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公开(公告)号：CN100403411C
公开(公告)日：2008-07-16
申请号：CN200480034582.X
申请日：2004-11-10
Applicant: TDK股份有限公司
IPC: G11B7/0065 , G11B7/09 , G11B7/135 , G03H1/22
CPC classification number: G11B7/1395 , G03H1/22 , G03H2001/0419 , G03H2001/2228 , G11B7/0065 , G11B7/083 , G11B7/09 , G11B7/1362
Abstract: 本发明提供一种不会使全息记录介质的记录容量降低、而进行再现位置伺服的方法以及装置。当对全息记录介质18进行再现时，将再现光的一部分作为伺服光，从再现光(参照光)的相反侧，在其同一光轴上对全息记录介质18的记录层18A进行照射，并经由偏振光束分离器26B而由光电检测器26C检测出其衍射光。
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公开(公告)号：CN100559479C
公开(公告)日：2009-11-11
申请号：CN200510099925.7
申请日：2005-09-08
Applicant: TDK股份有限公司
IPC: G11B7/0045 , G11B7/125
CPC classification number: G11B7/0062 , G11B7/24038 , G11B2007/0013
Abstract: 一种信息记录方法，如2层光记录介质的L1层，在光透射率高的记录层上不产生前后记录标记的热干涉及和相邻磁道的记录标记的串道擦除等，正确形成记录标记，其使用如下记录策略：将激光束脉冲调制成为包括记录功率的写入脉冲及基底功率的冷却脉冲的脉冲列，将应记录的数据调制成沿着记录层的磁道的记录标记的长度，且当设定1时钟周期为T时，使记录标记长度与T的整数倍nT对应，与nT对应的nT记录标记，在n为4或其以上时，使用同样多根的写入脉冲及冷却脉冲记录，使1根冷却脉冲宽度Tc的平均宽度AveTc为1.0＜AveTc/T＜1.6，且使所使用的冷却脉冲的总计脉冲宽度SumTc为0.5≤SumTc/nT≤0.8。
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公开(公告)号：CN100547500C
公开(公告)日：2009-10-07
申请号：CN200480040032.9
申请日：2004-12-20
Applicant: TDK股份有限公司
IPC: G03H1/02
CPC classification number: G03H1/0256 , G03H1/02 , G03H2001/263 , G03H2250/34 , G03H2250/37 , G03H2250/39 , G03H2260/12 , G03H2260/30
Abstract: 全息记录介质(10)由记录层(12)、中间夹着该记录层(12)的两张基板(14、16)以及覆盖这些记录层(12)、基板(14、16)的整体的感光保护层(18)所构成。记录层(12)是以使对应于记录波长的感光度在该记录波长附近从短波长侧向长波长侧下降的方式被设定，而感光保护层(18)是以使对应于记录波长的光透过率在记录波长附近从长波长侧向短波长侧下降的方式被设定，从而，不使记录灵敏度降低，而能够使由记录层的环境曝光导致的损伤得到改善。
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公开(公告)号：CN1886785A
公开(公告)日：2006-12-27
申请号：CN200480034582.X
申请日：2004-11-10
Applicant: TDK股份有限公司
IPC: G11B7/0065 , G11B7/09 , G11B7/135 , G03H1/22
CPC classification number: G11B7/1395 , G03H1/22 , G03H2001/0419 , G03H2001/2228 , G11B7/0065 , G11B7/083 , G11B7/09 , G11B7/1362
Abstract: 本发明提供一种不会使全息记录介质的记录容量降低、而进行再现位置伺服的方法以及装置。当对全息记录介质18进行再现时，将再现光的一部分作为伺服光，从再现光(参照光)的相反侧，在其同一光轴上对全息记录介质18的记录层18A进行照射，并经由偏振光束分离器26B而由光电检测器26C检测出其衍射光。
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公开(公告)号：CN100552479C
公开(公告)日：2009-10-21
申请号：CN200480035096.X
申请日：2004-11-18
Applicant: TDK股份有限公司
CPC classification number: G11B7/26 , G03H1/0256 , G03H2001/186 , G03H2223/25 , G03H2250/37 , G03H2260/12 , G11B7/24044 , G11B7/251 , G11B7/254 , G11B7/2575
Abstract: 作为光学部件和光记录介质，在使用有机-无机混合材料等光学材料层的情况下，消除其干燥产生的厚度不均的影响。光记录介质(20)以如下方式构成：在基板(10)上涂敷并干燥有机-无机混合材料层(12)，用有机硅树脂(16)覆盖该层，且在该有机硅树脂(16)上层叠透光性基板(18)。通过该结构，缩小混合材料层(12)和有机硅树脂(16)的折射率的差，成为在光学上的连续一体，从而消除混合材料层(12)的厚度不均的影响。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN100451873C
