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公开(公告)号：CN119178386A
公开(公告)日：2024-12-24
申请号：CN202411701720.0
申请日：2024-11-26
Applicant: 龙岩市计量所 , 福建省计量科学研究院(福建省眼镜质量检验站)
Abstract: 一种基于非接触光学的塞尺检定方法及其检定装置，包括：被检塞尺设置在共焦激光位移传感器的上测量头和下测量头之间，使两测量头激光同轴进行差动测量；将标准量块放置在上测量头和下测量头中间，输入标准量块的修正值，读取上测量头和下测量头之间距离；确定塞尺片测量点，上测量头和下测量头分别读取每个塞尺片测量点中心原点的数据，移动塞尺，在每个塞尺片测量点x、y轴平面方向上测量区域范围内进行微小位移，结合上测量头和下测量头的读数值形成n个坐标，分别拟合成上、下两个平面S1、S2，并分别计算该塞尺的厚度偏差和弯曲度。本发明提供一种精度高、操作方便高效、自动化、可批量检测的基于非接触光学的塞尺检定方法及装置。
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公开(公告)号：CN119197347B
公开(公告)日：2025-03-07
申请号：CN202411701719.8
申请日：2024-11-26
Applicant: 龙岩市计量所 , 福建省计量科学研究院(福建省眼镜质量检验站)
Abstract: 一种薄片关键参数的测量装置及其测量方法，装置包括：框架主体、安装底板、二维中空移动平台、共焦激光位移传感器、夹具组件、安装支架、倾角调整结构组件、控制系统。在共焦激光传感器的上测量头和下测量头之间分别设置一平行玻璃，夹具组件上的被检薄片位于两平行玻璃之间。测量时，调整n次两平行玻璃处于不同的β小角度，读取上测量头和下测量头分别至被检薄片上、下表面的距离数据，折算垂直距离，并分别计算被检薄片的厚度偏差、弯曲度等关键参数。本发明提供一种精度高、操作方便高效、自动化、可批量检测的薄片关键参数测量装置及其测量方法。
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公开(公告)号：CN119178386B
公开(公告)日：2025-02-18
申请号：CN202411701720.0
申请日：2024-11-26
Applicant: 龙岩市计量所 , 福建省计量科学研究院(福建省眼镜质量检验站)
Abstract: 一种基于非接触光学的塞尺检定方法及其检定装置，包括：被检塞尺设置在共焦激光位移传感器的上测量头和下测量头之间，使两测量头激光同轴进行差动测量；将标准量块放置在上测量头和下测量头中间，输入标准量块的修正值，读取上测量头和下测量头之间距离；确定塞尺片测量点，上测量头和下测量头分别读取每个塞尺片测量点中心原点的数据，移动塞尺，在每个塞尺片测量点x、y轴平面方向上测量区域范围内进行微小位移，结合上测量头和下测量头的读数值形成n个坐标，分别拟合成上、下两个平面S1、S2，并分别计算该塞尺的厚度偏差和弯曲度。本发明提供一种精度高、操作方便高效、自动化、可批量检测的基于非接触光学的塞尺检定方法及装置。
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公开(公告)号：CN119197347A
公开(公告)日：2024-12-27
申请号：CN202411701719.8
申请日：2024-11-26
Applicant: 龙岩市计量所 , 福建省计量科学研究院(福建省眼镜质量检验站)
Abstract: 一种薄片关键参数的测量装置及其测量方法，装置包括：框架主体、安装底板、二维中空移动平台、共焦激光位移传感器、夹具组件、安装支架、倾角调整结构组件、控制系统。在共焦激光传感器的上测量头和下测量头之间分别设置一平行玻璃，夹具组件上的被检薄片位于两平行玻璃之间。测量时，调整n次两平行玻璃处于不同的β小角度，读取上测量头和下测量头分别至被检薄片上、下表面的距离数据，折算垂直距离，并分别计算被检薄片的厚度偏差、弯曲度等关键参数。本发明提供一种精度高、操作方便高效、自动化、可批量检测的薄片关键参数测量装置及其测量方法。
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公开(公告)号：CN111336941A
公开(公告)日：2020-06-26
申请号：CN202010269241.1
申请日：2020-04-08
Applicant: 龙岩市计量所
IPC: G01B11/16
Abstract: 本发明公开了一种引伸计自动标定器，包括框架组件、电机组件、滑块组件、夹具组件、凸形安装板、下位机、电源模块、控制器、上位机。框架组件为提供主体框架，电机组件将电机旋转运动转化成直线运动，滑块组件将所述直线运动转化成更加准直直线运动，并实现位移测量、夹持机构、消除螺纹间隙等功能，夹具组件提供无级调距的快速夹具；安装在上位机检定软件通过下位机和控制器控制电机正反运动产生直线位移，并通过光栅尺采集位移数据反馈给上位机实现闭环控制；本发明引伸计自动标定器量程≥50mm，分辨率为0.1μm，能满足标距≤500mm0.5级及以下的引伸计检定，具有智能化、测量范围广、测量精度高、检定效率高、结构紧凑、能满足现场引伸计检定等特点。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110542397A
