公开(公告)号：CN114664364A

公开(公告)日：2022-06-24

申请号：CN202111200412.6

申请日：2021-10-14

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 吴承俊 ,  李地花 ,  李庚德

IPC: G11C29/02 ,  G11C29/42

Abstract: 一种存储设备包括多个非易失性存储器件、存储控制器电路和泄露检测电路。所述存储控制器电路控制多个非易失性存储器件，所述存储控制器电路包括多个连接端子，所述多个连接端子中的每一个经由多个连接节点中的对应的连接节点与包括在所述多个非易失性存储器件中的多个引脚中的对应的引脚集共同连接。包括在每个引脚集中的引脚具有相同的属性。所述泄露检测电路被配置为基于由连接到每个引脚集的连接节点生成的合并信号确定在每个引脚集处是否出现泄露，并且被配置为向所述存储控制器电路提供对确定结果加以指示的检测信号。

公开(公告)号：CN112086112B

公开(公告)日：2025-02-11

申请号：CN202010439690.6

申请日：2020-05-22

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 李庚德 ,  千允洙 ,  李地花

IPC: G11C7/04

Abstract: 一种操作包括多个非易失性存储器的存储设备的方法，多个非易失性存储器中的每一个非易失性存储器包括温度传感器，该方法包括：检查是否已经达到多个非易失性存储器的预定温度检查周期；响应于检查结果，使用温度传感器监控多个非易失性存储器中的至少一些非易失性存储器的温度信息；基于监控的温度信息，通过应用温度加速条件来获得多个非易失性存储器的待机时间信息；以及基于监控的温度信息和获得的待机时间信息中的至少一个，改变操作多个非易失性存储器中的每一个非易失性存储器所需的多个驱动参数中的至少一个驱动参数。

公开(公告)号：CN112086112A

公开(公告)日：2020-12-15

申请号：CN202010439690.6

申请日：2020-05-22

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 李庚德 ,  千允洙 ,  李地花

IPC: G11C7/04

Abstract: 一种操作包括多个非易失性存储器的存储设备的方法，多个非易失性存储器中的每一个非易失性存储器包括温度传感器，该方法包括：检查是否已经达到多个非易失性存储器的预定温度检查周期；响应于检查结果，使用温度传感器监控多个非易失性存储器中的至少一些非易失性存储器的温度信息；基于监控的温度信息，通过应用温度加速条件来获得多个非易失性存储器的待机时间信息；以及基于监控的温度信息和获得的待机时间信息中的至少一个，改变操作多个非易失性存储器中的每一个非易失性存储器所需的多个驱动参数中的至少一个驱动参数。