基于OpenGL SC的图形遮罩方法、系统、设备和介质

    公开(公告)号:CN120014148A

    公开(公告)日:2025-05-16

    申请号:CN202510092201.7

    申请日:2025-01-21

    Abstract: 本发明涉及图像处理领域,具体涉及一种基于OpenGL SC的图形遮罩方法、系统、设备和介质,包括:接收遮罩生成请求,所述遮罩生成请求包括遮罩类型及多个遮罩顶点;根据所述遮罩类型及所有所述遮罩顶点,确定目标图形;根据OpenGL SC的模板测试方法,对目标图形进行模板测试,以设置OpenGL SC中的模板缓冲区;接收待渲染的图像数据,根据所述模板缓冲区,对所述图像数据进行渲染。本发明通过利用OpenGL SC的模板测试功能,在硬件级别实现遮罩操作,避免了复杂的像素级别计算,提高了渲染效率;同时,通过简化遮罩算法,降低了实现难度,并且基于OpenGL SC实现,具有很好的可移植性,可以方便地集成到不同的应用场景中。

    基于OpenGL SC的图形填充方法、系统及设备

    公开(公告)号:CN120014108A

    公开(公告)日:2025-05-16

    申请号:CN202510077790.1

    申请日:2025-01-17

    Abstract: 本发明涉及图像处理领域,具体涉及一种基于OpenGL SC的图形填充方法、系统及设备,包括:接收图形填充请求,所述图形填充请求包括目标颜色及待填充图形的所有特征顶点的坐标;根据所有所述特征顶点的坐标,计算目标斜率;根据所述目标斜率,生成多条预设宽度的虚拟的扫描线,以覆盖所述待填充图形;计算各个所述扫描线与所述待填充图形的交点,确定与所述待填充图形相关的各个扫描线段;基于OpenGL SC接口,将目标颜色填充至每一个扫描线段中,以完成所述待填充图形的填充。本发明采用扫描线填充算法,无需递归调用,从根本上避免了栈溢出的风险,适用于安全关键领域的图形渲染需求。

    核电站DCS仿真机失电仿真方法及装置

    公开(公告)号:CN110398901B

    公开(公告)日:2023-04-18

    申请号:CN201910347953.8

    申请日:2019-04-28

    Abstract: 本发明属于仿真测试的技术领域,为了解决现有技术中不能实现核电站DCS系统失电的深层次模拟的技术问题,本发明提供一种核电站DCS仿真机失电仿真方法及装置,所述方法包括:获取各个模块的信息表;整理出各个模块的供电关系表;基于各个模块的信息表和各个模块的供电关系表,整理核电站DCS中各个模块供电关系映射矩阵;当需要对所述核电站DCS控制柜中某个模块进行失电仿真时,通过核电站DCS中各个模块供电关系映射矩阵,查找与某个模块对应的供电关系表,识别与某个模块对应的供电关系表对应的供电条件作为仿真机的输入,自动输出所述某个模块的故障信息。因此,能够实现DCS系统失电的深层次、全范围、高逼真的仿真。

    一种用于多按键电子设备的自动测试装置及方法

    公开(公告)号:CN110726894B

    公开(公告)日:2022-12-06

    申请号:CN201911142660.2

    申请日:2019-11-20

    Abstract: 本发明涉及一种用于多按键电子设备的自动测试装置及方法,属于电子设备型式试验测试领域,解决了现有装置及方法不能对多测试点的电子设备自动测试的问题。本发明的自动测试装置包括机械臂单元和控制单元,机械臂单元包括步进电机、限位开关、丝杠、滑台、滑台支架和电磁铁;控制单元包括步进电机控制驱动模块和工控机;滑台支架分别与步进电机、限位开关和丝杠连接,丝杠与滑台连接,步进电机控制驱动模块分别与步进电机和限位开关电连接,工控机分别与步进电机控制驱动模块和电磁铁电连接。本发明通过工控机控制电磁铁到达机械臂单元覆盖的任意位置,控制电磁铁的铁芯模拟人手,实现对被测对象的自动测试操作。

    一种优先级管理产品自动测试装置及方法

    公开(公告)号:CN111308935B

    公开(公告)日:2021-01-29

    申请号:CN202010125492.2

    申请日:2020-02-27

    Abstract: 本发明涉及一种优先级管理产品自动测试装置及方法,属于自动化测试领域,解决了现有技术测试时间长、效率低的问题。该装置包括上位机和至少一个下位机;上位机,用于设置真值表指令,并输出至下位机,控制下位机进行测试;下位机,用于根据设置的真值表指令获得输入、输出逻辑真值表,并生成多个测试用例,还用于将多个测试用例中的输入逻辑值根据预设时间间隔依次输出至被测产品的输入通道,依次采集被测产品输出通道的输出逻辑值,并与对应的测试用例中的输出逻辑值比较,获得被测产品的优选逻辑状态,并上传至上位机。该装置能够自动产品优先级测试,测试时间短,提高了测试效率。

    一种电子元器件的集成式自动检验装置及方法

    公开(公告)号:CN111366811A

    公开(公告)日:2020-07-03

    申请号:CN202010195055.8

    申请日:2020-03-19

    Abstract: 本发明涉及一种电子元器件的集成式自动检验装置及方法,属于元器件检测技术领域;装置包括SMD器件备检单元和插装器件备检单元,控制器和自动检验仪器;控制器用于识别SMD器件备检单元和插装器件备检单元是否安装备检器件;控制备检单元上安装的备检器件与自动检验仪器连接进行检验;SMD器件备检单元用于安装备检的SMD盘件,在控制器的控制下,依次使SMD盘件中的每个SMD器件连接自动检验仪器;插装器件备检单元用于安装多个备检的插装器件,在控制器的控制下,将多个插装器件并行连接到自动检验仪器。本发明可自动检验SMD电阻、电容,插装二极管、三极管器件等,缩短了检验时间,降低破坏整盘器件造成浪费资源的风险。

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