公开(公告)日：2019-12-06
申请号：CN201910827621.X
申请日：2019-09-03
Applicant: 龙岩市计量所
IPC: G01B21/02
Abstract: 本发明公开了一种线位移传感器综合校准装置，它包括台架、台板、精密滚珠丝杆组件、组合滑台、线位移传感器夹具、激光干涉仪、门框干涉镜安装座、上位机、下位机、伺服控制器和伺服电机；上位机根据被校线位移传感器的类别结合相关校准规范控制精密滚珠丝杆组件直线运动；线位移传感器夹具一端安装具有多维运动的组合滑台上方，另一端根据需要安装在精密滚珠丝杆组件上方的滑块基座上，从而带动被校线位移传感器的直线运动；激光干涉仪实时测量精密滚珠丝杆组件上的滑块位移与被校的线位移传感器位移进行比较形成校准结果。本发明遵循阿贝原则，具有精度高、智能化、效率高、易搬运、便安装、能满足多种结构线位移传感器校准要求等特点。
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公开(公告)号：CN221685458U
公开(公告)日：2024-09-10
申请号：CN202420282805.9
申请日：2024-02-06
Applicant: 龙岩市计量所
IPC: G01B21/02
Abstract: 本实用新型提供一种量块比较仪气流防护装置。所述量块比较仪气流防护装置包括：支撑壳；两个限位杆，两个所述限位杆均固定安装在所述支撑壳上；两个限位板，两个所述限位板分别活动套设在两个所述限位杆上；防护板，所述防护板固定安装在两个所述限位板上，所述防护板为透明亚克力材质；平衡监测组件，所述平衡监测组件设置在所述支撑壳的底部。本实用新型提供的量块比较仪气流防护装置具有可对量块比较仪进行较为全面的防气流保护，同时可以保证量块比较仪平衡度的优点。
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公开(公告)号：CN221859510U
公开(公告)日：2024-10-18
申请号：CN202420516866.7
申请日：2024-03-18
Applicant: 龙岩市计量所
IPC: G01B17/02
Abstract: 本实用新型涉及计量机构的标准块存放技术领域，且公开了一种超声波测厚仪校准用标准块辅助装置，包括主体机构和辅助机构，所述辅助机构位于主体机构的内部，所述主体机构包括存放盒、提手、密码锁；该超声波测厚仪校准用标准块辅助装置，通过对于主体机构的安装，实现了合页用于连接盒盖，便于其打开，存放盒采用尼龙材料制成，盒盖保护内部标准块，防止其出现损坏，湿度监测仪检测存放盒内部的湿度，湿度过大时启动除湿器，散热窗用于为除湿器进行散热，提高了除湿器的使用寿命，排风扇加速散热过程，除湿器用于除湿防潮，橡胶垫起到防滑的作用，提高了该超声波测厚仪校准用标准块辅助装置的除湿防潮能力。
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公开(公告)号：CN217424153U
公开(公告)日：2022-09-13
申请号：CN202221207467.X
申请日：2022-05-19
Applicant: 龙岩市计量所
IPC: G01B3/10
Abstract: 本实用新型公开了一种钢卷尺检定台尺身接长机构，它包括上压板、支柱、固定板、滚花螺母、螺杆、下压板、固定环、接长尺和受检尺；固定板为长条扁形，中间设与螺杆配合的螺纹孔，两端设光孔用于铆压连接两根支柱上端；螺杆上端固定连接圆柱形滚花螺母，下端活动连接上压板；上压板中间大两端小的扁腰形，其两端各设有一个导向孔，用于上压板作上下运动时对立柱导向；支柱设两个，两立柱下底端活动连接下压板并用固定环固定，下压板扁腰形，一端设光孔，另一端设开口腰槽孔，使下压板可绕其中一根支柱旋转，另一根用来限位；接长尺和受检尺叠放在上压板和下压板之间。本实用新型解决了目前因受检钢卷尺尺身不够长而无法实施检定的问题。
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公开(公告)号：CN214470582U
公开(公告)日：2021-10-22
申请号：CN202120549237.0
申请日：2021-03-17
Applicant: 龙岩市计量所
Abstract: 本实用新型公开了一种垂直度测量仪辅助调整装置，它包括L形直角底座、滑轨、滑块、粗调旋钮、锁紧旋钮、微调机构和限位块；L形直角底座上安装着滑轨滑块，在滑块上固定着由连接块、销轴、撬块、压簧、微调旋钮、软毡组成的微调机构，通过滑块上的粗调旋钮可以快速将微调机构接近被检直角尺，旋转微调旋钮能够将被检直角尺调整微量前进，使得垂直度测量仪测头示值快速调整在有效测量范围内；微调机构中撬块粘贴有软毡不易碰伤被检直角尺，同时微调机构设有压簧，反旋微调旋钮后能恢复微调机构。本实用新型结构简单，操作方便，不影响垂直度测量仪的测量精度。
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