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公开(公告)号：CN103530849A
公开(公告)日：2014-01-22
申请号：CN201310461840.3
申请日：2013-09-30
Applicant: 重庆大学
Abstract: 本发明公开了一种优化的K-edge成像方法，本方法在K-edge前后两个X射线能量段进行成像以提高已知材料成像对比度。K-edge前后两个X射线能量段的宽度决定了两个能谱CT图像的对比度和噪声水平，针对如何设置K-edge前后两个X射线能量段的宽度问题，本发明引入信号差异噪声比（Signal Difference to Noise Ratio,SDNR）作为最优化准则，在这个最优化准则的约束下，选取了最优的X射线能量段的宽度，然后进行K-edge成像。这种成像方法，能够在保证两个重建能谱CT图像感兴趣区域噪声最小化的同时，可以获得最大的对比度差异，从而达到提高已知材料成像对比度的目的。可以用于生物医学CT成像领域。
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