导体护套和用于制造其的方法

    公开(公告)号:CN110050026B

    公开(公告)日:2022-05-31

    申请号:CN201780074667.8

    申请日:2017-12-18

    Abstract: 本公开提供一种方法。在一个实施例中,所述方法包括将具有55至85的I21/I2比率的宽分子量分布(MWD)的基于乙烯的聚合物与具有20至50的I21/I2比率的窄MWD的基于乙烯的聚合物共混。所述方法包括形成共混物组分,其包含20重量%至45重量%的所述宽MWD的基于乙烯的聚合物,80重量%至55重量%的所述窄MWD的基于乙烯的聚合物和任选的炭黑。所述共混物组分具有0.925g/cc至0.955g/cc的密度和30至55的I21/I2比率。所述方法包括将所述共混物组分以大于1.02m/s的速率在导体上挤出,以及形成具有30微英寸至80微英寸的表面光滑度的导体护套。

    导体护套和用于制造其的方法

    公开(公告)号:CN110050026A

    公开(公告)日:2019-07-23

    申请号:CN201780074667.8

    申请日:2017-12-18

    Abstract: 本公开提供一种方法。在一个实施例中,所述方法包括将具有55至85的I21/I2比率的宽分子量分布(MWD)的基于乙烯的聚合物与具有20至50的I21/I2比率的窄MWD的基于乙烯的聚合物共混。所述方法包括形成共混物组分,其包含20重量%至45重量%的所述宽MWD的基于乙烯的聚合物,80重量%至55重量%的所述窄MWD的基于乙烯的聚合物和任选的炭黑。所述共混物组分具有0.925g/cc至0.955g/cc的密度和30至55的I21/I2比率。所述方法包括将所述共混物组分以大于1.02m/s的速率在导体上挤出,以及形成具有30微英寸至80微英寸的表面光滑度的导体护套。

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