公开(公告)号：CN118473407A

公开(公告)日：2024-08-09

申请号：CN202410589700.2

申请日：2024-05-13

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 翟芳 ,  黄伟冠 ,  肖慧

IPC: H03M1/10

Abstract: 本申请涉及一种芯片测试装置和方法。芯片测试装置包括测试母板和多个测试子板；测试母板包括控制组件和电源组件；测试子板包括供电端和连接组件；其中，不同的测试子板中的连接组件用于连接不同的待测试芯片；其中，电源组件分别与各测试子板中的供电端连接，以在控制组件的控制下为各测试子板中的待测试芯片提供所需的测试电压。采用本申请，通过电源组件分别与各测试子板中的供电端连接不同的待测试芯片，避免了每个待测试芯片都需要单独的测试装置，降低了芯片测试成本。

公开(公告)号：CN118316450A

公开(公告)日：2024-07-09

申请号：CN202410585532.X

申请日：2024-05-13

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 黄伟冠 ,  李家辉 ,  苏锦冰

IPC: H03M1/10 ,  H03M1/12

Abstract: 本申请涉及一种模数转换芯片的可靠性测试方法、系统、电子设备和计算机可读存储介质。所述方法包括：通过可靠性试验装置调节测试空间的环境参数，为模数转换芯片提供N个不同的测试环境；在每个测试环境下，通过信号发生器向模数转换芯片发送模拟量；读取模数转换芯片针对模拟量输出的数字信号流；根据数字信号流分析模数转换芯片的关键参数；根据N个测试环境下模数转换芯片的关键参数进行分析，得到模数转换芯片的可靠性测试结果。采用本方法能够模拟模数转换芯片的多种运行环境，对模数转换芯片在多种测试环境下的可靠性进行测试，提升模数转换芯片的测试效率。能够识别模数转换芯片的潜在风险，为提升模数转换芯片可靠性提供数据支持。

公开(公告)号：CN118367933A

公开(公告)日：2024-07-19

申请号：CN202410582234.5

申请日：2024-05-11

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 李伟 ,  黄伟冠 ,  翟芳

IPC: H03M1/10 ,  H03M1/12

Abstract: 本申请涉及一种模数转换器的测试方法、装置、系统和FPGA程序产品。所述方法包括：确定当前测试项目；根据当前测试项目确定测试参数；根据测试参数向标准信号源输出控制信号，以指示标准信号源基于控制信号向模数转换芯片输出目标电压；从模数转换芯片读取在目标电压作用下的当前响应；通过与当前测试项目相匹配的分析策略，对当前响应进行分析，得到当前测试项目对应的测试结果。采用本方法能够自动化完成模数转换芯片的各项测试，提升模数转换芯片的测试效率。利用FPGA单元的灵活性，实现模数转换芯片的多功能测试，无需设置多种测试模块，减少多种测试模块之间的线路干扰，提升测试精度。