被控对象频域性能的获取方法及装置

    公开(公告)号:CN104483829B

    公开(公告)日:2017-06-09

    申请号:CN201410849192.3

    申请日:2014-12-31

    Abstract: 本发明提供一种被控对象频域性能的获取方法和装置,该方法包括:a)确定被控对象的传递函数结构;b)对于所确定的被控对象,构造相应的神经网络;c)采集所述被控对象的多个数据样本;d)将所采集到的数据样本输入神经网络中,对该神经网络进行训练;e)获取该被控对象的相角裕量和剪切频率。使用该方法和装置获取被控对象频域性能时,只需用户输入被控对象的结构参数,就可迅速计算出该被控对象的频域性能参数,从而大大简化了获取被控对象频域性能参数的过程,因此,可以缩短控制器的设计时间。

    滞后超前校正器结构参数的获取方法及装置

    公开(公告)号:CN104714408B

    公开(公告)日:2017-04-05

    申请号:CN201410849162.2

    申请日:2014-12-31

    Abstract: 本发明提供一种滞后超前校正器结构参数的获取方法和装置,该方法包括:a)确定自动控制系统被控对象和滞后超前校正器的传递函数结构、以及系统期望的频域特性;b)对于所确定的系统传递函数结构和期望的频域特性,构造相应的神经网络;c)采集所述系统的多个数据样本;d)将所采集到的数据样本输入神经网络中,对该神经网络进行训练;e)获取该校正器的结构参数。使得使用该方法和装置获取滞后超前校正器的结构参数时,只需用户输入系统被控对象的结构参数K、α、β和引入滞后超前校正器后系统期望的频域性能参数γ、ω,就可迅速计算出该校正器的结构参数,从而大大简化了滞后超前校正器结构参数的获取过程,因此,可以缩短滞后超前校正器的设计时间。

    被控对象频域性能的获取方法及装置

    公开(公告)号:CN104483829A

    公开(公告)日:2015-04-01

    申请号:CN201410849192.3

    申请日:2014-12-31

    Abstract: 本发明提供一种被控对象频域性能的获取方法和装置,该方法包括:a)确定被控对象的传递函数结构;b)对于所确定的被控对象,构造相应的神经网络;c)采集所述被控对象的多个数据样本;d)将所采集到的数据样本输入神经网络中,对该神经网络进行训练;e)获取该被控对象的相角裕量和剪切频率。使用该方法和装置获取被控对象频域性能时,只需用户输入被控对象的结构参数,就可迅速计算出该被控对象的频域性能参数,从而大大简化了获取被控对象频域性能参数的过程,因此,可以缩短控制器的设计时间。

    滞后校正器结构参数的获取方法及装置

    公开(公告)号:CN104714409B

    公开(公告)日:2017-07-11

    申请号:CN201410849174.5

    申请日:2014-12-31

    Abstract: 本发明提供一种滞后校正器结构参数的获取方法和装置,该方法包括:a)确定自动控制系统被控对象和滞后校正器的传递函数结构、以及系统期望的频域特性;b)对于所确定的系统传递函数结构和期望的频域特性,构造相应的神经网络;c)采集所述系统的多个数据样本;d)将所采集到的数据样本输入神经网络中,对该神经网络进行训练;e)获取该滞后校正器的结构参数。使得使用该方法和装置获取滞后校正器的结构参数时,只需用户输入系统被控对象的结构参数K、α、β和引入滞后校正器后系统期望的频域性能参数γ、ω,就可迅速计算出该滞后校正器的结构参数,从而大大简化了滞后校正器结构参数的获取过程,因此,可以缩短滞后校正器的设计时间。

    滞后超前校正器结构参数的获取方法及装置

    公开(公告)号:CN104714408A

    公开(公告)日:2015-06-17

    申请号:CN201410849162.2

    申请日:2014-12-31

    Abstract: 本发明提供一种滞后超前校正器结构参数的获取方法和装置,该方法包括:a)确定自动控制系统被控对象和滞后超前校正器的传递函数结构、以及系统期望的频域特性;b)对于所确定的系统传递函数结构和期望的频域特性,构造相应的神经网络;c)采集所述系统的多个数据样本;d)将所采集到的数据样本输入神经网络中,对该神经网络进行训练;e)获取该校正器的结构参数。使得使用该方法和装置获取滞后超前校正器的结构参数时,只需用户输入系统被控对象的结构参数K、α、β和引入滞后超前校正器后系统期望的频域性能参数γ、ω,就可迅速计算出该校正器的结构参数,从而大大简化了滞后超前校正器结构参数的获取过程,因此,可以缩短滞后超前校正器的设计时间。

    超前校正器结构参数的获取方法及装置

    公开(公告)号:CN104635725A

    公开(公告)日:2015-05-20

    申请号:CN201410848378.7

    申请日:2014-12-31

    CPC classification number: G05B23/0297

    Abstract: 本发明提供一种超前校正器结构参数的获取方法和装置,该方法包括:a)确定自动控制系统被控对象和超前校正器的传递函数结构、以及系统期望的频域特性;b)对于所确定的系统传递函数结构和期望的频域特性,构造相应的神经网络;c)采集所述系统的多个数据样本;d)将所采集到的数据样本输入神经网络中,对该神经网络进行训练;e)获取该超前校正器的结构参数。使得使用该方法和装置获取超前校正器的结构参数时,只需用户输入系统被控对象的结构参数K、α、β和引入超前校正器后系统期望的频域性能参数γ、ω,就可迅速计算出该超前校正器的结构参数,从而大大简化了超前校正器结构参数的获取过程,因此,可以缩短超前校正器的设计时间。

    超前校正器结构参数的获取方法及装置

    公开(公告)号:CN104635725B

    公开(公告)日:2017-05-17

    申请号:CN201410848378.7

    申请日:2014-12-31

    Abstract: 本发明提供一种超前校正器结构参数的获取方法和装置,该方法包括:a)确定自动控制系统被控对象和超前校正器的传递函数结构、以及系统期望的频域特性;b)对于所确定的系统传递函数结构和期望的频域特性,构造相应的神经网络;c)采集所述系统的多个数据样本;d)将所采集到的数据样本输入神经网络中,对该神经网络进行训练;e)获取该超前校正器的结构参数。使得使用该方法和装置获取超前校正器的结构参数时,只需用户输入系统被控对象的结构参数K、α、β和引入超前校正器后系统期望的频域性能参数γ、ω,就可迅速计算出该超前校正器的结构参数,从而大大简化了超前校正器结构参数的获取过程,因此,可以缩短超前校正器的设计时间。

    滞后校正器结构参数的获取方法及装置

    公开(公告)号:CN104714409A

    公开(公告)日:2015-06-17

    申请号:CN201410849174.5

    申请日:2014-12-31

    Abstract: 本发明提供一种滞后校正器结构参数的获取方法和装置,该方法包括:a)确定自动控制系统被控对象和滞后校正器的传递函数结构、以及系统期望的频域特性;b)对于所确定的系统传递函数结构和期望的频域特性,构造相应的神经网络;c)采集所述系统的多个数据样本;d)将所采集到的数据样本输入神经网络中,对该神经网络进行训练;e)获取该滞后校正器的结构参数。使得使用该方法和装置获取滞后校正器的结构参数时,只需用户输入系统被控对象的结构参数K、α、β和引入滞后校正器后系统期望的频域性能参数γ、ω,就可迅速计算出该滞后校正器的结构参数,从而大大简化了滞后校正器结构参数的获取过程,因此,可以缩短滞后校正器的设计时间。

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