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公开(公告)号：CN106291313A
公开(公告)日：2017-01-04
申请号：CN201510445432.8
申请日：2015-06-10
Applicant: 飞思卡尔半导体公司
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G11C29/40 , G01R31/318597 , G11C29/32 , G11C29/44
Abstract: 本发明涉及用于测试集成电路的方法和设备。一种集成电路(IC)，具有用于存储数据的存储器，并且还具有连接到存储器用来测试存储器的操作的存储器内置自测试(MBIST)单元。测试接口提供测试数据。IC的触发器连接在一起成为至少一个串行扫描链。测试接口单元接收包括MBIST配置数据的测试数据。MBIST单元，在第一测试模式中，基于MBIST配置数据与采用扫描链的扫描测试至少部分并行地测试存储器。因此，存储器和逻辑电路能并行地被测试。
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