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公开(公告)号：CN102999693A
公开(公告)日：2013-03-27
申请号：CN201210386005.3
申请日：2012-10-12
Applicant: 重庆大学
Abstract: 本发明公开了一种基于252Cf源驱动的核部件材料特征预判别方法。主要包括针对核部件材料厚度和材质信息，利用时域相关模型和信号处理方法进行预判别工作。时域相关模型及信号处理方法包括三个主要方面：利用源-探测器间时域相关函数中子峰出现位置进行未知核部件材料厚度判读；对中子峰上升沿及下降沿进行分析，提出中子峰占比法，并以其剔除非核材料的干扰并初步判断核部件的材质；利用源-探测器间时域相关函数γ峰计数值，明确未知核部件的材质并对判断结果加强。本方法因前所未有的非核材料剔除能力以及针对核部件材质和厚度特征的判读能力，取得了较好的核部件材料特征预判别效果。
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公开(公告)号：CN101713830B
公开(公告)日：2011-11-09
申请号：CN200910191492.6
申请日：2009-11-17
Applicant: 重庆大学
IPC: G01T3/00
Abstract: 本发明公开了一种瞬发中子衰减常数的综合在线测定方法。主要包括以下阶段：1)对中子脉冲进行采集，得到中子源与被中子源激发的探测体所产生的中子脉冲的时间分布；2)将采集后的数据包按给定长度进行分块，计算每一块中子信号的相关函数及功率谱密度；3)对相关函数利用相关拟合法计算瞬发中子衰减常数、对功率谱密度按转折频率法计算瞬发中子衰减常数；4)对上述两种不同方法计算的结果做综合处理，给出最终测定结果。该方法可以同时在时域与频域对瞬发中子衰减常数进行估计，并与测量同步，随测量的进行精度逐步提高，最终实现在线测定的目的。
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公开(公告)号：CN101533045A
公开(公告)日：2009-09-16
申请号：CN200810237026.2
申请日：2008-12-31
Applicant: 重庆大学
Abstract: 本发明涉及一种中子脉冲序列的频谱分析方法，包括以下步骤：(1)对中子脉冲数据进行采集，得到中子源以及被中子源激发的被探测体产生的中子探测计数的时间分布；(2)对采集后的数据包按一定的长度进行分块，得到各块中的中子脉冲原序列；各数据块之间连续无间隔；(3)对各数据块的数据进行相关计算，得到各数据块或块间的相关序列；(4)对各块或块间的相关序列进行进一步计算得到功率谱；其特征是：所述步骤(3)中对各块数据进行相关计算时使用快速偏移的方法。这种频谱分析方法利用可实时计算的快速偏移相关算法以及功率谱计算步骤的优化，使得该方法能实现中子脉冲序列的实时频谱分析。
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公开(公告)号：CN101504431A
公开(公告)日：2009-08-12
申请号：CN200910103218.9
申请日：2009-02-20
Applicant: 重庆大学
IPC: G01R29/02
Abstract: 本发明涉及一种基于超高速数据采集卡的随机脉冲时间序列的纳秒级检测系统，本发明涉及计算机应用技术、数据采集与处理技术，尤其涉及随机脉冲时间序列的检测与处理技术。本系统基于1GS/s超高速A/D转换单元和FPGA高速处理单元进行数据采集和在线检测，能够快速而精确地检测快逻辑窄脉冲序列中的脉冲时间。脉冲时间的检测通过载于FPGA的特别设计的PeakTDC滞回峰值检测算法，以脉冲峰值位置标定脉冲时间，时间精度为1ns。系统可以获得对快反应随机事件在有限个时间仓轴上的纳秒级随机脉冲序列的TDC时间数据转换。系统对于多通道脉冲信号的检测是在线、高速、大容量、高度同步地进行。
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公开(公告)号：CN101419291A
公开(公告)日：2009-04-29
申请号：CN200810232988.9
申请日：2008-11-03
Applicant: 重庆大学
IPC: G01T3/00
Abstract: 本发明请求保护一种基于超高速数据采集卡的多适性核信号处理系统，涉及信号检测与处理技术。本系统基于同一块数据采集卡构造出一种基于PC平台的核信号处理与分析系统，对于不同形式的来源信号采用不同的采集方式和记录方式。当输出到通道的中子信号的数据流为脉冲形式时，采集按时间－数据转换TDC方式记录信号；当输出到通道的中子信号的数据流为连续形式时，采集按模拟/数字转换ADC方式记录信号。本系统能够同时适用于多种形式核信号源，能同时满足高频脉冲、低频脉冲和高频连续、低频连续信号形式的核信号高速采集、高速存储、高速处理分析要求。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104361618B
公开(公告)日：2017-12-01
申请号：CN201410672269.4
申请日：2014-11-20
Applicant: 重庆大学
