亚阈值CMOS温度检测器
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101943613B

    公开(公告)日:2014-07-23

    申请号:CN200910142600.0

    申请日:2009-07-03

    CPC classification number: G01K7/01 G01K3/005

    Abstract: 本发明提供一种亚阈值CMOS温度检测器。CMOS温度检测电路包括用于生成启动电压(VN)的启动电路,以及耦合至该启动电路用于生成PTAT电流的与绝对温度成比例(PTAT)电流发生器。该启动电压导通PTAT电流发生器,并且PTAT电流发生器利用CMOS的亚阈值特性来生成PTAT电流。耦合至PTAT电流发生器的PTAT电压发生器接收PTAT电流,并且生成PTAT电压,以及反向PTAT电压(VBE)。耦合至该电压发生器的比较器电路将该反向PTAT电压与利用生成的PTAT电压来定义的第一和第二报警界限相比较,并且基于该比较结果,生成报警信号。

    亚阈值CMOS温度检测器
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101943613A

    公开(公告)日:2011-01-12

    申请号:CN200910142600.0

    申请日:2009-07-03

    CPC classification number: G01K7/01 G01K3/005

    Abstract: 本发明提供一种亚阈值CMOS温度检测器。CMOS温度检测电路包括用于生成启动电压(VN)的启动电路,以及耦合至该启动电路用于生成PTAT电流的与绝对温度成比例(PTAT)电流发生器。该启动电压导通PTAT电流发生器,并且PTAT电流发生器利用CMOS的亚阈值特性来生成PTAT电流。耦合至PTAT电流发生器的PTAT电压发生器接收PTAT电流,并且生成PTAT电压,以及反向PTAT电压(VBE)。耦合至该电压发生器的比较器电路将该反向PTAT电压与利用生成的PTAT电压来定义的第一和第二报警界限相比较,并且基于该比较结果,生成报警信号。

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