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公开(公告)号：CN116810162A
公开(公告)日：2023-09-29
申请号：CN202310792222.0
申请日：2023-06-30
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: B23K26/362 , B23K26/70 , G02B6/136 , G02B6/12
Abstract: 一种硫系玻璃光子芯片及其直接曝光制造方法，涉及一种光子芯片及其制造方法。为了解决现有的光子芯片的制备工艺复杂的问题。本发明硫系玻璃光子芯片由衬底、硫系玻璃和硫系玻璃表面的图形构成，或由硫系玻璃和硫系玻璃表面的图形构成；本发明利用激光器发射激光，激光通过准直系统和聚焦透镜后照射在硫系玻璃表面，硫系玻璃吸收激光的区域产生光致效应使得硫系玻璃吸收激光的区域的折射率发生变化，实现曝光，生成具有一定深度的图形，满足波导结构光子芯片加工性能需求。本发明硫系玻璃光子芯片及其直接曝光制造方法具有制备方法简单、低成本、高效率、制备精度高的优势。
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公开(公告)号：CN102636830B
公开(公告)日：2014-02-12
申请号：CN201210042332.7
申请日：2012-02-23
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 条形相位光阑及4f相位相干非线性成像系统及该系统对非线性折射率测量方法，涉及光学技术领域。为了解决圆形相位物体制作工艺复杂、Z扫描系统测量对光束要求高、焦点处多次照射易造成样品损伤以及灵敏度低、误差大的问题。条形相位光阑由条形相位物体和圆形光阑构成。条形相位光阑的4f相位相干非线性成像系统由二分之一波片、偏振棱镜、扩束器、条形相位光阑、图像传感器、能量参考系统和4f成像系统组成。能量参考系统由分束镜、第二全反镜、中性滤波片、第三凸透镜、第三全反镜和第一全反镜组成。4f成像系统的两个凸透镜同轴共焦设置，第一凸透镜为入射透镜，第二凸透镜为出射透镜。该系统用于光通信和光信息处理等领域。
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公开(公告)号：CN102707365A
公开(公告)日：2012-10-03
申请号：CN201210209583.X
申请日：2012-06-25
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 正负条形相位光阑及采用该光阑的4f相位相干非线性成像系统及对非线性折射率测量方法，涉及一种相位光阑的4f相位相干非线性成像系统及对非线性折射率测量方法，属于光学领域。目的是针对传统相位光阑制作工艺的难度大，测量精度低的问题。正负条形相位光阑的正、负条形相位物体的位相延迟分别为2mπ+π/2和2nπ-π/2，其中m、n为整数；正负条形相位光阑的4f相位相干非线性成像系统，它包括测量系统和能量参考系统；用于实现对非线性折射率测量。
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公开(公告)号：CN101149343A
公开(公告)日：2008-03-26
申请号：CN200710144598.1
申请日：2007-11-14
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于迈克尔逊干涉仪的4f相位相干成像装置，它是一种用于测量非线性光子学介质的三阶非线性折射率的装置，以解决传统4f系统相干成像技术数据的处理较为麻烦、无法避免非线性吸收，以及马赫－曾德尔干涉法存在的形变的范围较小，对稳定性的要求较高、数据处理复杂且误差较大的问题。本发明的第一线性衰减片、第一分光镜、第二孔径光阑和第二全反射镜都依次设置在激光器发射口的中心轴线上，第一分光镜下侧入射点的右侧面与激光器发射口的中心轴线呈45°角，第二线性衰减片、第二凸透镜、第一凸透镜、第一分光镜、第一孔径光阑和第一全反射镜都依次设置在CCD相机的图像采集面的中心轴线上，第一分光镜右侧出射点的下侧面与图像采集面的中心轴线呈45°角。
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公开(公告)号：CN116223442A
公开(公告)日：2023-06-06
申请号：CN202310039303.3
申请日：2023-01-12
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种基于双4f相位相干成像技术的非线性折射光谱的测量装置和测量方法，它涉及非线性光子学材料和非线性光学信息处理领域，本发明采用相位型空间光调制器取代传统的4f相位相干成像系统中的相位物体，搭建双4f相位相干成像系统，配合波长可调谐的激光系统，实现光学材料非线性折射光谱的测量。本发明使用相位型空间光精确调控不同激发波长下，入射光中心位置光斑与周围光斑的相位差，弥补了相位物体在不同波长下中心位置光斑与周围光斑相位差发生变化的缺点。通过波长可调谐的飞秒激光器结合可调谐相位差的“相位物体”实现多级波段的非线性折射光谱的测量。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109627150B
公开(公告)日：2021-12-10
申请号：CN201811622276.8
