-
公开(公告)号：CN118412031A
公开(公告)日：2024-07-30
申请号：CN202410107203.4
申请日：2024-01-25
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 存储装置包括易失性存储器和配置为控制易失性存储器的存储控制器。易失性存储器包括：存储单元阵列，其在其中具有多个子单元阵列；和多个子字线驱动器块，其配置为驱动电连接到至少一个子单元阵列的子字线。存储控制器包括：易失性存储器接口，其配置为向易失性存储器传输和从其接收数据，并检测接收的数据的错误位；工作存储器，其配置为存储映射易失性存储器的单位区域、子字线和多个子字线驱动器块的结构映射表；以及处理器，其配置为：将与所述错误位相对应的单位区域的错误计数更新到结构映射表；通过访问结构映射表检测缺陷子字线和/或缺陷子字线驱动器块；并修复连接到缺陷子字线的和/或与缺陷子字线驱动器块相关联的至少一个存储单元。
-
公开(公告)号：CN112306737B
公开(公告)日：2025-03-04
申请号：CN202010401661.0
申请日：2020-05-13
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 提供了控制易失性存储器装置的修复的方法和存储装置。所述方法包括：重复地执行巡检读取操作，以提供包括在来自易失性存储器装置的读取数据中的错误的错误位置信息；通过累积基于重复地执行的巡检读取操作的错误位置信息来生成累积错误信息；基于累积错误信息确认错误属性，错误属性指示错误与易失性存储器装置的结构之间的相关性；以及基于累积错误信息和错误属性针对易失性存储器装置执行运行时间修复操作。可以有效地管理错误，以防止易失性存储器装置的故障，因此可以提高易失性存储器装置和存储装置的性能和寿命。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN118210649A
公开(公告)日：2024-06-18
申请号：CN202311165096.2
申请日：2023-09-11
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 一种操作存储设备的方法包括：定期地对存储器件执行巡检读取操作；将通过所述巡检读取操作获得的故障信息存储在缓冲存储器中；作为对来自所述存储器件的读取数据执行的第一纠错操作的结果，确定所述读取数据是否具有不可纠正的错误；当确定出所述读取数据具有不可纠正的错误时，从所述缓冲存储器加载所述故障信息；以及通过使用所述故障信息对所述读取数据执行第二纠错操作。
-
公开(公告)号：CN112447259A
公开(公告)日：2021-03-05
申请号：CN202010883429.5
申请日：2020-08-28
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 一种电子设备，包括：存储器设备；非易失性存储器，被配置为存储分别与存储器设备的操作电压相对应的多个第一配置参数和分别与存储器设备的操作温度相对应的多个第二配置参数；以及存储器控制器，被配置为：确定存储在非易失性存储器中的多个第一配置参数之中的与存储器设备的操作电压相对应的第三配置参数的值，而不执行训练操作；确定存储在非易失性存储器中的多个第二配置参数之中的与存储器设备的操作温度相对应的第四配置参数的值，而不执行训练操作；以及根据确定的第三配置参数和第四配置参数的值驱动存储器设备。
-
公开(公告)号：CN112306737A
公开(公告)日：2021-02-02
申请号：CN202010401661.0
申请日：2020-05-13
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 提供了控制易失性存储器装置的修复的方法和存储装置。所述方法包括：重复地执行巡检读取操作，以提供包括在来自易失性存储器装置的读取数据中的错误的错误位置信息；通过累积基于重复地执行的巡检读取操作的错误位置信息来生成累积错误信息；基于累积错误信息确认错误属性，错误属性指示错误与易失性存储器装置的结构之间的相关性；以及基于累积错误信息和错误属性针对易失性存储器装置执行运行时间修复操作。可以有效地管理错误，以防止易失性存储器装置的故障，因此可以提高易失性存储器装置和存储装置的性能和寿命。
-
公开(公告)号：CN112447252A
公开(公告)日：2021-03-05
申请号：CN202010460260.2
申请日：2020-05-27
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11C29/42
Abstract: 提供了一种控制易失性存储器装置的修复的方法和存储装置。设置易失性存储器装置的测试操作条件，使得与用于易失性存储器装置的正常操作的正常操作条件相比，错误概率基于测试操作条件增大。针对与包括在易失性存储器装置中的存储器单元阵列的至少一部分对应的测试对象区域设置测试模式。在测试模式期间基于测试操作条件执行易失性存储器装置的测试操作，以检测存储在测试对象区域中的数据中的错误的错误位置信息。基于错误位置信息针对易失性存储器装置执行运行时修复操作。
-
公开(公告)号：CN112306760A
公开(公告)日：2021-02-02
申请号：CN202010623751.4
申请日：2020-07-01
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 一种存储器系统，包括：多个存储器设备，多个存储器设备中的每一个存储器设备包括多个存储器单元，并且多个存储器设备中的至少一个存储器设备包括备份区域；以及，存储器控制器，被配置为：响应于多个选定的存储器单元中的至少一个选定的存储器单元中出现可纠正纠错码(CECC)，将要被存储在多个选定的存储器单元中的数据存储在多个选定的存储器单元和备份区域中，多个选定的存储器单元连接到多个存储器设备之中的选定的存储器设备的选定的字线，以及，用与多个存储器单元之中的多个冗余存储器单元连接的冗余字线来替换选定的字线。
-
-
-
-
-
-
Search Results
7
records
(took 0.029 seconds)
