一种光谱分析方法
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101819168B

    公开(公告)日:2012-06-13

    申请号:CN201010033922.4

    申请日:2010-01-06

    Abstract: 本发明实施例涉及元素光谱分析领域一种光谱分析方法,利用寻峰算法锁定谱峰的峰位,作为高斯函数的均值初始值;以所述谱峰的峰位对应的峰值作为高斯函数的系数初始值;在全能谱范围内计算所有谱峰宽度下的拟合谱峰面积和原始谱峰面积的误差,根据误差最小值对应的谱峰宽度计算高斯函数的方差初始值;在均值、系数及方差取值范围内,计算均值、系数及方差在每种取值下的拟合谱峰面积与原始谱峰面积的误差,所有误差中计算最小的误差所对应的均值、系数及方差作为高斯函数的最终特征参数;使用所述最终特征参数对应的高斯函数进行光谱分析。本发明实施例提高了光谱峰的重现性,为后续的元素定性、定量分析提供更加准确、翔实的数据。

    提高分光器性能的方法及分光器、X射线测量分析设备

    公开(公告)号:CN101806757A

    公开(公告)日:2010-08-18

    申请号:CN201010126507.3

    申请日:2010-03-16

    Abstract: 本发明提供一种提高分光器性能的方法及分光器、X射线测量分析设备,属光学测量技术领域。该方法适用的分光器包括:壳体、入射狭缝组件、分光晶体和出射狭缝组件;其中,所述入射狭缝组件和出射狭缝组件均设置在壳体上,所述分光晶体设置在壳体内作为入射狭缝组件与出射狭缝组件之间的反射体;该方法包括:在分光器壳体内设置射线挡块,使所述射线挡块设置在壳体内分光晶体周围,通过射线挡块吸收或阻挡从入射狭缝组件进入的能照射到壳体内壁上的部分X射线,及吸收或阻挡通过分光晶体反射后能照射到壳体内壁上的部分X射线。采用该方法后,可以对射线在分光器内的传播路径进行校正,避免漫反射的X射线的影响,显著提高分光器的性能。

    一种光谱分析方法
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101819168A

    公开(公告)日:2010-09-01

    申请号:CN201010033922.4

    申请日:2010-01-06

    Abstract: 本发明实施例涉及元素光谱分析领域一种光谱分析方法,利用寻峰算法锁定谱峰的峰位,作为高斯函数的均值初始值;以所述谱峰的峰位对应的峰值作为高斯函数的系数初始值;在全能谱范围内计算所有谱峰宽度下的拟合谱峰面积和原始谱峰面积的误差,根据误差最小值对应的谱峰宽度计算高斯函数的方差初始值;在均值、系数及方差取值范围内,计算均值、系数及方差在每种取值下的拟合谱峰面积与原始谱峰面积的误差,所有误差中计算最小的误差所对应的均值、系数及方差作为高斯函数的最终特征参数;使用所述最终特征参数对应的高斯函数进行光谱分析。本发明实施例提高了光谱峰的重现性,为后续的元素定性、定量分析提供更加准确、翔实的数据。

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