公开(公告)日：2009-01-14
申请号：CN200480034179.7
申请日：2004-11-04
Applicant: TDK股份有限公司
CPC classification number: G03H1/26 , G11B7/0065 , G11B7/007 , G11B2007/0009
Abstract: 一种使全息多重记录时的各记录区域内的残留动态范围更均匀的全息多重记录方法。该全息多重记录方法将记录光点RS沿X轴方向不重叠地排列而形成第一段记录光点行RX1，然后在Y轴方向的移位多重记录的位置上记录同样由沿X轴方向不重叠的记录光点RS构成的下一第二段记录光点行RX2，并将其反复进行，对沿X轴方向不进行移位多重记录也可记录的区域全部进行记录，从而形成Y轴方向第一多重记录光点矩阵TYX1，然后在相对最初记录的第一段记录光点行RX1在X轴方向的移位多重化的位置上，形成Y轴方向第二多重记录光点矩阵TYX2，以下同样而将X轴方向的移位多重记录进行到Y轴方向最终多重记录光点矩阵TYXn为止，并完成记录。
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公开(公告)号：CN100416668C
公开(公告)日：2008-09-03
申请号：CN200510079093.2
申请日：2005-06-24
Applicant: TDK股份有限公司
IPC: G11B7/0045 , G11B7/125
CPC classification number: G11B7/00456 , G11B2007/0013
Abstract: 像2层光记录媒体的L1层那样，在透光率高的记录层上正确地形成记录痕迹，而不会发生与前后记录痕迹间的热干扰或与邻接轨道的记录痕迹的横向擦拭等。在透光率高的半透光记录膜上进行记录时，将激光束脉冲调制成包含记录功率的写入脉冲和基底功率的冷却脉冲的脉冲串；把应记录的数据调制为沿记录层的轨道的记录痕迹的长度，并且，在取1时钟周期为T时，使记录痕迹的长度对应于T的整数倍nT；然后用(n-1)条写入脉冲记录对应于该nT的nT记录痕迹；在记录4T以上的记录痕迹时，在最末尾的写入脉冲之前，插入脉宽0.8T以上2T以下的冷却脉冲。
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公开(公告)号：CN1902553A
公开(公告)日：2007-01-24
申请号：CN200480040032.9
申请日：2004-12-20
Applicant: TDK股份有限公司
IPC: G03H1/02
CPC classification number: G03H1/0256 , G03H1/02 , G03H2001/263 , G03H2250/34 , G03H2250/37 , G03H2250/39 , G03H2260/12 , G03H2260/30
Abstract: 全息记录介质10由记录层12、中间夹着该记录层12的两张基板14、16、以及覆盖这些记录层12、基板14、16的整体的感光保护层18所构成。记录层12是以使对应于记录波长的感光度在该记录波长附近从短波长侧向长波长侧下降的方式被设定，而感光保护层18是以使对应于记录波长的光透过率在记录波长附近从长波长侧向短波长侧下降的方式被设定，从而，不使记录灵敏度降低，而能够使由记录层的环境曝光导致的损伤得到改善。
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公开(公告)号：CN1886683A
公开(公告)日：2006-12-27
申请号：CN200480035096.X
申请日：2004-11-18
Applicant: TDK股份有限公司
CPC classification number: G11B7/26 , G03H1/0256 , G03H2001/186 , G03H2223/25 , G03H2250/37 , G03H2260/12 , G11B7/24044 , G11B7/251 , G11B7/254 , G11B7/2575
Abstract: 作为光学部件和光记录介质，在使用有机－无机混合材料等光学材料层的情况下，消除其干燥产生的厚度不均的影响。光记录介质(20)以如下方式构成：在基板(10)上涂敷并干燥有机－无机混合材料层(12)，用有机硅树脂(16)覆盖该层，且在该有机硅树脂(16)上层叠透光性基板(18)。通过该结构，缩小混合材料层(12)和有机硅树脂(16)的折射率的差，成为在光学上的连续一体，从而消除混合材料层(12)的厚度不均的影响。
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公开(公告)号：CN1882886A
公开(公告)日：2006-12-20
申请号：CN200480034179.7
申请日：2004-11-04
Applicant: TDK股份有限公司
CPC classification number: G03H1/26 , G11B7/0065 , G11B7/007 , G11B2007/0009
Abstract: 一种使全息多重记录时的各记录区域内的残留动态范围更均匀的全息多重记录方法。该全息多重记录方法将记录光点RS沿X轴方向不重叠地排列而形成第一段记录光点行RX1，然后在Y轴方向的移位多重记录的位置上记录同样由沿X轴方向不重叠的记录光点RS构成的下一第二段记录光点行RX2，并将其反复进行，对沿X轴方向不进行移位多重记录也可记录的区域全部进行记录，从而形成Y轴方向第一多重记录光点矩阵TYX1，然后在相对最初记录的第一段记录光点行RX1在X轴方向的移位多重化的位置上，形成Y轴方向第二多重记录光点矩阵TYX2，以下同样而将X轴方向的移位多重记录进行到Y轴方向最终多重记录光点矩阵TYXn为止，并完成记录。
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