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公开(公告)号:CN106323478A
公开(公告)日:2017-01-11
申请号:CN201610880227.9
申请日:2016-10-09
Applicant: 中国船舶重工集团公司第七一五研究所
IPC: G01J9/02
CPC classification number: G01J9/02 , G01J2009/0226 , G01J2009/0249 , G01J2009/0265
Abstract: 本发明提供了一个抗偏振衰落的光纤干涉型传感器相位生成载波调制解调系统,该系统包含输出频率调制光束的光源。信号发生器和倍频器,产生光源的频率调制信号和两倍频信号。非平衡光纤干涉仪组成的传感器。3路偏振分集检测模块,获取干涉仪输出的3个偏振方向的干涉信号输出。多通道A/D转换器。一个数字信号处理器,接收A/D转换器的输出信号,完成传感器探测信号的解调。本发明可以实现具有偏振衰落现象的光纤干涉型传感器的相位生成载波调制解调,可以实现实时解调处理,满足解调信号连续性的要求。
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公开(公告)号:CN106595879A
公开(公告)日:2017-04-26
申请号:CN201611121160.7
申请日:2016-12-02
Applicant: 青岛大学
IPC: G01J9/02
CPC classification number: G01J9/0215 , G01J2009/0234 , G01J2009/0249
Abstract: 本发明属于光学测试技术领域,涉及一种弥补频率响应缺陷的波前重建新方法,通过横向剪切干涉系统获取x方向和y方向的横向剪切干涉图;通过相移法提取x方向和y方向的差分相位;对差分相位进行补零,并对新的阵列进行傅里叶变换,得到傅里叶频谱;通过Shannon插值将傅里叶频谱连续化,并抽取傅里叶频谱组成新的阵列;进行逆向傅里叶变换,并利用相移定理,得到x和y方向的一维相位波前;利用最小二乘法,获得二维相位波前;本发明不增加测量次数,完全可以避免傅里叶变换中带来的频率响应缺陷,并提高了测量的精度和稳定性。
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公开(公告)号:CN106768398A
公开(公告)日:2017-05-31
申请号:CN201611091652.6
申请日:2016-12-01
Applicant: 长沙聚宇光电科技有限公司
Inventor: 陆凯
CPC classification number: G01J9/02 , G01J2009/0226 , G01J2009/0249 , G01M11/00 , G01M11/30
Abstract: 本发明公开了一种光源相位噪声的测试方法及装置,该方法首先在光纤干涉仪的一路延迟光纤上设置相位调制器,并对相位调制器加载调制信号;其次将光源信号沿光纤传输至光纤干涉仪,通过调制信号调制光纤干涉仪生成的干涉信号;最后利用相位生成载波解调方法或者工作点控制的方法对被调制的干涉信号进行解调,获得光源的相位噪声信号,实现光源相位噪声的测量。该装置通过在光纤干涉仪的一路延迟光纤上设置相位调制器,巧妙的使用具有短程差的光纤干涉仪,同步进行相位调制和干涉信号采集,根据干涉的调制波形,通过解调算法计算出相位噪声,完成光源相位噪声的直接测量。不需要高频探测器和高频采集系统,大大简化了系统的结构,降低了产品的价格。
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公开(公告)号:CN107255525A
公开(公告)日:2017-10-17
申请号:CN201710473501.5
申请日:2017-06-21
Applicant: 苏州大学
IPC: G01J9/02
CPC classification number: G01J9/02 , G01J2009/0211 , G01J2009/0249
Abstract: 本发明涉及一种测量部分相干光空间关联结构的方法及系统,所述方法包括:待测光源引入扰动、经过多孔阵列结构输出后进行傅里叶变换,记录光源传输至傅里叶平面处的光强;待测光源不引入扰动、经过多孔阵列结构输出后进行傅里叶变换,记录光源传输至傅里叶平面处的光强;将有扰动、无扰动两种情况下记录的光强,分别进行反傅里叶变换和筛选阵列的过滤,将过滤后的结果相减,并反传输至光源平面,即可得到光源平面的交叉谱密度函数,此时,根据关联结构函数、交叉谱密度函数和源场光强的关系,即可得到光源的关联结构。本发明本发明可以同时得到待测光源空间关联结构完整的实部和虚部信息。
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公开(公告)号:CN106969844A
公开(公告)日:2017-07-21
申请号:CN201710009052.9
申请日:2017-01-06
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01J9/02
CPC classification number: G01J9/02 , G01J2009/0249
Abstract: 本发明提供一种基于子孔径波前振幅调制的斜率和曲率信号提取方法,具体过程为:在待测光波波前所在的平面上设置分波面元件,所述分波面元件上的每个子孔径内设有四个通光圆孔A、B、C和D,其中通光圆孔A的圆心位于子孔径的中心上,通光圆孔B、C和D的圆心间隔120°均布在通光圆孔A的同心圆上;光电传感器采集光波经分波面元件后所形成光场的干涉图样,并将其存储于存储器中;根据第i个子孔径内的干涉图样,运算器计算待测光波波前在所述分波面元件第i个子孔径内以波面x和y方向上斜率、曲率以及混合曲率值表征的波面位相分布。利用该方法能够获得各个子孔径内以波面x和y方向上斜率、曲率以及混合曲率值表征的波面位相信息,从而实现高阶像差的精确测量。
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