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公开(公告)号：CN105247338A
公开(公告)日：2016-01-13
申请号：CN201480027147.8
申请日：2014-03-13
Applicant: X射线光学系统公司
CPC classification number: G01N23/223 , B01L3/561 , G01N1/28 , G01N21/85 , G01N23/2204 , G01N35/085 , G01N2001/002 , G01N2223/076 , G01N2223/637 , G01N2223/652
Abstract: 提供了一种用于样品分析器的样品处理设备/技术/方法，包括：样品室插件，其用于相对于分析器的样品聚焦区携带来和携带走样品；可拆卸的样品携带装置，其用于将样品提供至样品室插件；以及致动器，其用于使样品从携带装置流到样品室插件。可拆卸的样品携带装置可为注射器，并且致动器推动注射器的活塞以将样品推到样品室插件。样品室插件可安装在样品室上，样品室可插入分析器中，用于样品分析。样品处理设备可与光学器件启用的x射线分析器结合使用，x射线分析器包括x射线引擎，x射线引擎具有x射线激发路径和x射线检测路径，其中x射线激发路径和/或x射线检测路径限定了样品聚焦区。
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公开(公告)号：CN101981651B
公开(公告)日：2015-07-08
申请号：CN200980111618.2
申请日：2009-03-03
Applicant: X射线光学系统公司
IPC: H01J37/252 , G01N23/225
CPC classification number: G21K1/06 , G01N23/20008 , G01N23/223 , G01N2223/076 , G01N2223/1003 , G01N2223/315 , G01N2223/423 , G21K2201/062 , G21K2201/064 , H05G1/04
Abstract: 一种用于使用X射线射束照射试样斑的X射线分析装置。提供了一种具有源斑的X射线管，由该源斑生成具有特征第一能量和韧致辐射能量的发散X射线射束；第一X射线光学器件接收发散的X射线射束并朝试样斑指引射束，同时使射束单色化；和接收发散的X射线射束并朝试样斑指引射束同时使射束单色化为第二能量的第二X射线光学器件。第一X射线光学器件使来自源斑的特征能量单色化并且第二X射线光学器件使来自源斑的韧致辐射能量单色化。X射线光学器件可以是弯曲的衍射光学器件，用于从X射线管接收发散的X射线射束并且将射束聚焦在试样斑上。还提供了检测以检测和测量在例如包括玩具和电子产品的产品中的各种毒素。
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公开(公告)号：CN101183083B
公开(公告)日：2013-03-20
申请号：CN200710136704.1
申请日：2002-12-04
Applicant: X射线光学系统公司
Inventor： 伊恩·拉德利 , 托马斯·J·比耶维尼 , 约翰·H·小伯德特 , 布赖恩·W·加拉格尔 , 斯图尔特·M·沙卡肖巴尔 , 陈泽武 , 迈克尔·D·穆尔
IPC: G01N23/223 , G01N23/12 , H05G1/04
CPC classification number: H01J35/12 , G01N23/12 , G01N23/223 , G01N2223/076 , H01J2235/1295
Abstract: 一种用于冷却和电绝缘高压、生热部件的方法和设备，所述部件例如为用于通过X射线荧光分析流体的X射线管(1105)。所述设备包括X射线源(1100)，其包括X射线管(1105)，该X射线管(1105)具有由于X射线管与导热介质材料(1150)的热耦合而改善的散热特性。该设备可以包括安装到所述部件的基座组件(1135)，其用于传导热远离所述部件，同时电绝缘所述部件。在本发明的一个方面中，基座组件包括由介质板(1150)分离的两个铜板(1140、1145)。介质板使通过基座组件(1135)的电流泄露最小化，或者防止通过基座组件(1135)的电流泄露。所公开的发明的一个方面最适合分析基于石油的燃料中的硫。
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公开(公告)号：CN101356589B
公开(公告)日：2013-02-27
申请号：CN200680036327.8
申请日：2006-07-31
Applicant: 纽约州立大学研究基金会 , X射线光学系统公司
CPC classification number: B82Y10/00 , G21K1/06 , G21K7/00 , G21K2201/061 , G21K2201/062 , G21K2201/064
Abstract: 一种X射线成像系统，包括具有至少一个将从X射线源300发出的X射线引向焦点360的点聚焦、弯曲单色光学器件320的光学设备。该至少一个点聚焦、弯曲单色光学器件提供指向焦点的聚焦单色X射线束，并且探测器350与该聚焦单色X射线对准。当对象340置于聚焦单色X射线束范围内的光学设备和探测器之间时，该光学设备有助于进行对象的X射线成像。在各种实施例中：每个点聚焦、弯曲单色光学器件具有双弯曲的光学表面；该光学设备有助于根据对象和探测器相对于焦点的放置进行被动式的图像缩小或者放大；并且可采用至少一个第二点聚焦、弯曲单色光学器件以有助于进行对象的折射率或者偏振束成像。
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公开(公告)号：CN101356589A
公开(公告)日：2009-01-28
申请号：CN200680036327.8
申请日：2006-07-31
Applicant: 纽约州立大学研究基金会 , X射线光学系统公司
CPC classification number: B82Y10/00 , G21K1/06 , G21K7/00 , G21K2201/061 , G21K2201/062 , G21K2201/064
