，本发明为了针对外差激光干涉仪光功率和对比度变化引起的探测误差测量困难、干扰因素众多的问题。通过调节干涉光的光功率和对比度等效待测目标的偏摆造成的对比度和光功率降低，能够分离位移、振动、空气扰动等干扰因素的影响。本发明外有着光路简洁、元器件少的特点，利于工程实现，并且在实现难易度、测量精度等方面都具有优势。
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公开(公告)号：CN112444194B
公开(公告)日：2022-06-14
申请号：CN201910827857.3
申请日：2019-09-03
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01B9/02015 , G01B11/02 , G01D5/353
Abstract: 本发明提出二自由度位移测量的法布里珀罗光栅干涉仪及其测量方法和六自由度干涉仪，所述二自由度位移测量干涉仪包括激光光源、分光镜、光栅、二自由度位移发生装置、用于形成第一F‑P腔具有部分透射表面1的光学器件、用于形成第二F‑P腔具有部分透射表面2的光学器件、光电探测模块1、光电探测模块2和信号处理模块；本发明所述二自由度位移测量干涉仪及其测量方法将可动的光栅作为被测目标腔镜，两F‑P腔基本单元对称放置，实现以光栅栅距为基准的、对光栅面内平动位移的测量和以激光波长‑光栅栅距为基准的、对垂直光栅面的运动的测量。本发明还以二自由度F‑P光栅干涉仪作为测头，以四测头布局实现对光栅平面的六自由度测量。
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公开(公告)号：CN112444194A
公开(公告)日：2021-03-05
申请号：CN201910827857.3
申请日：2019-09-03
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明提出二自由度位移测量的法布里珀罗光栅干涉仪及其测量方法和六自由度干涉仪，所述二自由度位移测量干涉仪包括激光光源、分光镜、光栅、二自由度位移发生装置、用于形成第一F‑P腔具有部分透射表面1的光学器件、用于形成第二F‑P腔具有部分透射表面2的光学器件、光电探测模块1、光电探测模块2和信号处理模块；本发明所述二自由度位移测量干涉仪及其测量方法将可动的光栅作为被测目标腔镜，两F‑P腔基本单元对称放置，实现以光栅栅距为基准的、对光栅面内平动位移的测量和以激光波长‑光栅栅距为基准的、对垂直光栅面的运动的测量。本发明还以二自由度F‑P光栅干涉仪作为测头，以四测头布局实现对光栅平面的六自由度测量。
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公开(公告)号：CN112304213A
公开(公告)日：2021-02-02
申请号：CN201910712531.6
申请日：2019-08-02
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明提出单自由度位移测量的法布里珀罗光栅干涉仪及其测量方法，所述干涉仪包括激光光源、光栅、位移发生装置、用于形成F‑P腔部分具有透射表面的光学器件、光电探测模块和信号处理模块；激光光源与光栅按Littrow角放置，光栅固定在所述位移发生装置上且与位移发生装置的运动方向平行设置，所述光栅在所述位移发生装置的驱动下在垂直于光栅刻线的方向上运动，所述光栅表面和部分透射表面之间形成F‑P腔，光电探测模块用于接收部分透射表面透过的多光束干涉光，所述信号处理模块对所述光电探测模块得到的干涉信号进行处理和解算。本发明提出的法布里珀罗光栅干涉仪，融合了光栅干涉和法布里珀罗干涉技术，可以实现光栅面内的位移测量。
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