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公开(公告)号：CN105431729A
公开(公告)日：2016-03-23
申请号：CN201480025190.0
申请日：2014-04-30
Applicant: MSC&SGCC公司
IPC: G01N21/90
Abstract: 本发明涉及一种观察和分析光学奇点的方法，该方法包括：使用关于与一容器的对称轴平行的竖直轴线(Z)轴对称的发光表面(6)，照亮所述容器的外部，通过一个或多个采集系统(11)沿着所述发光表面的母线可检测到发光特性的变化；对于低透射率的容器，借助图像采集装置取得容器的该部分的图像接收来自于位于容器的相同侧的发光表面(6)的那部分的光束；或者对于高透射率的容器，借助图像采集装置取得所述容器部分的图像，接收来自于与该容器沿径向相对的发光表面(6)的那部分光束。
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