申请日：2018-12-28
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: C07C43/225 , C07C43/215 , C07C41/30 , C07C213/02 , C07C217/78
Abstract: 一种提高扭曲并苯化合物非线性吸收性能的方法，它属于合成光学非线性材料领域，具体涉及一种提高扭曲并苯化合物非线性吸收性能的方法。本发明的目的是要解决现有无法实现提高扭曲并苯化合物非线性吸收性能的问题。一种提高扭曲并苯化合物非线性吸收性能的方法，所述扭曲并苯化合物为芘基并苯分子；提高芘基并苯分子线性的三个苯环结构的LUMO轨道占有率与HOMO轨道的占有率比值，即LUMO/HOMO的比值。有益效果：通过提高LUMO/HOMO的比值，进而提高芘基并苯分子的双光子吸收截面，实现提高芘基并苯分子非线性吸收性能的目的。本发明主要用于制合成扭曲并苯化合物。
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公开(公告)号：CN109627150A
公开(公告)日：2019-04-16
申请号：CN201811622276.8
申请日：2018-12-28
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: C07C43/225 , C07C43/215 , C07C41/30 , C07C213/02 , C07C217/78
CPC classification number: C07C43/225 , C07C43/215 , C07C217/78
Abstract: 一种提高扭曲并苯化合物非线性吸收性能的方法，它属于合成光学非线性材料领域，具体涉及一种提高扭曲并苯化合物非线性吸收性能的方法。本发明的目的是要解决现有无法实现提高扭曲并苯化合物非线性吸收性能的问题。一种提高扭曲并苯化合物非线性吸收性能的方法，所述扭曲并苯化合物为芘基并苯分子；提高芘基并苯分子线性的三个苯环结构的LUMO轨道占有率与HOMO轨道的占有率比值，即LUMO/HOMO的比值。有益效果：通过提高LUMO/HOMO的比值，进而提高芘基并苯分子的双光子吸收截面，实现提高芘基并苯分子非线性吸收性能的目的。本发明主要用于制合成扭曲并苯化合物。
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公开(公告)号：CN100533123C
公开(公告)日：2009-08-26
申请号：CN200710144600.5
申请日：2007-11-14
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于迈克尔逊干涉仪的4f相位相干成像方法，它是一种基于迈克尔干涉仪的4f相干相位成像技术测量介质的非线性折射性质的方法，以解决传统4f系统相干成像技术数据的处理较为麻烦、无法避免非线性吸收，以及马赫-曾德尔干涉法存在的形变的范围较小，对噪声和激光的稳定性要求较高、数据处理复杂且误差较大的问题。本发明的方法由以下步骤组成：步骤一、开启并调节装置；步骤二、采集无样品图像；步骤三：采集线性图像；步骤四：采集非线性图像；步骤五：计算线性透过率；步骤六：计算非线性相移；步骤七：计算三阶非线性折射系数。
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公开(公告)号：CN101149344A
公开(公告)日：2008-03-26
申请号：CN200710144600.5
申请日：2007-11-14
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于迈克尔逊干涉仪的4f相位相干成像方法，它是一种基于迈克尔干涉仪的4f相干相位成像技术测量介质的非线性折射性质的方法，以解决传统4f系统相干成像技术数据的处理较为麻烦、无法避免非线性吸收，以及马赫－曾德尔干涉法存在的形变的范围较小，对噪声和激光的稳定性要求较高、数据处理复杂且误差较大的问题。本发明的方法由以下步骤组成：步骤一：开启并调节装置；步骤二：采集无样品图像；步骤三：采集线性图像；步骤四：采集非线性图像；步骤五：计算线性透过率；步骤六：计算非线性相移；步骤七：计算三阶非线性折射系数。
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公开(公告)号：CN102636830A
公开(公告)日：2012-08-15
申请号：CN201210042332.7
申请日：2012-02-23
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 条形相位光阑及4f相位相干非线性成像系统及该系统对非线性折射率测量方法，涉及光学技术领域。为了解决圆形相位物体制作工艺复杂、Z扫描系统测量对光束要求高、焦点处多次照射易造成样品损伤以及灵敏度低、误差大的问题。条形相位光阑由条形相位物体和圆形光阑构成。条形相位光阑的4f相位相干非线性成像系统由二分之一波片、偏振棱镜、扩束器、条形相位光阑、图像传感器、能量参考系统和4f成像系统组成。能量参考系统由分束镜、第二全反镜、中性滤波片、第三凸透镜、第三全反镜和第一全反镜组成。4f成像系统的两个凸透镜同轴共焦设置，第一凸透镜为入射透镜，第二凸透镜为出射透镜。该系统用于光通信和光信息处理等领域。
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