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公开(公告)号：CN106033674A
公开(公告)日：2016-10-19
申请号：CN201510122148.7
申请日：2015-03-19
CPC classification number: G11B5/4866 , G01J1/4257 , G01J1/44 , G11B5/6088 , G11B2005/0021
Abstract: 一种光源单元、使用该光源单元的热辅助磁记录头、以及用于光源单元的光源。一种光源单元，包括基板、安装在基板上的光源。所述光源包括：发射前向光的第一发射部，所述前向光在振荡状态下为激光；位于与所述第一发射部相反的一侧且发射后向光的第二发射部，所述后向光在振荡状态下为激光；以及与所述第一发射部和所述第二发射部位于不同位置的漏光部。光源还包括设置于所述基板上的光检测器，其中所述光检测器具有用于检测从所述漏光部泄漏的漏出光的光接收表面。
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公开(公告)号：CN102540041A
公开(公告)日：2012-07-04
申请号：CN201110403014.4
申请日：2011-12-07
CPC classification number: G11B5/3166 , G11B5/314 , G11B5/3173 , G11B5/3189 , G11B2005/0021 , H01L2924/0002 , Y10T29/49021 , Y10T29/49032 , H01L2924/00
Abstract: 本发明涉及热辅助头的老化测试方法。测试条带状态的多个激光二极管单元，每个激光二极管单元中的激光二极管包括形成在彼此面对表面上的第一电极和第二电极，且安装在子底座的安装表面上，使第一电极面对安装表面。方法包括：准备条带，条带中安装区域和切分边沿沿纵向交替排列，每个安装区域包括其上形成的激光二极管单元，切分边沿用于将条带分成分立的激光二极管单元，在每个安装区域的安装表面上设置与第一电极电连接的第一焊盘，在每个切分边沿的安装表面上设置同与之相邻的安装区域中的第一焊盘电连接的第二焊盘；使片状探针相对于第二电极和第二焊盘成倾斜角而与之相接触，并按压探针使探针变形；以及通过探针在第二电极和第二焊盘之间提供电势差，使激光二极管发射激光。
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公开(公告)号：CN102540041B
公开(公告)日：2015-03-18
申请号：CN201110403014.4
申请日：2011-12-07
CPC classification number: G11B5/3166 , G11B5/314 , G11B5/3173 , G11B5/3189 , G11B2005/0021 , H01L2924/0002 , Y10T29/49021 , Y10T29/49032 , H01L2924/00
Abstract: 本发明涉及热辅助头的老化测试方法。测试条带状态的多个激光二极管单元，每个激光二极管单元中的激光二极管包括形成在彼此面对表面上的第一电极和第二电极，且安装在子底座的安装表面上，使第一电极面对安装表面。方法包括：准备条带，条带中安装区域和切分边沿沿纵向交替排列，每个安装区域包括其上形成的激光二极管单元，切分边沿用于将条带分成分立的激光二极管单元，在每个安装区域的安装表面上设置与第一电极电连接的第一焊盘，在每个切分边沿的安装表面上设置同与之相邻的安装区域中的第一焊盘电连接的第二焊盘；使片状探针相对于第二电极和第二焊盘成倾斜角而与之相接触，并按压探针使探针变形；以及通过探针在第二电极和第二焊盘之间提供电势差，使激光二极管发射激光。
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公开(公告)号：CN103824568A
公开(公告)日：2014-05-28
申请号：CN201210465887.2
申请日：2012-11-16
CPC classification number: G11B5/3173 , G11B5/102 , G11B5/314 , G11B2005/0021
Abstract: 本发明公开一种用于热辅助磁头滑动块，包括：衬底，衬底具有光源模块以及面向磁性记录媒介表面的空气承载面；读部分，读部分具有读元件；以及写部分，写部分包括写元件、用于引导由光源模块产生的光的波导路，以及设置于写元件和波导路附近的等离子体激元单元，等离子体激元单元具有近场光产生表面以传播近场光至空气承载面。其中，读部分的媒介面向表面上覆盖具有第一厚度和第一光吸收系数的第一表层，写部分的媒介面向表面上覆盖具有第二厚度和第二光吸收系数的第二表层，其中，第二厚度大于第一厚度，第二光吸收系数小于第一光吸收系数。本发明能保护写部分并提高读部分的读取性能。本发明还公开了磁头折片组合、硬盘驱动器及制造方法。
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公开(公告)号：CN1270089A
公开(公告)日：2000-10-18
申请号：CN00106805.9
申请日：2000-04-12
Applicant: TDK株式会社
CPC classification number: G11B7/22 , B24B21/00 , B24B37/048 , G11B5/3103 , G11B5/3173 , G11B7/122 , G11B11/1058 , Y10T83/9292
