公开(公告)号：CN116592785A

公开(公告)日：2023-08-15

申请号：CN202310348326.2

申请日：2023-03-30

Applicant: 华中科技大学

Inventor： 严思杰 ,  杨一帆 ,  彭渝程 ,  张喆 ,  丁汉

IPC: G01B11/24

Abstract: 本发明公开了一种融合偏振信息的三维测量方法、系统、终端及存储介质，方法包括：基于张氏标定法对左右相机进行标定，获取相机内参和外参；采用结构光光栅法获得待测物体的扫描图片，得到绝对相位图，基于绝对相位图确定第一点云框架；基于相机标定后的三维测量系统获取待测物体三维曲面的多光场的偏振信息；基于多光场的偏振信息和第一点云框架，得到第二点云框架；通过第一点云框架的点云边界信息确定点云断点，得到第一点云框架的缺失边界；基于第二点云框架补全重建第一点云框架的缺失边界，实现待测物体三维测量。本发明可实现复杂材质物体的高精度三维测量。

公开(公告)号：CN118548824A

公开(公告)日：2024-08-27

申请号：CN202410465374.4

申请日：2024-04-18

Applicant: 华中科技大学

Inventor： 严思杰 ,  彭渝程 ,  杨一帆 ,  易淑茗 ,  丁汉

IPC: G01B11/25 ,  G01B11/24 ,  G06T7/00 ,  G06T7/80

Abstract: 本发明属于三维测量技术领域，并具体公开了一种高速高精度结构光测量系统的自检测优化方法及系统。构建并标定结构光测量系统；预投影周期性条纹图案至待测物体表面，获取环境干扰下的测量光强函数，构建环境干扰下的光强噪声模型；根据所述光强噪声模型，通过环境干扰下的光强函数求解出环境光频率，并得到最佳曝光时间，通过光强函数计算饱和掩模图像的阈值范围；根据环境参数得到测量系统最佳曝光与最佳条纹频率，以补偿原有测量参数；根据补偿的原有测量参数、采集的待测物体的光强函数计算目标物体的点云。本发明通过预投影的方式计算出环境光影响频率，通过此干扰频率对双目结构光系统的采集参数进行补偿，从而优化重建效果。