公开(公告)号：CN116389072A

公开(公告)日：2023-07-04

申请号：CN202310243965.2

申请日：2023-03-14

Applicant: 长沙理工大学

Inventor： 钟晴峰 ,  王伟征 ,  龚星星

IPC: H04L9/40 ,  G06F21/72

Abstract: 本发明公开了一种轻量级重用扫描链自身数据保护芯片的安全测试方案。该安全测试方案利用扫描链本身存储密钥，即选择扫描链前端的部分扫描单元作为密钥存储单元，这些被选择为密钥存储单元的Q输出或输出会被传输到多输入或门实现身份验证。如果用户不能再测试开始时加载正确的测试授权码，那么扫描链的输出将会出现动态混淆，如果输入正确的测试授权码，扫描操作便能正常的进行。本发明通过增加很少的硬件逻辑，在保证电路可测试性的前提下，能够抵御各种潜在的基于扫描的侧信道攻击。

公开(公告)号：CN116155590A

公开(公告)日：2023-05-23

申请号：CN202310142565.2

申请日：2023-02-21

Applicant: 长沙理工大学

Inventor： 钟晴峰 ,  王伟征 ,  龚星星

IPC: H04L9/40

Abstract: 本发明专利提出一种高安全性低开销的可测试性设计结构；此安全扫描设计结构是在常规扫描链的基础上引入了多重保护逻辑，其中包括测试验证逻辑、扫描混淆、输出限制逻辑和循环移位；测试验证逻辑用于限制非法入侵者在测试模式下输入测试激励；扫描混淆作用于扫描中，由密钥输入来控制是否混淆扫描数据；输出限制逻辑可以灵活的控制扫描输出的可观测性。循环移位用于扫描链中的循环移位，以此来增加非法测试的数据混淆；本发明通过增加较少的硬件逻辑，在保证电路可测试性和不影响功能模式的前提下，能够抵御所有潜在的基于扫描的侧信道攻击。