Abstract: 通过解决外形精度降低的问题和由于切割表面粗糙引起的污染物或碎屑的问题,提供了一种能够实现各种类型的可以高可靠性使用的诸如滑触头等器件、而不会在实际使用过程中由于污染物而引起故障等的加工方法。使线锯与棒的切割槽接触,线锯的锯线直径大于由第一切割步骤切割的部分的宽度、就是说切割槽的宽度。在线锯沿着纵向滑动的同时,沿着棒的厚度方向横过棒的总厚度把棒切片。于是,在棒被切割的同时,使通过切割形成的最后切割表面光洁。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103824568B
公开(公告)日：2018-01-30
申请号：CN201210465887.2
申请日：2012-11-16
CPC classification number: G11B5/3173 , G11B5/102 , G11B5/314 , G11B2005/0021
Abstract: 本发明公开一种用于热辅助磁头滑动块，包括：衬底，衬底具有光源模块以及面向磁性记录媒介表面的空气承载面；读部分，读部分具有读元件；以及写部分，写部分包括写元件、用于引导由光源模块产生的光的波导路，以及设置于写元件和波导路附近的等离子体激元单元，等离子体激元单元具有近场光产生表面以传播近场光至空气承载面。其中，读部分的媒介面向表面上覆盖具有第一厚度和第一光吸收系数的第一表层，写部分的媒介面向表面上覆盖具有第二厚度和第二光吸收系数的第二表层，其中，第二厚度大于第一厚度，第二光吸收系数小于第一光吸收系数。本发明能保护写部分并提高读部分的读取性能。本发明还公开了磁头折片组合、硬盘驱动器及制造方法。
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公开(公告)号：CN102749532A
公开(公告)日：2012-10-24
申请号：CN201210117343.7
申请日：2012-04-20
Applicant: TDK株式会社
CPC classification number: G11B5/455 , G01R31/2635 , G01R31/2642 , G11B2005/0021 , H01S5/0021 , H01S5/0042
Abstract: 本发明的老化试验方法构成为将多个光源元件和用于对来自多个光源元件的每一个的光输出进行监测的多个光检测器装入夹具台，在至少将多个光源元件和多个光检测器浸渍在绝缘性的液体中的状态下对多个光源元件进行通电来进行，因此能够在短时间保持稳定的温度，能够维持相对于通常的负载条件不乖离的温度，不对元件造成损伤来进行光源单元芯片的合格品和不合格品的分选试验。
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公开(公告)号：CN1262999C
公开(公告)日：2006-07-05
申请号：CN00108250.7
申请日：2000-04-30
Applicant: TDK株式会社
Abstract: 通过解决由于锐角边缘线和有害的突起或剥裂而产生的对记录介质如磁盘的损害问题，提供一种滑动器和加工滑动器的方法，它能使磁头不损伤磁盘和不产生读/写误差。从杆的前表面沿厚度穿过全厚度切割滑动器，由此使滑动器互相单个地分开。使直径大于切割部分宽度(切割槽宽度)的线锯与切割槽的一部分接触。当线锯沿纵向滑动时，使线锯沿杆的厚度压紧，由此使每个滑动器的边缘磨成圆角。这样，在每个滑动器的边缘被倒角而在截面中成为凹形弧面时，可以得到极光滑的抛光表面。
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公开(公告)号：CN1205615C
公开(公告)日：2005-06-08
申请号：CN00106805.9
申请日：2000-04-12
Applicant: TDK株式会社
CPC classification number: G11B7/22 , B24B21/00 , B24B37/048 , G11B5/3103 , G11B5/3173 , G11B7/122 , G11B11/1058 , Y10T83/9292
Abstract: 通过解决外形精度降低的问题和由于切割表面粗糙引起的污染物或碎屑的问题，提供了一种能够实现各种类型的可以高可靠性使用的诸如滑触头等器件、而不会在实际使用过程中由于污染物而引起故障等的加工方法。使线锯与棒的切割槽接触，线锯的锯线直径大于由第一切割步骤切割的部分的宽度、就是说切割槽的宽度。在线锯沿着纵向滑动的同时，沿着棒的厚度方向横过棒的总厚度把棒切片。于是，在棒被切割的同时，使通过切割形成的最后切割表面光洁。
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公开(公告)号：CN102749532B
公开(公告)日：2016-11-09
申请号：CN201210117343.7
申请日：2012-04-20
Applicant: TDK株式会社
CPC classification number: G11B5/455 , G01R31/2635 , G01R31/2642 , G11B2005/0021 , H01S5/0021 , H01S5/0042
Abstract: 本发明的老化试验方法构成为将多个光源元件和用于对来自多个光源元件的每一个的光输出进行监测的多个光检测器装入夹具台，在至少将多个光源元件和多个光检测器浸渍在绝缘性的液体中的状态下对多个光源元件进行通电来进行，因此能够在短时间保持稳定的温度，能够维持相对于通常的负载条件不乖离的温度，不对元件造成损伤来进行光源单元芯片的合格品和不合格品的分选试验。
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