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公开(公告)号：CN103477212A
公开(公告)日：2013-12-25
申请号：CN201280009494.9
申请日：2012-02-16
Applicant: MSC&SGCC公司
CPC classification number: G01N21/958 , G01B11/06 , G01B11/0691 , G01N21/90
Abstract: 本发明涉及一种用于检测透明容器(2)上薄型缺陷的探测方法，该透明容器具有中心轴(A)，针对分布在探测区域上的一连串探测点，其中这些探测点一方面取决于所述容器沿中心轴(A)所取的高度而另一方面取决于所述容器的周边而覆置，该方法包括如下步骤：发出光束(9)以便在光传感器(16)上提取来自容器壁的内表面(6)和外表面(5)的反射光束(12,11)，在每个探测点处根据外表面与内表面的反射光束之间在与光传感器(16)齐平处的间隔来测量壁(3)的厚度，通过分析厚度测量值在探测区域上的分布来处理所述厚度测量值以从中提取几何特征，并将这些几何特征与参考值进行比较以确定所述容器是否具有材料分布缺陷。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103477212B
公开(公告)日：2016-06-22
申请号：CN201280009494.9
申请日：2012-02-16
Applicant: MSC&SGCC公司
CPC classification number: G01N21/958 , G01B11/06 , G01B11/0691 , G01N21/90
Abstract: 本发明涉及一种用于检测透明容器(2)上薄型缺陷的探测方法，该透明容器具有中心轴(A)，针对分布在探测区域上的一连串探测点，其中这些探测点一方面取决于所述容器沿中心轴(A)所取的高度而另一方面取决于所述容器的周边而覆置，该方法包括如下步骤：发出光束(9)以便在光传感器(16)上提取来自容器壁的内表面(6)和外表面(5)的反射光束(12,11)，在每个探测点处根据外表面与内表面的反射光束之间在与光传感器(16)齐平处的间隔来测量壁(3)的厚度，通过分析厚度测量值在探测区域上的分布来处理所述厚度测量值以从中提取几何特征，并将这些几何特征与参考值进行比较以确定所述容器是否具有材料分布缺陷。
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公开(公告)号：CN104620096B
公开(公告)日：2017-09-29
申请号：CN201380039170.4
申请日：2013-07-18
Applicant: MSC & SGCC公司
CPC classification number: G01N21/90 , G01N21/8851 , G01N21/958 , G01N2021/8832 , G01N2201/0484 , G01N2201/062
Abstract: 本发明涉及一种用于光学检验透明或半透明容器(3)的在线方法，所述容器(3)在光源(7)与用于拍摄所述容器的图像并用于分析所拍摄图像的图像拍摄系统(9)之间行进。所述方法包括如下步骤：·借助于所述光源(7)来照射每个容器(3)，所述光源(7)沿着至少第一变化方向(D)在周期为T1的周期性图案(71)中呈现光强度变化；·对于每个容器(3)，拍摄在所述光源前方行进且沿着所述行进路径占据N个不同相应位置的所述容器的大于或等于三的N个图像；·在拍摄连续图像之间，在所述周期性图案(71)的变化方向(D)上，产生所述容器与所述周期性图案之间的相对位移；·对于属于所述容器的至少一组点，在相同容器的至少N‑1个图像中确定并应用几何转换，以便使得在相同容器的所述N个连续图像中属于所述容器的像素一致；·对于每个容器(3)，使用所述容器的所述N个对准图像，构造相位图像；以及·分析所述相位图像，以便从中至少推断出折射光的缺陷的存在或者构成所述容器的材料的分布的质量。
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公开(公告)号：CN105431729A
公开(公告)日：2016-03-23
申请号：CN201480025190.0
申请日：2014-04-30
Applicant: MSC&SGCC公司
IPC: G01N21/90
Abstract: 本发明涉及一种观察和分析光学奇点的方法，该方法包括：使用关于与一容器的对称轴平行的竖直轴线(Z)轴对称的发光表面(6)，照亮所述容器的外部，通过一个或多个采集系统(11)沿着所述发光表面的母线可检测到发光特性的变化；对于低透射率的容器，借助图像采集装置取得容器的该部分的图像接收来自于位于容器的相同侧的发光表面(6)的那部分的光束；或者对于高透射率的容器，借助图像采集装置取得所述容器部分的图像，接收来自于与该容器沿径向相对的发光表面(6)的那部分光束。
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公开(公告)号：CN104870932A
公开(公告)日：2015-08-26
申请号：CN201380054380.0
申请日：2013-10-18
Applicant: MSC&SGCC公司
Inventor： M·勒孔特
Abstract: 本发明涉及一种设备，用于测量容器壁的厚度，包括：-光学系统(15)，用于在光传感器(14)的检测平面上收集和聚焦由壁的外和内表面反射的光束。根据本发明，光学收集和聚焦系统(15)包括：-第一物镜(21)具有位于入射光束(9)与所述壁(3)的撞击点的附近的其物平面，-至少半透明的扩散屏(23)，位于所述第一物镜(21)的像平面中，以便将由所述第一物镜收集的所述光束物理地表示为热点(Ti)，-第二物镜(25)，包括作为物平面的所述扩散屏(23)和作为像平面的所述光传感器(14)。
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公开(公告)号：CN104620096A
公开(公告)日：2015-05-13
申请号：CN201380039170.4
申请日：2013-07-18
Applicant: MSC&SGCC公司
CPC classification number: G01N21/90 , G01N21/8851 , G01N21/958 , G01N2021/8832 , G01N2201/0484 , G01N2201/062
Abstract: 本发明涉及一种用于光学检验透明或半透明容器(3)的在线方法，所述容器(3)在光源(7)与用于拍摄所述容器的图像并用于分析所拍摄图像的图像拍摄系统(9)之间行进。所述方法包括如下步骤：·借助于所述光源(7)来照射每个容器(3)，所述光源(7)沿着至少第一变化方向(D)在周期为T1的周期性图案(71)中呈现光强度变化；·对于每个容器(3)，拍摄在所述光源前方行进且沿着所述行进路径占据N个不同相应位置的所述容器的大于或等于三的N个图像；·在拍摄连续图像之间，在所述周期性图案(71)的变化方向(D)上，产生所述容器与所述周期性图案之间的相对位移；·对于属于所述容器的至少一组点，在相同容器的至少N-1个图像中确定并应用几何转换，以便使得在相同容器的所述N个连续图像中属于所述容器的像素一致；·对于每个容器(3)，使用所述容器的所述N个对准图像，构造相位图像；以及·分析所述相位图像，以便从中至少推断出折射光的缺陷的存在或者构成所述容器的材料的分布的质量。
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