半导体器件
    1.
    发明公开
    半导体器件 审中-公开

    公开(公告)号:CN119947085A

    公开(公告)日:2025-05-06

    申请号:CN202410930454.2

    申请日:2024-07-11

    Abstract: 公开了一种半导体器件,所述半导体器件包括:衬底,所述衬底包括器件隔离图案和有源区;位线,所述位线在所述衬底上在第一方向上延伸;半导体图案,所述半导体图案位于所述位线上;生长掩模层,所述生长掩模层位于所述位线上并具有与所述半导体图案接触的侧壁;字线,所述字线位于所述位线上并在与所述第一方向交叉的第二方向上延伸;以及栅极电介质图案,所述栅极电介质图案位于所述字线和所述半导体图案之间。所述生长掩模层的顶表面处于高于所述半导体图案的底表面的高度的高度处。

    半导体器件
    2.
    发明公开
    半导体器件 审中-公开

    公开(公告)号:CN119677099A

    公开(公告)日:2025-03-21

    申请号:CN202411261804.7

    申请日:2024-09-10

    Abstract: 一种半导体器件包括:衬底;位线,所述位线在所述衬底上沿第一方向延伸;位于所述位线上的第一垂直沟道图案和第二垂直沟道图案;背栅电极,所述背栅电极位于所述第一垂直沟道图案与所述第二垂直沟道图案之间并且跨越所述位线在与所述第一方向垂直的第二方向上延伸;第一字线,所述第一字线从所述第一垂直沟道图案的一侧在所述第二方向上延伸;第二字线,所述第二字线从所述第二垂直沟道图案的另一侧在所述第二方向上延伸;以及接触图案,所述接触图案连接到所述第一垂直沟道图案和所述第二垂直沟道图案中的每一者。当从截面图观察时,所述第一垂直沟道图案和所述第二垂直沟道图案中的每一者呈长边彼此面向的梯形形状。

Patent Agency Ranking