公开(公告)号：CN104700886A

公开(公告)日：2015-06-10

申请号：CN201310654610.9

申请日：2013-12-06

Applicant: 飞思卡尔半导体公司

Inventor： 崔璟 ,  章沙雁 ,  赵云午

IPC: G11C11/413

CPC classification number: G06F1/3203 ,  G06F1/3275 ,  G06F3/065 ,  G06F11/07 ,  G06F11/3037 ,  G06F11/3055 ,  G06F11/3058 ,  G11C5/143 ,  G11C5/148 ,  G11C7/1063 ,  G11C7/20 ,  H03K3/0315 ,  H03L7/00 ,  Y02D10/13 ,  Y02D10/14 ,  G11C5/14

Abstract: 用于数据处理器的电源控制电路用相应于存储器性能等级的供电电压供应存储器阵列。所述性能等级包括完全性能等级进而省电性能等级。电压传感电路传感所述存储器阵列的电压等级并且输出电源状态信号。所述电源状态信号用于确定当所述存储器阵列是苏醒时，能够被访问。

公开(公告)号：CN105575438A

公开(公告)日：2016-05-11

申请号：CN201410546844.6

申请日：2014-10-16

Applicant: 飞思卡尔半导体公司

Inventor： 赵云午 ,  王浩

IPC: G11C29/12

Abstract: 本发明涉及用于测试存储器的方法及装置。在一种集成电路中，第一触发器扫描链被载入用于测试触发器的数据保持的数据，并且存储器被载入用于由存储器内建自测试(MBIST)包装器电路执行保持测试的数据。在数据被从存储器内读取之前，系统的一部分被置于低功率状态中达预定的时间段，并且处于低功率状态下的存储器的数据保持力被确定。