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公开(公告)号:CN106524948A
公开(公告)日:2017-03-22
申请号:CN201611227330.X
申请日:2016-12-27
Applicant: 重庆大学
IPC: G01B11/26
CPC classification number: G01B11/26
Abstract: 本发明公开了一种UO2芯块垂直度检测系统及其检测方法,其中,检测系统包括上位机和检测装置,所述检测装置包括底座,在底座上设有一导轨,在导轨上设有一滑台,在导轨的一端安装有一步进电机,在滑台上侧面设有一芯块定位装置;在导轨两侧设有线式激光扫描器;所述上位机与步进电机和两线式激光扫描器相连;其检测方法包括如下步骤:1)将待测UO2芯块放置于芯块定位装置上;2)通过两线式激光扫描器同步对待测UO2芯块的端面进行扫描检测;3)上位机通过数据处理系统进行数据处理,得到待测UO2芯块的垂直度。本发明能够快速对UO2芯块进行检测,并且同时对多个UO2芯块进行检测,从而大大提高UO2芯块的检测效率。
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公开(公告)号:CN106524948B
公开(公告)日:2018-06-19
申请号:CN201611227330.X
申请日:2016-12-27
Applicant: 重庆大学
IPC: G01B11/26
Abstract: 本发明公开了一种UO2芯块垂直度检测系统及其检测方法,其中,检测系统包括上位机和检测装置,所述检测装置包括底座,在底座上设有一导轨,在导轨上设有一滑台,在导轨的一端安装有一步进电机,在滑台上侧面设有一芯块定位装置;在导轨两侧设有线式激光扫描器;所述上位机与步进电机和两线式激光扫描器相连;其检测方法包括如下步骤:1)将待测UO2芯块放置于芯块定位装置上;2)通过两线式激光扫描器同步对待测UO2芯块的端面进行扫描检测;3)上位机通过数据处理系统进行数据处理,得到待测UO2芯块的垂直度。本发明能够快速对UO2芯块进行检测,并且同时对多个UO2芯块进行检测,从而大大提高UO2芯块的检测效率。
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公开(公告)号:CN206269763U
公开(公告)日:2017-06-20
申请号:CN201621446384.0
申请日:2016-12-27
Applicant: 重庆大学
IPC: G01B11/26
Abstract: 本实用新型公开了一种UO2芯块垂直度检测系统,包括上位机和检测装置,所述检测装置包括底座,在底座上设有一导轨,在导轨上设有一滑台,在导轨的一端安装有一步进电机,在滑台上侧面设有一芯块定位装置;在导轨两侧设有线式激光扫描器;所述上位机与步进电机和两线式激光扫描器相连。本实用新型能够快速对UO2芯块进行检测,并且同时对多个UO2芯块进行检测,从而大大提高UO2芯块的检测效率。
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