公开(公告)号：CN112858362A

公开(公告)日：2021-05-28

申请号：CN202110023510.0

申请日：2021-01-08

Applicant: 重庆大学

Inventor： 邓超 ,  文婷婷 ,  洪睿 ,  杨帅 ,  周仕远 ,  刘施峰

IPC: G01N23/2251 ,  G01N23/2202 ,  G01N1/32

Abstract: 本发明公开了一种用于电镜观察的微米级球形颗粒截面的制备方法，包括如下步骤：(1)将导电胶带粘贴于导电金属基体上；(2)取微米级球形颗粒粉末平铺粘在导电胶带上，并吹走多余粉末；(3)将粘有粉末的导电金属基体置于离子束抛光机内进行抛光，采用平面抛光模式，抛光角度为0～2°，抛光电压和时间为5～8kV 5～40min+3～5kV 5～20min+0.5～2kV 5～20min，即可获得满足扫描电镜观察的颗粒截面。本发明不需要包埋处理，不用消耗额外的制样耗材；时间短，成本低，操作性强；耗时仅为截面抛光模式的十分之一，抛光效率高；获得的样品有效面积大，用于扫描电镜观察的可选择区域多。

公开(公告)号：CN112858362B

公开(公告)日：2022-05-27

申请号：CN202110023510.0

申请日：2021-01-08

Applicant: 重庆大学

Inventor： 邓超 ,  文婷婷 ,  洪睿 ,  杨帅 ,  周仕远 ,  刘施峰

IPC: G01N23/2251 ,  G01N23/2202 ,  G01N1/32

Abstract: 本发明公开了一种用于电镜观察的微米级球形颗粒截面的制备方法，包括如下步骤：(1)将导电胶带粘贴于导电金属基体上；(2)取微米级球形颗粒粉末平铺粘在导电胶带上，并吹走多余粉末；(3)将粘有粉末的导电金属基体置于离子束抛光机内进行抛光，采用平面抛光模式，抛光角度为0～2°，抛光电压和时间为5～8kV 5～40min+3～5kV 5～20min+0.5～2kV 5～20min，即可获得满足扫描电镜观察的颗粒截面。本发明不需要包埋处理，不用消耗额外的制样耗材；时间短，成本低，操作性强；耗时仅为截面抛光模式的十分之一，抛光效率高；获得的样品有效面积大，用于扫描电镜观察的可选择区域多。