Abstract: 一种基于分形和压缩感知的CT重建方，包括步骤：(1)已知CT投影数据b和相应的投影角度θ，初始化参数β、λ、λn，CT图像u＝0；(2)根据投影角度θ，计算出相应的投影矩阵A；(3)使用式(5)计算CT图像uART；(4)对uART进行分形编码处理得到Φ(u)，使用式(12)得到α；(5)对Φ(u)做解码处理得到ΦT(u)；6)分别求解ΦT(u)Φ(u)、ΦT(u)α、ATA、ATb；(7)使用共轭梯度法求解式(15)，得到CT图像8)检查是否满足迭代结束的条件，是转至步骤(9)，否则步骤(3)；(9)结束，输出CT图像方法使用分形作为稀疏变换以获得更稀疏的系数表示，使用迭代连续迭代算法进行求解，实现在少投影的情况下重建出高质量的CT图像。
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公开(公告)号：CN103825621B
公开(公告)日：2017-02-08
申请号：CN201410058106.7
申请日：2014-02-20
Applicant: 重庆大学
IPC: H03M7/30
Abstract: 本发明公开了一种有效的“0，1”稀疏信号的压缩感知重构方法，主要包括稀疏均匀的观测矩阵的构建和基于二分图的迭代重构令部分。该方法巧妙引入图论中的二分图模型，紧密结合二分图的最小覆盖性质，适当添加约束条件，构建了稀疏、均匀且最小覆盖的观测矩阵。基于二分图的迭代重构算法是充分利用“0，1”稀疏信号的特殊结构，通过迭代方法，删除二分图连接线Φij并更新观测值y，最终实现原始信号重构的方法。本方法将图论中的二分图模型引入压缩感知采样和重构中，相比l1范数最小化方法，不存在重构误差，可应用于中子脉冲序列、地震信号、无线传感网络和二进制图像等的压缩采样。
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公开(公告)号：CN104528508A
公开(公告)日：2015-04-22
申请号：CN201410654613.7
申请日：2014-11-14
Applicant: 重庆大学
CPC classification number: B66B27/00 , B66B25/006 , B66B2201/00
Abstract: 本发明涉及一种基于光电检测器件的非接触式自动扶梯多参数测量方法，属于光学测量技术领域，包括以下步骤：1)开启光源，照亮自动扶梯；2)自动扶梯反射光线传送到光电检测器件上，扶梯的移动轨迹便会被记录为一组高速拍摄的连贯图像；输出图像信号，送入A/D转换模块进行转换；3)把转换结果送入图像处理模块进行处理，将此影像信号与存储的上一采样周期的影像进行比较；4)如果采样点在先后两个影像中的位置有移动，就将纵、横两个方向的位移信号发送到单片机系统，以判断被测物移动的方向以及位移；否则继续进行下一周期采样；5)将判断结果传送至监控终端，实现对扶梯的实时监测和控制。采用本方法进行测量，不与被测对象直接接触，在测量中不存在摩擦和对被测对象施加压力的问题，不会因磨损产生误差，能够实现被测物体的动态测量。
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公开(公告)号：CN102798602A
公开(公告)日：2012-11-28
申请号：CN201210286185.8
申请日：2012-08-13
Applicant: 重庆大学
IPC: G01N21/33
Abstract: 本发明提供一体化双光束水质COD在线检测传感器，所述传感器本体上设有UVLED阵列、测量光室、参考光室和检测光路；所述UVLED阵列由偶数个对称排列的LED灯组成，由驱动装置驱动；UVLED阵列与检测光路中心处于一条直线上；所述测量光室为在传感器本体的中部开设的矩形凹槽，沿传感器本体轴向的凹槽两侧壁上设有在同一直线上的准直镜和出射聚光镜；参考光室与所述传感器本体上设有第二UVLED阵列和第二检测光路中心处于一条直线上。本发明采用了LED阵列作为传感器的光源，使得传感器结构大大简化；大大减小了传感器的体积和重量，采用了测量光室和参考光室组提高了水质检测的精度；该传感器是浸入式一体化传感器使其能够对水质的在线检测，使测量更加方便化。
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公开(公告)号：CN104528508B
公开(公告)日：2017-09-15
申请号：CN201410654613.7
申请日：2014-11-14
Applicant: 重庆大学
Abstract: 本发明涉及一种基于光电检测器件的非接触式自动扶梯多参数测量方法，属于光学测量技术领域，包括以下步骤：1)开启光源，照亮自动扶梯；2)自动扶梯反射光线传送到光电检测器件上，扶梯的移动轨迹便会被记录为一组高速拍摄的连贯图像；输出图像信号，送入A/D转换模块进行转换；3)把转换结果送入图像处理模块进行处理，将此影像信号与存储的上一采样周期的影像进行比较；4)如果采样点在先后两个影像中的位置有移动，就将纵、横两个方向的位移信号发送到单片机系统，以判断被测物移动的方向以及位移；否则继续进行下一周期采样；5)将判断结果传送至监控终端，实现对扶梯的实时监测和控制。采用本方法进行测量，不与被测对象直接接触，在测量中不存在摩擦和对被测对象施加压力的问题，不会因磨损产生误差，能够实现被测物体的动态测量。
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