Abstract: 一种X射线成像系统，包括具有至少一个将从X射线源300发出的X射线引向焦点360的点聚焦、弯曲单色光学器件320的光学设备。该至少一个点聚焦、弯曲单色光学器件提供指向焦点的聚焦单色X射线束，并且探测器350与该聚焦单色X射线对准。当对象340置于聚焦单色X射线束范围内的光学设备和探测器之间时，该光学设备有助于进行对象的X射线成像。在各种实施例中：每个点聚焦、弯曲单色光学器件具有双弯曲的光学表面；该光学设备有助于根据对象和探测器相对于焦点的放置进行被动式的图像缩小或者放大；并且可采用至少一个第二点聚焦、弯曲单色光学器件以有助于进行对象的折射率或者偏振束成像。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107731337B
公开(公告)日：2019-11-19
申请号：CN201710929874.9
申请日：2012-10-25
Applicant: X射线光学系统公司
IPC: G21K1/06 , G01N23/207 , G01N23/223
Abstract: 本发明公开了一种形成单色x射线光学器件的方法，该方法包括对单层材料加热，并且使该单层材料进行弯曲同时被加热，以便该单层材料在冷却之后保持它的弯曲形状。本发明还公开了一种用于形成X射线分析仪的方法，其包括：提供X射线激励路径，用于将X射线从X射线源引导向样品；提供X射线探测路径，用于从样品处收集荧光；其中，所述X射线激励路径和/或X射线探测路径包括至少一个单色X射线光学器件；以及形成至少一个单色X射线光学器件，并且包括使该单层材料进行弯曲同时被加热，以使得该单层材料在冷却之后保持它的弯曲形状。
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公开(公告)号：CN103797358A
公开(公告)日：2014-05-14
申请号：CN201280037391.3
申请日：2012-06-14
Applicant: X射线光学系统公司
IPC: G01N23/223 , G01N33/22
CPC classification number: G01N23/223 , G01N33/2823 , G01N2223/076 , G01N2223/1003 , G01N2223/637 , G01N2223/652
Abstract: 一种技术，包括相关的方法和系统，用于精炼厂的原油或重质燃料流中痕量元素的在线测量，在一个实施例中包括：在精炼厂的某点处提供至少一个x-射线荧光（“XRF”）分析器；使用分析器针对氯分析石油流；将结果从分析器提供给精炼厂操作者，以改进精炼厂操作。分析器可以是单色波长XRF分析器，其中，分析器使用x-射线引擎将能量聚焦至流/聚焦来自流的能量，x-射线引擎具有至少一个聚焦、致单色x-射线光学器件。分析器可以是MWDXRF或ME-EDXRF分析器；痕量元素可以是以下元素中的一种或多种：S、Cl、P、K、Ca、V、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Hg、As、Pb和Se；在一个实施例中，所述流是原油，痕量元素是氯。
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公开(公告)号：CN101883980B
公开(公告)日：2013-06-12
申请号：CN200880016090.6
申请日：2008-03-14
Applicant: X射线光学系统公司
IPC: G01N23/223
CPC classification number: G01N23/223 , G01N2223/076
Abstract: 一种确定样品价态的X射线荧光技术。提供了X射线激励路径以使用X射线激励样品；和检测路径以检测样品发射的荧光，并将所发射的荧光聚焦到焦斑。该检测路径可包括单色检测光学器件以聚焦该荧光；还可包括焦斑聚焦于其上的探测器。感应焦斑的精确的位置，从中可确定样品的价态；和/或该检测光学器件可跨越特定入射角度摆动，以改变布拉格条件，由此感应样品内的不同价态。
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公开(公告)号：CN101278360B
公开(公告)日：2011-07-27
申请号：CN200680036809.3
申请日：2006-07-26
Applicant: X射线光学系统公司
IPC: G21K1/06 , G01N23/223
CPC classification number: G01N23/223 , B82Y10/00 , G01N2223/076 , G21K1/06 , G21K2201/061 , G21K2201/062 , G21K2201/064
Abstract: 一种用于激发处于x射线分析中的样品的x射线系统或方法，其使用弯曲的单色光学器件将来自x射线源的单色x射线束引导朝向第一焦点区域。第二光学器件安置在单色x射线束中并接收该单色x射线束，且将聚焦的x射线束引导朝向样品上的第二焦点区域。探测器安置在样品附近，以收集作为聚焦的x射线束的结果的而来自样品的辐射。弯曲的单色光学器件在所述第一焦点区域产生的束斑尺寸大于由所述第二光学器件在所述第二焦点区域产生的束斑尺寸，因此，通过使用第二光学器件减小了样品上的束斑尺寸。双曲单色光学器件和多毛细管光学器件作为光学器件的可能的实施被公开。
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公开(公告)号：CN101883980A
公开(公告)日：2010-11-10
申请号：CN200880016090.6
申请日：2008-03-14
Applicant: X射线光学系统公司
IPC: G01N23/223
CPC classification number: G01N23/223 , G01N2223/076
Abstract: 一种确定样品价态的X射线荧光技术。提供了X射线激励路径以使用X射线激励样品；和检测路径以检测样品发射的荧光，并将所发射的荧光聚焦到焦斑。该检测路径可包括单色检测光学器件以聚焦该荧光；还可包括焦斑聚焦于其上的探测器。感应焦斑的精确的位置，从中可确定样品的价态；和/或该检测光学器件可跨越特定入射角度摆动，以改变布拉格条件，由此感应样品内的不同价态。
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