一种激光损伤初期材料喷射行为的诊断方法

    公开(公告)号:CN105424712A

    公开(公告)日:2016-03-23

    申请号:CN201510906667.2

    申请日:2015-12-09

    Applicant: 同济大学

    Abstract: 本发明涉及一种激光损伤初期材料喷射行为的诊断方法,该方法用于透射型光学基板在发生激光损伤后粒子喷射行为的诊断和捕获,该方法包括以下步骤:①基于泵浦探测技术,建立包含一台纳秒脉冲激光器的微米空间分辨和纳秒时间分辨的双探测光单相机成像系统;②根据所述双探测光单相机成像系统获取喷射粒子在同一位置、设定时间间隔的图像;③比较图像上喷射粒子的差异,根据图像处理技术获得粒子的长度和位置信息,获取喷射粒子行为,包括喷射粒子的喷射方向、喷射速度和等效尺寸。与现有技术相比,本发明具有可靠性高、精确度高等优点。

    一种LBO晶体的刻蚀清洗方法

    公开(公告)号:CN106925565B

    公开(公告)日:2018-08-24

    申请号:CN201710070815.0

    申请日:2017-02-09

    Abstract: 本发明涉及一种LBO晶体的刻蚀清洗方法,属于激光技术领域,该方法包括抛光、化学刻蚀、清洗干燥、离子束刻蚀、二次抛光和二次化学刻蚀的多次迭代方法。本发明针对LBO晶体的各向异性和材料表面微潮解特性,采用特定的抛光、刻蚀和后处理工艺,并通过不同步骤间的迭代技术有效去除了上一工序引入的新缺陷和工序残留物,最终获得低亚表面损伤层、低表面粗糙度的高质量LBO晶体表面。与现有技术相比,该方法具有工艺针对性强、效果明显等优点,适用于低潮解晶体材料的抗激光损伤性能提升。

    相对位置可调谐的二维通带通道滤光片

    公开(公告)号:CN100385266C

    公开(公告)日:2008-04-30

    申请号:CN200510029638.9

    申请日:2005-09-14

    Applicant: 同济大学

    Abstract: 本发明提供了一种能够在一个双通道滤光片上独立调整两个通道相对位置的设计方法,采用了基于Fabry-Perot标准具的双对称结构。与传统的窄带滤光片不同,它通过几个中间层的厚度的连续变化来实现对两个通道的位置进行独立的连续的调整,克服了通道位置调整所引起的位置相干现象。本发明介绍了滤光片的设计思路和具体的结构设计,以及在此设计思想下所计算出的双通道带通滤光片的光谱特性等。所设计的滤光片可应用于光学探测仪器、空间技术等领域。

    相对位置可调谐的二维通带通道滤光片

    公开(公告)号:CN1932558A

    公开(公告)日:2007-03-21

    申请号:CN200510029638.9

    申请日:2005-09-14

    Applicant: 同济大学

    Abstract: 本发明提供了一种能够在一个双通道滤光片上独立调整两个通道相对位置的设计方法,采用了基于Fabry-Perot标准具的双对称结构。与传统的窄带滤光片不同,它通过几个中间层的厚度的连续变化来实现对两个通道的位置进行独立的连续的调整,克服了通道位置调整所引起的位置相干现象。本发明介绍了滤光片的设计思路和具体的结构设计,以及在此设计思想下所计算出的双通道带通滤光片的光谱特性等。所设计的滤光片可应用于光学探测仪器、空间技术等领域。

    基于原位探测的纳米尺度初始激光损伤检测方法及系统

    公开(公告)号:CN107015028B

    公开(公告)日:2020-01-31

    申请号:CN201710107113.5

    申请日:2017-02-27

    Applicant: 同济大学

    Abstract: 本发明涉及一种基于原位探测技术的纳米尺度初始激光损伤检测方法及系统,所述方法包括以下步骤:在样品的待测区域设置多个标记点,并设置为定位点;在原子力显微镜下找到定位点,以定位点为基准,移动一定的相对坐标获得一测试区域,测试形貌;选定一损伤测试点,对样品进行激光损伤阈值测试;在损伤测试装置下用低于激光损伤阈值的激光光斑辐照测试区域;再次在原子力显微镜下找到测试区域,测试形貌;将两次获得的形貌进行对比,根据对比结果进行修正,判断是否发生纳米尺度的变化,若否,则在低于激光损伤阈值的情况下增加激光光斑的激光能量,直到发生纳米尺度的变化。与现有技术相比,本发明具有精确度高、可重复性好、结构简单等优点。

    基于原位探测的纳米尺度初始激光损伤检测方法及系统

    公开(公告)号:CN107015028A

    公开(公告)日:2017-08-04

    申请号:CN201710107113.5

    申请日:2017-02-27

    Applicant: 同济大学

    Abstract: 本发明涉及一种基于原位探测技术的纳米尺度初始激光损伤检测方法及系统,所述方法包括以下步骤:在样品的待测区域设置多个标记点,并设置为定位点;在原子力显微镜下找到定位点,以定位点为基准,移动一定的相对坐标获得一测试区域,测试形貌;选定一损伤测试点,对样品进行激光损伤阈值测试;在损伤测试装置下用低于激光损伤阈值的激光光斑辐照测试区域;再次在原子力显微镜下找到测试区域,测试形貌;将两次获得的形貌进行对比,根据对比结果进行修正,判断是否发生纳米尺度的变化,若否,则在低于激光损伤阈值的情况下增加激光光斑的激光能量,直到发生纳米尺度的变化。与现有技术相比,本发明具有精确度高、可重复性好、结构简单等优点。

    极紫外和软X射线金属滤光薄膜的制备方法

    公开(公告)号:CN1888130A

    公开(公告)日:2007-01-03

    申请号:CN200610029106.X

    申请日:2006-07-19

    Applicant: 同济大学

    Abstract: 本发明提供一种极紫外和软X射线金属滤光薄膜的制备方法,用真空镀膜设备,以硬脂酸钠作为脱膜剂原料,其制备方法为:两个蒸发舟内分别放入硬脂酸钠粉末和欲制备滤光薄膜的原料;真空镀膜设备中放入基片;关闭真空室,抽真空;通过热蒸发蒸镀硬脂酸钠;蒸镀欲制备滤光薄膜的原料;真空室充气,取出镀膜基片;脱膜;制得成品;检验。其优点为:脱膜剂易于制备,便于脱膜,不易潮解,成品无视觉可见针孔,成品率高,真空蒸镀时所需电压不高,工艺难度低,成品对存储环境要求不高,便于保存,成本低。

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