半导体生产系统和方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118507382A

    公开(公告)日:2024-08-16

    申请号:CN202410176772.4

    申请日:2024-02-08

    Abstract: 一种半导体生产系统,包括:第一腔室,其被配置为被设置为第一设置值并处理晶片;第二腔室,其被配置为被设置为第二设置值并处理在第一腔室中处理的晶片;和故障检测和分类(FDC建模模块),其被配置为:训练第一FDC机器学习模型,以基于第一设置值和关于在第一腔室中处理的晶片感测的第一FDC值来生成关于第一腔室中的第一虚拟晶片的第一预测FDC值;以及训练第二FDC机器学习模型,以基于第二设置值和关于在第二腔室中处理的晶片感测的第二FDC值来生成关于第二腔室中的第二虚拟晶片的第二预测FDC值。

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