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发明公开
基于等角度扫描的回转窑表面各测温点定位方法无效

公开(公告)号：CN109539780A

公开(公告)日：2019-03-29

申请号：CN201811445415.4

申请日：2018-11-29

Applicant: 重庆邮电大学

Inventor： 代少升 , 谭伟 , 聂合文 , 舒倩 , 胡昂 , 陈雅枚 , 杨雨

IPC: F27B7/42 , G01J5/00

Abstract: 本发明请求保护一种基于等角度扫描的回转窑表面各测温点定位方法，属于信号处理领域。本发明针对回转窑测温过程中等间隔定位方法存在的误差大，在结合回转窑生产现场的实际工况条件下，提出了一种基于等角度扫描技术的回转窑表面各测温点的定位方法，该方法首先根据回转窑尺寸计算出对应的测温开始角度、终止角度以及扫描长度等参数；然后利用等角度扫描计算出各个扫描点对应的位置间隔距离；最后利用各间隔距离求得对应测温点的位置，这样能够有效提高红外扫描测温系统的位置定位精度，减小定位误差。本方法的测温点定位精度高，与回转窑表面的实际位置吻合程度高，具有应用和推广价值。

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